基于微处理器的可测性设计

由于微处理器结构复杂，测试困难，作者在微处理器设计中插入内建自测试（BIST）电路，对指令译码部件的可编程逻辑阵列（PLA）电路和执行部件的控制只读存储器（CROM）电路进行测试。模拟结果表明，微处理器可分别在测试模式与正常工作模式下运行。在测试模式下，微处理器芯片中近40％的晶体管可用自检办法解法。     

基于边界扫描的星载计算机可测性设计

叙述了可测性设计（Design For Test／Testability，DFT）的概念和常见方法，其中边界扫描技术是目前应用最为广泛的可测性设计方法。本文在对边界扫描技术的基本原理予以介绍后，结合星载计算机的特点设计了一种基于边界扫描的可扩展的层次化可测性设计结构，能够通过边界扫描进行芯片级、板级乃至系统级的测试。     

基于IDDQ扫描的SOC可测性设计

超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略;本文首先介绍了在CMOS集成电路中的IDDQ测试方法,介绍其基本原理,展示了测试的优越性,CMOS IC本质上是电流可测试,IDDQ和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性;最后提出了一种基于IDDQ扫描的SOC可测性方案,是在SoC扫描测试中插入IDDQ的测试方法,这是一种基于BICS复用的测试技术,并给出了仿真结果最后得出结论。     

ASIC集成电路的可测性设计与技术实现

ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率.     

数字集成电路的可测性设计及其应用

首先论述了可测性设计的概念，分析了时序电路测试生成面临的困境。然后介绍了可测性设计的专门方法，并举例说明了它在实际中的应用。     

一种安全可控的SoC可测性设计

提出了一种安全可控的可测性设计DFT(DesignForTest)。DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。     

基于雷达的测试性设计优化方法应用研究

基于雷达等电子产品测试性要求的不断提高,对产品进行测试性设计迭代并进行测试性验证,成为对电子产品的普遍要求。由于初始设计有缺陷、覆盖故障模式不全等引起测试性设计不能满足要求,开展闭环测试、脉冲检测、隔离策略优化等测试性改进,最终选择软、硬件改进相平衡的方案,通过回归试验,获得满足指标要求的检测率和隔离率结果,优化方法促进了产品的测试性设计改进和增长。     

嵌入式微处理器的可测性设计技术研究

文章介绍了一个嵌入式微处理器的可测性设计技术。根据嵌入式微处理器各个组成部件逻辑功能的特点,分别采用了内置自测试(BIST)、部分扫描(PartialScan)、边界扫描(BoundaryScan)等方法完成各个部件的可测性设计,并将符合IEEE1149.1的TAP控制器作为整个微处理器的测试控制器,达到了较优的可测性设计结果。     

基于不充分知识下的电缆故障检测与诊断方法

为了解决传统电缆故障检测诊断方法的精度,提高电力系统的运行稳定性,提出基于不充分知识下的电缆故障检测与诊断方法.分别从电缆类型、电缆结构、电缆参数和传播特性等方面,构建电缆分布结构模型.安装电缆故障检测装置,收集电缆实时运行数据.在电缆分布结构模型下,获得电缆故障等效电路,利用不充分知识理论提取电缆故障信号特征.并通过...     

SOC的可测性设计策略

通过一则设计实例研究SOC(System On Chip)的可测性设计策略;15针对系统中的特殊模块采取专用的可测性策略,如对存储器进行内建自测试,对锁相环测试其性能参数等;其它模块采用基于ATPG(Automatic Test Pattern Generation)的结构化测试方法进行测试,同时设计一些控制模块优化测试结构;经验证,应用这些策略,在满足了功耗和面积要求的前提下,系统总测试覆盖率达到了98.69%,且具有期望的可控制性和可观察性;因此在SOC设计中应灵活采用不同测试策略,合理分配测试资源从而达到预期的测试效果。     

测试性验证辅助软件(TVAS)设计与实现

分析了测试性验证的通用程序,总结了确定方案和参数评估的8种计算方法,在此基础上设计并实现了测试性验证辅助软件.阐述了软件中确定方案和参数评估的详细算法,给出了软件的部分功能界面.软件计算结果与相关标准和文献提供的数据一致,验证了软件算法的正确性.     

武器装备纵向测试性研究

针对测试性工程中的纵向测试性和纵向测试兼容性问题进行研究。分析了测试兼容性设计的重要作用;深入研究了武器装备研制、生产和使用各个阶段中维修体制的确定与级别划分、测试容差、测试数据接口、被测对象与测试设备接口等工程环节的兼容性设计要求,纵向测试性设计要求保证了武器装备全寿命周期测试诊断的一致性和兼容性,该研究对提高武器装备的测试性水平和实现武器装备一体化测试,具有重要意义。     

基于多信号流图模型的典型无人机测控系统测试性优化设计方法研究

针对无人机测控系统维修保障和故障诊断定位的实际需求,引入基于多信号流图模型,建立了无人机测控系统测试性优化设计方法。首先,介绍了多信号流图建模基本思路,给出了多信号流图的建模步骤;然后,结合典型无人机测控系统组成及工作原理,构建了无人机测控系统的多层次多信号流图模型,在此基础上开展了测试性预测和测试性优化设计,总结后给出了工程设计中的关键注意事项。研究结果表明：该方法可以有效提高无人机测控系统的故障检测率和故障隔离率,减小模糊组,优化后系统的测试性设计水平得到了提高,说明了该方法的有效性。     

基于失效机理的软件测试性评估方法研究

软件测试性是在测试过程中发现缺陷能力的度量指标。基于缺陷导致失效的机理,通过对主要的测试性评估方法分析和研究,总结出一套有实用价值的基于失效机理的软件测试性评估方法,并提出了该方法在软件度量和软件质量改善两个方面的应用前景。     

基于边界扫描的电路板测试性优化设计

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。     

大型察打一体无人机系统级测试性试验技术与应用

针对大型察打一体无人机机载系统故障逻辑测试、系统级测试性评估的需求,研究并实施系统级测试性试验技术.机载系统具有系统组成复杂、交联关系复杂、故障影响关系复杂等特点,相对于成品级测试性试验,在试验实施关键环节、故障注入方法、试验评估等方面有重要区别.因此,在目前测试性试验技术的基础上,根据系统级测试性试验的需求,从试验方...     

基于信息论的软件测试性分析方法的改进研究

随着软件产业的不断发展,软件不断向系统化、集成化发展,软件所实现的功能越来越强大,复杂程度越来越高,最终导致软件质量越来越难以保证。软件测试性分析能够提供软件测试性信息,通过这些信息设计人员能在设计和测试执行之前确定测试的难易程度和所需资源,从而决定是否需要修改设计以得到一个更易测试的软件。以信息论软件测试性分析方法为基础,将程序转化为信息转换图进而利用信息论的方法进行测试性分析,最后引入模糊综合评价的方法对分析结果进行评价,并通过实例对该方法的有效性进行验证。     

基于SMT方法的测试性验证试验方案设计

针对现有导弹测试性验证试验方案确定的故障样本量较大以及序贯类试验方案最大样本量上界无法确定的问题,提出一种基于序贯网图检验（SMT）方法的测试性验证试验方案。通过对序贯概率比检验（SPRT）的检验问题进行拆分,在确定检验点数目的基础上,提出一种检验点取值与最大样本量的优化求解方法。同时考虑最大样本量较大的情形,基于承制方风险和使用方风险设计了SMT方法的截尾策略。通过案例验证与经典验证方法以及SPRT方法进行对比分析。结果表明,该方法能控制验证试验的样本量且所确定的平均样本量也优于其他方法,导弹装备的测试性验证试验的实施具备实际指导意义。