3GPP2对cdma20001XRelease0协议一致性测试规范的重组

对cdma20001XRelease0的协议一致性测试规范的起源、发展历史以及现状进行了详细介绍和分析。根据分析，对3GPP2的协议一致性测试规范重组的原因、目的和重组的方式进行了详细说明。     

基于TTCN的测试执行方法及其应用

测试执行是协议一致性测试系统中的主要部分，本文提出一种基于测试描述语言ＴＴＣＮ的操作语义对标准测试集进行了解释执行的测试执行方法，利用这种方法所实现的一致性测试系统具有很强的灵活性和独立性，同时大大提高了测试的效率，另外，我们还介绍了基于这种测试方法所完成的协议一致性测试系统（ＰＣＴＳ）的总体结构，设计思想以及测试配置。     

一种可变测试集的协议一致性测试方法

目前常用的协议一致性测试的测试方法是首先对协议规范建模，然后通过模型生成测试集，最后执行测试集．这种方法存在执行效率不高和实际测试范围可能被缩小的问题，为此本文提出一种可变测试集的方法，通过动态执行测试集提高其执行效率，同时从与协议实现无关的角度扩大协议的实际测试范围．     

ATM协议的测试研究及其应用

协议一致性测试和互操作性测试是保证不同厂商的ＡＴＭ产品和服务实现完全的互通的重要技术手段，本文分析了ＡＴＭ协议的测试需求，提出了适合的测试结构和测试描述技术，并结合适配层协议ＣＰＡＡＬ５讨论了协议集成测试系统ＰＴＴＳ在ＡＴＭ协议测试中的应用。     

基于WIA-PA协议的网关一致性测试系统的设计

一致性测试系统是进行协议一致性测试的基础。本文主要介绍了一种基于WIA-PA协议的网关一致性测试系统,并对测试系统的拓扑结构和测试过程的设计进行了说明。     

计算机网络协议测试及其发展

协议测试已经成为计算机网络和分布系统协议中最的领域之一。近年来，协议一致性测试技术得到了很好的发展和完善，与此同时，互操作测试和性能测试逐渐成为新的研究热点。本文在分析协议一致性测试的基础上，对协议测试的发展进行讨论。     

协议测试技术分析——一致性测试与互操作测试

随着通信技术的快速发展，针对协议的测试越来越重要。本文介绍了协议一致性测试和互操作测试，分析了二者的优缺点，同时明确了它们之间的关系，以及相关标准进展情况，从而指导我们选择正确的协议测试技术。     

LTE终端协议的测试

目前,3G的三大标准WCDMA,cdma2000,TD-SCDMA阵营几乎全部投身于LTE的开发,传统的通信设备厂商和几乎所有的主流运营商及GSM协会都加入到LTE推动者的行列,使得LTE的发展速度大大加快。LTE终端的测试对保障LTE终端性能和质量,促进LTE终端技术的成熟具有重要意义。LTE终端的一致性测试是其中一个重要的步骤,这是对LTE终端进行全面的验证测试,而其中协议的测试显得尤为重要。罗德与施瓦茨公司的《LTE终端协议的测试》一文对协议测试的规范、协议测试认证的现状进行了介绍,并介绍了采用R&S的协议测试仪CMW500在终端研发的各个阶段对终端进行协议研发测试和最终的协议一致性测试。     

支持终端一致性测试的TD-SCDMA协议测试平台的构建

本文介绍了协议一致性测试基本理论,提出了一种TD-SCDMA终端协议一致性测试平台的构建方法,描述了该平台的功能、框架结构和实现方法,并举例说明对该测试平台如何使用TTCN实现一致性测试和模拟网络基本功能.     

TD-HSUPA终端协议一致性测试研究

对TD－HSUPA（TD－SCDMA高速上行分组接入技术）空口协议栈进行简要介绍,并结合3GPP协议一致性测试规范对TD—HSUPA终端协议一致性测试进行详细的分析说明。     

电信设备抗地震性能检测系列标准

本文介绍了电信设备抗震系列标准制定的意义,标准的总体认识以及标准理解和使用中的一些问题,旨在帮助电信工程师们理解和使用这一系列标准。     

RapidIO高速串行总线的信号完整性测试

介绍了高速串行总线信号完整性测试的关键概念,主要包括抖动及分离、眼图、误码评估和码间干扰、测试误差控制等,结合实际RapidIO串行系统应用给出了测试结果,并采用抖动谱等方法对相关指标进行了详细分析。     

单比特频数检测和块内频数检测的快速实现研究

随机序列在密码技术中占有非常重要的地位,随机性检测利用概率统计的方法对随机序列的随机性进行分析测试。美国国家标准与技术研究院(NIST)和我国国家密码管理局都发布了各自的随机性检测规范,二者都将单比特频数检测和块内频数检测作为其检测项。研究了单比特频数检测和块内频数检测的快速实现,提出了三种新的快速实现算法。这三种算法可以使单比特频数检测、块内频数检测和两种检测综合实现的速度分别提升29.2倍、15.5倍和32.8倍。     

Efficiency of Spectral-Based ADC Test Flows to Detect Static Errors

Testing of Analog-to-Digital Converters is classically composed of two successive and independent phases: the histogram-based test technique evaluating static specifications and the spectral analysis technique evaluating the dynamic performances. Consequently, the fundamental objective here is to investigate the feasibility of an alternative test flow involving exclusively spectral analysis to replace these two time consuming and expensive phases. The viability of this solution depends on the ability of spectral analysis to detect static specifications. In this context, this paper presents a new methodology based on a statistical approach to quantitatively evaluate the efficiency of detecting static errors from dynamic parameter measurements. This methodology has been implemented in an in-house automatic tool allowing one to process any ADC specifications. It is then possible to choose a priori the best test flow for a given application.     

TD-SCDMA和TDILTE双模终端协议互操作测试系统研究

全面深入地分析了TD-SCDMA和TD-LTE双模终端协议互操作测试系统。首先,阐述了互操作测试的概念、互操作测试所依据的国内外标准以及具体测试内容;然后,具体分析了测试系统的软硬件架构和测试流程;最后,指出了测试系统的实际应用情况。     

策略与计费控制系统相关标准及测试技术

介绍了策略与计费控制（PCC）的特点和网络架构,PCC系统中主要的功能实体及相关接口,指出了PCC系统相关的国际国内标准,分析了PCC系统中主要设备的测试内容和测试方法。     

互操作性测试方法研究

通信网络在其发展过程中规模越来越大,涉及到的通信设备也越来越多.如何保证通信设备尤其是计算机网络设备之间的互连互通,成为通信发展的一个重要环节,其关键就是协议测试技术.首先介绍互操作性测试与协议一致性测试之间关系,进而介绍互操作性测试的整体架构和如何编制互操作性测试规范,最后详细叙述互操作性测试步骤.     

软件测试与质量保证

软件测试是在软件投入运行前对软件的需求分析、设计规格说明和编码的最终复审，是软件质量保证的关键步骤。在软件测试过程中记载出错数据，进行可靠性分析，以控制软件的质量是至关重要的。介绍了软件测试的基础知识、软件质量保证的内容以及两者间的关系。     

移动通信网IMS系统相关标准及测试技术

介绍了移动通信网IMS系统的特点和网络架构;阐述了IMS网络中主要的功能实体及相关接口,并指出移动通信网IMS系统相关的国际、国内标准;分析了移动通信网IMS系统设备的测试内容和测试方法。     

Automated System-Level Test Development for Mixed-Signal Circuits

While in the digital domain, test development is primarily conducted with the use of automated tools, knowledge-based, ad hoc test methods have been in use in the analog domain. High levels of design integration and increasing complexity of analog blocks within a system necessitate automated system-level analog test development tools. We outline a methodology for specification-based automated test generation and fault simulation for analog circuits. Test generation is targeted at providing the highest coverage for each specified parameter. The flexibility of assigning analog test attributes is utilized for merging tests leading to test time reduction with no loss in test coverage. Further optimization in test time is obtained through fault simulations by selecting tests that provide adequate coverage in terms of several components and dropping the ones that do not provide additional coverage. A system-level test set target in the given set of specifications, along with fault and yield coverages in terms of each targeted parameter, and testability problems are determined through the proposed methodology.