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神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用 总被引:9,自引:0,他引:9
本文在基于故障模拟的测试生成算法基础上,提出了一种初始测试矢量的生成方法,即采用神经元网络模型来生成初始矢量,既避免了随机生成初始矢量的盲目性,又避免了确定性算法使用回溯所带来的大运算量。试验结果证明这种方法是有效的。 相似文献
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文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的安全测试矢量集生成测试矢量的方法,该方法可以将搜索空间限制在2(n 1)种组合内。它采用故障支配和故障等效的故障传播、回退等技术,建立了一套从局部到全局的测试生成新方法。同时,利用基本门单元安全测试矢量的规律性,可以实现最小的内存容量要求。在一些基准电路的应用实例中,得到了满意的结果。 相似文献
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文章提出的模糊化的时序电路测试生成算法不明确指定故障点的故障值,它将故障值模糊化,并以符号表示。本算法第一阶段通过计算状态线和原始输出端的故障值来寻找测试矢量,通过计算故障点的正常值来 寻找测试矢量对应的故障类型;第二阶段用故障点的正常值作为约束条件计算故障点的另一个测试矢量。与传统的算法不同,它不需要回退和传播的过程。实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较少的测试时间。 相似文献
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基于遗传算法的自适应测试生成 总被引:6,自引:1,他引:5
文章介绍了一种基于遗传算法的自适应测试生成方法,首先讨论了用遗传算法进行测试生成时构造评价函数的一些方法,然后应用组合电路的Hopfield神经网络模型,提出了基于遗传算法的自适应测试生成算法,该方法不同于传统的方法,它不需要故障传播传播、回退等过程,实验结果表明了本算法的可行性。 相似文献
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基于模块化结构的N位加法器的测试生成 总被引:2,自引:0,他引:2
针对单个stuck-at故障,研究了N位加法器的测试矢量生成问题,对于行波进位加法器,只需8个测试矢量就可得到100%的故障覆盖率;对于N位先行进位加法器,只需N^2+2N+3个测试矢量即可得到100%的故障覆盖率。 相似文献
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本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集成生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除和必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。 相似文献
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本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初始状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除了必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。 相似文献
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测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。 相似文献
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数字集成电路的快速发展对电路测试提出了日益紧迫的要求,为获得较好的数字电路的故障覆盖率和测试集,减少反向回溯,很多仿生学算法应用到了电路的测试生成当中,现介绍了在测试生成领域中有重大影响的几种仿生优化算法以及各自特点。 相似文献
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引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。 相似文献
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一种先进的时序电路测试生成算法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析,并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法. 相似文献
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SAT数据结构与组合测试生成 总被引:3,自引:3,他引:0
刘歆 《微电子学与计算机》2003,20(5):39-44,61
有效的布尔可满足性算法必然包括有效的数据结构。本文深入地分析了用于回溯搜索SAT算法的数据结构,指出了它们各自所具有的优势和不足。并将SAT应用于组合电路的测试生成中。根据应用的特点和在分析的基础上,设计并实现了一个主要是针对组合测试生成的SAT算法,初步的实验结果证明了它在测试生成应用中的有效性。 相似文献
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本文介绍一个实用数字集成电路层次式测试图形自动生成(ATPG)系统-FD-Ⅲ。FD-Ⅲ的特点是把测试生成和电路设计结合起来,充分利用电路的层次式结构,借助于电路和功能块已有的测试和模拟结果,加快整个电路的测试生成。该系统能对由WorkView等CAD系统描述的层次式组合电路,同步时序电路进行ATPG。其故障模拟(FS)子系统能对包括异步模块在内的电路进行故障模拟、测试压缩,并给出优化的测试集及其性 相似文献
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测试程序的初始开发费用随着集成电路器件的发展居高不下;另一方面,随着器件速度和产量需求的提高,常常需要在不同测试仪上测试同类器件,然而各测试仪厂家之间仍然缺乏共同的标准。 相似文献
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为解决同步时序电路的测试难题,提高时序电路测试生成效率,进行了时序电路测试生成算法的研究,将粒子群优化算法应用在时序电路的测试生成中。为验证PSO算法性能,首先将其用于函数优化,能获得较好的优化结果。之后建立自动测试生成离散粒子群速度—位置模型,针对国际标准时序电路的验证结果表明,与同类算法相比,该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。 相似文献