基于BSDL和Protel网表的BST向量生成软件

分析电路的Protel设计文档中网表文件描述的器件电气连接信息和所采用器件的BSDL文件所描述的边界扫描特性,然后生成逻辑测试向量,再进一步根据网络中驱动与响应点来影射到扫描过程中的测试数据,实现电路中stack-at-1、stack-at-1、短路和开路等故障.     

基于边界扫描的混合电路系统机内测试研究

当今电子系统多由模数混合电路组成,随着电子技术的飞速发展,混合电路系统的集成度不断增加,其检测问题一直是测试领域的一个难点;针对混合电路系统的测试特点,以IEEE1149.4标准为研究基础,对某系统控制盒电路进行基于边界扫描的BIT(Builit-in Test机内测试)测试性设计和改造,并将改进后的被测系统进行测试性验证;实验结果表明,该电路系统通过74BCT8373与STA400边界扫描芯片的置换和置人,能够实现混合电路的互连测试与参数测试,且测量迅速,故障定位准确,可以有效提高电路系统的测试性.     

基于边界扫描的电路板快速测试系统设计

本文设计了一套基于边界扫描的电路板快速测试系统,该系统利用计算机并行端口,通过适配器发送、接收测试向量,然后对采集数据进行分析,显示测试结果.本文主要介绍了该系统的硬件结构、软件思想和诊断策略.经实验,该系统能够为维修人员提供有力的支持.     

基于FPGA的电路板自动测试技术研究

军用电子装备中含FPGA器件的电路板的测试诊断一般采用边界扫描技术、Ⅵ曲线测试技术以及边界扫描和外部输入矢量相结合的方法;边界扫描技术无法进行外围器件的测试;Ⅵ曲线测试技术由于不能测试器件的逻辑功能及内部节点,故障覆盖率相对不高;边界扫描和外部输入矢量相结合的方法无法判断FPGA器件工作是否正常,因而不能完成整板功能的测试;综合应用ATE技术、VITAL标准和LASAR仿真技术,提出一种含FPGA器件电路板的自动测试思路,解决含FPGA器件电路板的自动测试问题.     

边界扫描在数模混合电路板级测试中的设计与应用

针对飞控系统某数模混合电路板测试需求,在不利用外部信号源、信号采集设备的条件下,利用边界扫描技术进行测试系统设计。介绍了PCI-410边界扫描核心套件和ScanWorks测试软件,对边界扫描测试方法进行研究,详细说明了测试系统方案设计、测试流程开发步骤以及测试程序执行方式,并通过实际测试,验证了设计的可行性,为数字电路板和简单的数模混合电路板的测试提供了实用的测试方法和手段,具有很好的应用价值。     

混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置

由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在,析台由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题。为减少其测试时间,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术,提出了一种多边界扫描链优化配置技术,经实例验证表明,该技术可以有效地减少混合技术电路板族测试时间,提高测试效率。     

基于边界扫描的电路板测试性优化设计

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。     

编译器技术在边界扫描中的应用研究

根据研究对象BSDL文件以及Protel网表文件自身结构特点,运用flex与bison实现词法分析、语法分析及信息储存等阶段,构成一种优秀编译器,对目标文件进行全面、快速、准确地解析;预编译阶段采用正则表达式,将目标文件的信息提取、划分,存入逻辑关系清晰具有层次属性的关系型数据库,节省再次编译时间,有效提高应用效率;测试结果表明,该编译器不但可以准确、全面、快速提取编译信息,而且具有设计简单精巧、容易维护、功能强大等优点。     

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性.     

基于51单片机的边界扫描控制器的设计与实现

为提高现代军事装备的故障检测能力,运用VC++软件编辑控制界面,设计并制作了一种基于51系列单片机的边界扫描控制器;该控制器由USB转串口电路和单片机构成,结构简单、通用性强且成本低廉;将PC机发送的测试指令或数据进行USB与JTAG协议转换,产生符合IEEE1149.1标准的JTAG总线信号;以EPM7128芯片为测试对象,注入JTAG信号并采集测试响应,实现了对基于测试芯片硬件电路的故障检测;测试结果表明:设计的边界扫描控制器可实现对单芯片和芯片级联的边界扫描状态的控制,能避开可编程芯片的内部逻辑程序控制,完成对可编程芯片及其外围电路的故障检测。     

基于边界扫描的混合信号电路可测性结构设计

在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,设计并实现了符合标准的混合信号电路边界扫描可测性结构各组成部分,包括测试访问口控制器、数字边界扫描单元、模拟边界扫描单元、测试总线接口电路及测试寄存器;构建验证电路进行了测试验证。测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。     

基于测点必要度的模拟电路测点优选方法

针对模拟电路的测点选择问题,根据测点的必要程度,提出了“测点必要度”的概念,同时结合“故障隔离度”的概念,建立了新的测点优选方法,给出了新算法的详细计算过程和应用实例．实验分析结果表明,新算法的计算效果优于熵算法和基于故障隔离度的测点选择算法,可用于复杂模拟电路的测点选择．     

"板级电路诊断平台"中TPS开发与执行功能的设计与实现

通过对VXI即插即用规范(VPP)和可互换性虚拟仪器规范(IVI)的研究,介绍了在“板级电路诊断平台”中基于VXI仪器的测试程序集(TPS)开发与执行的软件结构,提出了一种动态执行VXI仪器驱动函数的方案,从而达到了在开发平台中控制测试仪器的目的。该方案成功地实现了对VXI仪器的控制,为平台提供了加载激励和采集响应数据的功能。     

基于SOPC的边界扫描测试控制器IP核设计

在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产生符合IEEE1149.1标准的测试信号控制被测边界扫描系统,进行各种边界扫描测试;该IP核的成功设计,为基于边界扫描的电子系统机内自测试系统的实现,奠定了坚实的应用基础。     

基于多频测试和神经网络的模拟电路故障诊断

多频测试使模拟电路响应的故障状态和正常状态差异最大化,而神经网络具有解决复杂分类问题的能力。结合两者优点,提出一种基于多频测试和神经网络的故障诊断方法:通过灵敏度分析指导多频测试矢量生成,选择最优测试激励;提取各测试节点响应的故障信息,利用神经网络对各种状态下的特征向量进行分类决策,实现对故障元件的检测和定位。实验结果表明,该方法对模拟电路故障诊断非常有效,具有很强的实用性。     

基于构件的并行测试系统TPS设计与实现

并行测试系统的测试程序集（TPS）目前尚无成熟实用的开发方法。分析了多线程并行测试系统的体系结构,给出了其TPS的用例模型。在此基础上,按分层设计的原则,建立了基于构件的层次式框架。最后设计实现了基于COM接口的支持并发操作的功能构件。该开发方法为并行测试系统TPS的快速开发打下了良好的应用基础。     

基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究

集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用;文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。     

基于数模混合的真随机数发生器

提出了一种数模混合的真随机数发生器设计方案,利用RC电路充放电时间的不稳定性作为随机噪声源,并采用8个噪声源模块并行工作.8个噪声源模块产生的16比特随机数经由模加、异或、移位和反馈组成的算法处理后输出8比特分布均匀、相互独立的随机数,同时为了方便外部应用,设计了串并行输出单元.将整个真随机数发生器在Spectre模拟器下进行了仿真与测试,结果表明,随机数生成速率为3.2MHz,且能够通过FIPS140-2的随机性检测.     

基于边界扫描的板级测试向量自动生成

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量。实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量。     

基于IEEE1232的模拟电路TPS自动生成系统开发

目前在模拟电路故障诊断及测试过程中存在两个问题:测试信号的连续性及容差特性造成的测试信号数量巨大,故障知识表示复杂,测试程序(Test Program,简称TP)的编写多用基于决策知识的人工生成方法;通过对IEEE1232标准的体系结构和诊断推理机要求的分析,论文对IEEEE1232模型体系进行扩充,提出一种包含特征提取技术和多种AI诊断方法的诊断知识库生成协议,设计并实现了符合1232标准知识库的TPS自动生成测试系统;提高了诊断知识的移植性,实现了TPS的自动生成;仿真结果证明了该方案的可行性.