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为了满足智能卡芯片的测试需求,在降低测试成本、提高测试速度的基础上,给出了一种在FPGA上实现的芯片测试的多通道串口扩展器设计,主要包括仲裁器设计、多路选择器以及显示译码器的设计.FPGA采用EP1C12Q240C8,利用状态机实现仲裁器,并改进了仲裁器电路结构,以提高扩展器工作速度,且结构简单,面积小.数据选择器以及显示译码器采用组合逻辑实现.利用Modelsim分别对加busy判断的轮换仲裁,以及状态机实现的仲裁进行仿真.实验和应用结果表明了设计的有效性,并且状态机仲裁提升了系统的性能. 相似文献
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随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,大规模、高性能处理器中的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为大规模、高性能处理器生产测试中的关键性问题。可测性设计中的功耗较常规功能模式下的的功耗更高,过高的测试功耗高会导致芯片结构损坏、可靠性下降、成品率降低和测试成本增加等问题。可测性设计技术是降低测试成本,提高测试质量的有效手段,但是在对电路进行可测性设计的过程中有可能会造成功耗问题更加严重。本研究对可测性设计的低功耗测试向量的X‐Fill、时钟门控、功率分割等低功耗技术进行了介绍和分析,通过开源处理器LEON3作为实例,进行了实用的低功耗测试技术的分析和实验,提出可测性设计低功耗测试向量的设计方法。 相似文献
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介绍了基于DSS9001芯片的宽带电力线用电信息采集器软件的设计。软件的设计充分利用了芯片的资源,采用多任务设计思想,提供了通信管理、定时采集、协议处理、数据转发等功能。利用系统的多线程并发机制,同步处理数据采集、配置管理和数据转发等功能。该采集器经"国家电网电力线通信应用技术实验室"测试,运行稳定、可靠性高、应用功能强大,已在多处试点试用,适应状况良好。 相似文献
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使用通常的单片机、A/D转换器等芯片构造一个数据采集系统,往往设计周期长,成本较高。ADuC812采用了高性能的闪速/电擦除存储器技术和模拟测量技术,能灵活地对芯片进行编辑,同时更方便地解决了数据采集问题,并大大降低了数据采集系统的开发时间和成本。本文详细介绍了ADuC812的性能、特点,并给出了在温度监测系统中应用的实例。 相似文献
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为了提高传统寻物器的使用及防丢失能力,设计了一种以传统单点寻物模块为基础的多功能寻物器。利用红外通信技术,重新定义设备识别引导码,解决了通信网络中地址及数据匹配问题,实现单发送端可寻找多接收端,接收端也可反向寻找发送端等功能。寻物系统以单片机MSP430为主控芯片,利用芯片多种工作模式及超低功耗特性,降低系统电量损耗,为寻物器功能进一步扩展提供了可能性。 相似文献
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随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛.传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPGA重构方案由于存储配置时间长,配置芯片成本高等原因越来越满足不了快速的多重配置需求.提出了一种基于大容量FLASH存储器的FPGA重构技术,方案采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,可以实现绝大部分不同型号的FPGA器件的快速多重重构,从而满足FPGA芯片快速自动测试需求,提高了整体程序开发和测试效率,节约了芯片的测试成本. 相似文献
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液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网 EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。 相似文献
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层次型结构片上网络测试方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
使用HDL硬件描述语言建模了在FPGA芯片中可综合实现的二维网状片上网络,在此基础上建立了片上网络测试平台。提出了一种新颖的基于全扫描和逻辑内建自测试的层次型结构片上网络测试方法,论述了层次型结构和非层次型结构SoC芯片测试方法的差异,给出了与IEEEStd.1500标准兼容的测试壳设计,测试响应特征分析使用空间和时间数据压缩技术。实验结果显示本文所提出测试方法能有效地减少测试时间和测试数据量,从而降低了整体测试成本。该方法适用于不同类型的片上网络。 相似文献
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基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析 总被引:1,自引:0,他引:1
为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(DFT)已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成部分。IEEE1149.1作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段。现在大部分的复杂芯片都支持IEEE1149.1标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理入手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。 相似文献
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本文阐释了原边控制在反激变换器中应用的优点;介绍一款原边控制型电源管理芯片——AP3772,解释其实现恒压输出、恒流输出的工作原理,并对恒流模式的线补偿电路做出分析;最后设计了一款基于AP3772的5W反激变换器,对该变换器进行测试,测试结果达到了设计要求。 相似文献
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介绍了几种瞬时频率测量技术,为了测量某系统接收到的瞬时信号频率,给出了基于相位检测芯片AD8302配合低噪声放大器、混频器、单片机等设计制作的X波段瞬时频率测量系统.依照方案设计了实物,并对系统整体性能进行了测试,测试结果表明,该系统可以有效的测量X波段信号的频率,测频精度优于10 MHz. 相似文献