X射线荧光分析漂移校正方法

石墨晶体预衍射X射线荧光分析仪是本单位自行研制的后处理控制分析专用设备，比常规的能量色散X射线荧光多1个石墨衍射器，以排除样品本身放射性的影响，因此，该设备可用于后处理高放废液中U、Np以及部分裂片元素的测量。在例行分析中，通常先建立工作曲线，在以后的测量中不必再测量标准。仪器本身每天都在变化，使工作曲线发生偏离，因此，有必要进行校正。     

X射线荧光分析的α系数法校正

X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。α系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。 假定某样品的基体中含有N种元素,它们的含量及X射线的相对强度分别为C_1,C_2……C_N及R_1,R_2……R_N,其中第i种元素的含量可根据下列半经验公式计算     

镀层厚度的X射线衍射法测量

用基体X射线衍射法测量了化学镀Ni-P合金的镀层厚度,并进行了误差分析.结果表明,基体X射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法,在其适用的范围之内,能客观准确地测量出镀层厚度,误差小于金相法测量误差;基体X射线衍射法的测量结果,几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响,可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度.     

镍基合金受熔融氟化盐腐蚀的同步辐射XRF分析

采用浸入法在750℃熔融氟化盐(LiNaK-F)中进行Inconel 600、Hastelloy X、Hastelloy c-276镍基高温耐蚀合金的腐蚀实验.利用同步辐射微束X射线荧光分析(μ-XRF)及X射线衍射(XRD)对样品进行了分析测试.μ-XRF结果表明,镍基合金在熔融氟化物中的腐蚀主要为合金元素Cr的流失...     

采用用于激励的聚焦光学器件和用于收集的聚焦单色器的波长色散X射线荧光分析（XRF）系统

本发明提供X射线荧光(XRF)光谱测定系统和方法。XRF系统包括X射线辐射源、布置在X射线辐射源和试样之间的激励光学器件，以便收集来自所述辐射源的X射线辐射，并将X射线辐射聚焦到试样上的一个焦点，以引起试样中至少一种被分析物发出荧光。该系统还包括X射线探测仪和收集光学器件。收集光学器件包括至少一个双曲衍射光学器件，该双曲衍射光学器件布置在试样和X射线探测仪之间，以便收集来自试样上的焦点处的X射线荧光，并将荧光X射线导向至少一个X射线探测仪。     

毛细管X光透镜聚焦的微束X射线荧光谱仪的研发及应用

针对不同样品的分析需求,本文设计了几种不同类型的微束X射线荧光谱仪。用高精度激光位移传感器实时校正样品表面被测量点与毛细管透镜出端之间的距离,以减少形状不规则的古陶瓷样品测量时带来的误差;利用毛细管X光透镜传输能量高于25 keV的X射线效率低的特点,将其应用于高铅釉瓷器彩料的无损分析中;采用大功率X射线源,扫描分析了大米中K、Ca等元素分布;以人民币5角硬币为例,研究了能量色散的微束X射线衍射方法。研究结果表明,本文研发的微束X射线荧光谱仪在生物样品和文物样品的分析研究中有广泛的应用前景。     

X射线荧光分析中的综合灵敏度因子KI_0和准绝对测量

在X射线荧光分析,尤其是能量色散X射线荧光分析中常常使用相对测量方法。除了这一方法简单易行之外,主要是它避免了待测元素物理性质、激发源能量和强度、探测器特性以及几何因素等测量困难和现有参数数据不准确等引入的误差。其实质是在同一条件下,认为待测样品和标样中的待测元素含量比与特征谱线强度比相等:     

X射线RoHS荧光分析基体效应吸收校正的MCNP模拟

采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响。在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大。对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级。为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响。     

同步辐射微束X射线荧光分析及其在生物医学中的应用

介绍了同步辐射微束X射线荧光分析的特点，主要的仪器设备和方法。介绍了在头发和病变组织中微量元素成分的扫描分析，细胞元素谱及其在外界物理、化学条件下的变化分析等。展示了同步辐射微束X射线荧光分析在生物医学研究中的广阔前景。     

X射线荧光技术在新疆某航磁异常地面勘察的应用

介绍新一代X射线荧光分析仪(XRF)在野外现场矿产勘察中的应用效果.讨论了XRF中的原理和现场勘察中基体效应、湿度效应和不平度效应等主要影响因素.在新一代手提式多元素X荧光仪中,现场X荧光仪对铜、锌、砷等元素的检出限为10×10-6.在野外土壤、岩石的原位分析、异常追索查证等方面具有重要的作用,实践证明,X荧光技术是一种快速、经济、有效的方法.     

能量色散X射线荧光分析测定地质试样中的Zr、Sr、Rb

本法是在我室EDXRF法分析Rb、Sr的基础上进行了改进,并增加了对元素Zr的分析。将原方法中的Mo滤光片改用Ag。Mo靶X光管反射的特征K_αX射线被Ag大量吸收,从而消除了Mo的康普顿散射峰对荧光ZrK_αX射线的影响。 Rb、Sr和Zr分别配制成两套标准。通过对标准中Sr K_aX、Sr K_βX射线和试样中Sr K_αX射线的测量,定     

便携式微束X射线荧光谱仪的研发

研制了便携式微束X射线荧光谱仪,并对其硬件、软件和性能等特征进行了分析。该谱仪应用激光位移传感器实时检测样品测量点到透镜出端之间的距离并自动调节该距离的方法,来解决考古样品表面不平整或弧度而造成的照射样品X射线束斑变化的问题,从而保证X射线照射光斑大小不变。为验证谱仪的可靠性,采用该谱仪测量了表面高度差接近5 mm的古陶瓷样品微区的釉彩层元素的分布。分析结果表明,激光位移传感器能有效减少由于样品表面不平整或弧度带来的测量误差。此外,使用本谱仪分析了5角硬币表面4 mm×4 mm的区域,经过数据处理后得到Cu、Sn等元素的分布及其合金相的分布,表明该谱仪不仅可进行微区能量色散X射线荧光分析（μ-EDXRF）,同时还可进行微区能量色散X射线衍射分析（μ-EDXRD）。     

一种微束X射线衍射仪及其应用研究

本文研究了一种微束X射线衍射仪,并对其硬件、软件和性能进行了介绍。该衍射仪采用毛细管X光透镜将X射线束会聚到μm量级,并通过由PLC和步进电机等组成的闭环运动控制系统调节三维样品台来实现对样品微区的物相分析和物相的二维扫描分析。利用自行开发的控制软件实现了微区X射线衍射分析和微区能量色散X射线荧光分析两种模式。为了验证设备的可行性,采用本微束X射线衍射仪以微区X射线衍射的方式扫描了苹果手机主板的焊锡接触点上1.0 mm×0.6 mm的区域,得到了区域内SnO₂(3 1 2)的晶相分布图。此外,利用本微束X射线衍射仪分析了1片清代红绿彩瓷表面的白色瓷釉和彩料中钾长石和钙长石等主要的晶相,这些实验数据可为古代瓷器的烧制工艺提供有益的参考。因此,这种微束X射线衍射仪在材料、文物保护等研究领域具有广泛的应用前景。     

基于X射线相干衍射成像的元素分布成像

基于上海光源软X射线谱学显微线站的特点和相干X射线衍射成像(CDI)技术,对软X射线相干衍射成像方法的一个重要应用:元素分布成像及含量分析进行了模拟研究。推导了CDI相比双能分析算法并进行了理论模拟,估算了能够分辨的最小物质含量,并分析了CDI实验噪声等因素对元素分布成像的影响。所得结果可对软X射线CDI的实际应用提供理论指导。     

EDXRF无标样分析未知样品含量的算法研究

针对未知样品能量色散X射线荧光分析（energy dispersive X-ray fluorescence analysis, EDXRFA）方法开展无标样分析,通过测量Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样,得到Rh靶材原级谱中K_α峰的相干与非相干散射峰强度比值R,并建立R与对应单元素标样有效原子序数的关系,得到Z_eff-R的拟合曲线。求解未知样品基体时,测量未知样,得到其R,将R代入Z_eff-R拟合曲线得到未知样有效原子序数,再通过基本参数法迭代计算其质量衰减系数。利用Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样刻度仪器获取G_i参数,求解未知样品基体时用于相应元素的基本参数迭代。为验证算法可靠性,采用本算法分析15个国家土壤标准样品,结果表明,Ti、Fe、Ni、Cu、Zn元素的计算含量与标准含量接近,部分低含量元素受到散射本底等因素影响,含量误差较大。结果表明,该方法能够用于现场能量色散X射线荧光分析。     

一种便携式能量色散X射线荧光分析仪的设计

研制了一种便携式能量色散X射线荧光分析仪(EDXRF)。激发源采用国产小口径Mo靶X线管,以变频技术设计了配套的高压电源和灯丝电源,探测器为电制冷半导体探测器。通过元素Cu、Zn、Ni、Pb的能谱测量,研究了该分析仪的检测性能和能量定标曲线,并且从理论上分析了其最佳元素分析范围。     

能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W钨含量

采用IED - 2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量.对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现...     

SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构

用射频磁控溅射技术在蓝宝石衬底上制备了一组不同衬底温度的Mn掺杂ZnO薄膜。质子激发X射线荧光(PIXE)测量表明,薄膜中仅有含量为5 at.%的Mn,未见其它磁性杂质元素(如Fe、Co、Ni等)。同步辐射X射线衍射(SR-XRD)表明,这些Mn掺杂ZnO薄膜具有纤锌矿ZnO结构。SR-XRD和扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS)分析显示,薄膜中未发现Mn团簇或MnO、MnO2、Mn2O3、Mn3O4等二次相,Mn原子是通过替代Zn原子而进入了ZnO晶格。     

北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

软X射线计量标准的建立和软X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题，本简单介绍了两套北京同步辐射软X射线装置，它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

同步辐射全反射XRF实验

本叙述了同步辐射全反射X射线荧光分析的实验装置和方法，给出了几种标准物质实验的检出限，我们已在细胞元素谱、体液和水样方面作了一些研究，并对实验结果进行了讨论。