用于微处理器功能测试的最小指令集测试法

本文介绍了一种比较简单而又具有较高故障覆盖率的微处理器测试方法──最小指令集测试法。它应用最小指令集的概念来测试微处理器的指令系统，对于最小指令集以内和以外的指令采用不同的测试方法，从而简化了指令系统的测试。此方法算法简单，易于实现，是一种较为可行的微处理器功能测试方法，已将其应用于TMS320C25的测试。     

基于边界扫描的微处理器功能测试算法

针对实现了边界扫描可测试性设计的微处理器的特点,提出了一种改进的微处理器功能测试算法。应用该算法我们成功地完成了３２位ＲＩＳＣ芯片ＬＳ８５３２Ａ的测试。     

微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试

微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1].     

基于最小集合覆盖的网络连通性自动化测试

网络规模的增长加大了分布式网络管理与测试的难度。为此,提出一种优化的全连通自动化测试用例集生成算法。在最小集合覆盖理论的基础上,引入空间因子参数,优先选取搜索空间中起点或终点被选取次数最多的测试路径进入解集,以减少测试点数。实验结果表明,该算法在空间因子为4的情况下,比贪心搜索算法减少约20%的测试点数,比GRASP算法缩短约99.9%的测试时间,具有较高的测试效率。     

最小覆盖算法及正确性证明

本文中的最小覆盖问题是指用一个圆覆盖平面上的若干个点。本文给出了求近似最小覆盖圆的最大距离算法。估计了它与最小覆盖圆的误差上界为1/2(4-2 3~(1/2)m)~(1/2)(m表示最大距离),并运用谓词归约方法证明了算法的正确性。     

微处理器测试系统设计

为了保证微处理器芯片设计的正确性，需要进行大量的仿真和测试，因此需要一个微处理器测试系统，以实现微处理芯片功能的测试和调试．本文分析了微处理器测试系统的功能、组成以及设计中的关键问题．     

一种基于矩阵的求最小覆盖集算法

本文提出了一种利用矩阵的方法表示函数依赖集。通过有效迭加和对相应矩阵的化简得出了基于矩阵的求最小覆盖集的新算法。     

面向Cache优化的向量指令集设计与测评

为微处理器扩展向量指令集是提升现代微处理器性能的一种可行手段,然而传统向量指令对存储系统的访问表现出较差的局部性,因此难以与现代微处理器设计中广泛使用的Cache很好的结合。本文以优化Cache性能为目标,对传统向量指令集进行改造,提出了COV(Cache Optimized Vector Instruction Set)向量指令集,并以OpenRISC1200为平台,对该指令集进行了实现与测评,获得了约四倍的性能加速比。     

支持大规模变量集的最小覆盖迭代搜索算法

两级逻辑综合中的多输出逻辑电路最小覆盖的求解是一个NP难解问题,在输出变量集合和质蕴含项集合规模较大的情况下,会出现空间需求过大、处理时间太长等问题,影响多输出最小覆盖求解的可行性．在精选法的基础上,提出一种多输出最小覆盖迭代求解算法．将一次性求解最小覆盖的模式转换为多次迭代逼近最优解的过程,使得在有限的时间和空间范围内获得尽可能优化的最小覆盖结果．同时,对影响算法复杂度的单输出到多输出函数的阵列合并、极值的选择这2个主要环节进行了改进,大幅度降低了多输出最小覆盖求解算法的时间和空间复杂度．     

基于93000的单片机最小可测系统设计

为了利用集成电路测试系统实现对单片机的测试,提出了基于93000测试系统的单片机最小可测系统的设计方案,包括硬件连接和软件程序设计,详细介绍了最小可测系统的实现原理和方法。整个系统设计方案简洁、设计成本低廉、使用方便。     

基于RISC-V指令集的向量控制模块验证实现

RISC-V指令集架构具有永久开源、指令集精简且高效、处理器微架构模块化、架构扩展性强等特点,在云计算、边缘计算、车载智能计算等领域的应用日渐广泛,其向量扩展部件可以大幅度提高计算机的运算效率,减少不必要的硬件开销。随着处理器运算能力增强和寄存器位数扩展等硬件的进一步发展,向量部件已成为处理器芯片架构中的常用技术,可用来增强处理器性能。向量控制模块是向量部件的核心控制单元,具有时序关系复杂、规范难以描述等特点。本文针对向量控制模块特点,优化设计验证流程,构建高效率验证平台,以功能覆盖率和代码覆盖率为牵引量化验证进度。通过RISC-V向量控制模块验证,有效提升向量控制模块的可靠性,降低流片风险,减轻子系统级验证和系统级验证负担,使之专注于互联、交互响应和接口验证。     

逻辑覆盖测试工具的设计与实现

文章从软件测试入手,在介绍逻辑覆盖测试原理的基础上,以逻辑覆盖测试工具ＦＣＡ为例,详细介绍了逻辑覆盖测试工具的设计与实现。     

基于多维度覆盖率的软件测试动态评价方法

随着关键领域应用软件规模和复杂性的不断提高,软件测试成本也不断增加.如何动态、定量地评价软件测试情况,提高测试效率是软件测试领域面临的现实问题.提出了一种基于多维度测试覆盖率的软件测试动态评价方法,并从测试监测信息、动态分析和评价模型、测试优化策略几个方面展开讨论.给出了综合测试覆盖率的定义和经验公式.实例显示,该方法有助于软件项目评测人员动态跟踪和定量监控软件测试效果,提高软件测试过程的可观察性和可控制性.     

基于分支覆盖的回归测试路径选择

回归测试是迭代式软件开发的重要环节,测试数据生成是回归测试的前提.传统的回归测试方法,从已有的测试数据中选择部分测试数据,并生成一些新的测试数据,以验证程序的正确性.但是,该方法容易生成冗余的测试数据,从而降低了回归测试的效率.研究了回归测试的分支覆盖问题,通过利用已有测试数据的路径覆盖信息,并选择一定个数的路径,以覆盖所有的目标分支.首先,以若干路径形成的集合作为决策变量,以路径最少、覆盖的分支最多以及包含的未覆盖路径最少为目标,建立路径选择问题的3目标优化模型;然后,采用遗传算法求解上述模型时,设计了基于目标重要性的个体评价策略;最后,基于已有的测试数据与选择的路径之间的覆盖关系,确定需要生成的测试数据.将所提方法应用于6个基准工业程序测试中,并与其他方法比较.实验结果表明,采用该方法选择的路径,能够覆盖更多的分支,需要生成的测试数据更少,回归测试消耗的时间更短.     

确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则

软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了确定性有限状态机的最小...     

考虑测试工作量与覆盖率的软件可靠性模型

为了进一步提升现有非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型的拟合与预计精度,首先,提出一个同时考虑测试工作量与测试覆盖率的NHPP类软件可靠性建模框架.在此基础上,将变形S型测试工作量函数(IS-TEF)以及Logistic测试覆盖率函数(LO-TCF)带入该建模框架,建立了一个新的软件可靠性增长模型,即IS-LO-SRGM.同时,还对利用该框架进行建模过程中的两个重要问题进行了描述与分析,即如何确定具体的TEF和TCF以及模型参数估计.然后,在两组真实的失效数据集上,利用该建模框架建立了最为合适的增长模型,即IS-LO-SRGM,并将该模型与8种经典NHPP模型进行对比.实例验证结果表明,所提出的IS-LO-SRGM模型具有最为优秀的拟合与预计性能,从而证明新建模框架的有效性和实用性.最后,对不完美排错情况进行了初步的讨论与建模分析.     

参数配对及n-way组合覆盖算法研究

组合测试是软件测试数据生成研究的一个重要领域,其中参数配对组合测试的应用最为广泛.对常用的参数配对组合覆盖方法进行了综述分析.目前主流的配对覆盖算法AETG和IPO所存在的主要问题是在确定水平取值时,具有盲目性和随机性,从而难以控制测试用例的规模.为此提出了改进的AETG算法和IPO算法,改进算法通过对参数进行预处理以及综合考虑各因素的水平组合等手段,对测试用例的规模进行控制,采用更加完备的方法尽早确定水平取值.为验证新算法的有效性,进行了仿真实验和实际测试,结果表明,改进算法所生成的测试用例数量要少于原算法,测试用例约减效果更为明显;测试用例数与配对数之间、测试用例数与因素水平数之间存在着某些规律性的联系,分析得出了一系列相关的结论.在配对覆盖的基础上,提出了遗传算法与AETG算法相结合的n-way组合覆盖算法,证明了其时间复杂性较已有算法得到了改善.     

基于经度切割的雷达威力模型及算法研究

针对雷达威力解算中计算量大、速率低、精度差的问题,提出了一种经度切割的威力解算方法。建立了3种程式雷达垂直威力模型,并以垂直威力上的高度层切线,建立直角坐标系下各个高度层的平面威力模型。将平面威力按等经度间隔切割成若干条块,建立大地坐标系下各个高度层的平面威力条块模型,给出经度切割算法。仿真结果表明,通过对平面威力进行经度切割,减少了计算量,提高了速率,解决了复杂遮蔽边界问题,是一种快速实用的解算方法。