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一种新的检漏方法——负压采样法 总被引:2,自引:0,他引:2
本文阐述了作者30多年工作实践,总结出检漏工程中的新型检漏方法-负压采样法,它既不同于“正压法”又不同于“负压法”此法已经在工业发展中解决了实用检漏技术的难题。并对新旧检漏方法进行了对比。 相似文献
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电子元器件是军工电子产品中的重要组成部分,元器件质量的好坏直接影响到各种装备的质量且对各产品的可靠性有较大影响。密封性能是密封电子元器件质量好坏的重要标志。本文介绍了电子元器件破坏性物理分析密封试验中方法的运用、实践,总结了细检漏和粗检漏试验中应注意的问题及应对措施,从而更有效地剔除有密封缺陷的元器件,保证检测结果的准确性。 相似文献
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真空检漏事业的发展和展望 总被引:1,自引:0,他引:1
氦质谱检漏仪发展于 2 0世纪 40年代 ,历经半个多世纪的应用和发展 ,取得了辉煌的成果 ,从航空航天、军事工业、科学工程、核工业到轻工、医疗、仪器仪表、汽车、制冷 ,可以说是无处不在。真空检漏就其发展来说有两个方面 ,即一方面是检漏仪器本身 ,另一方面是检漏工艺技术的发展。我国的检漏仪器制造开始于 60年代初期 ,当时的中科院科仪厂等十几家单位走仿制的道路 ,有单聚焦和双聚焦 ,普通型和超高灵敏度型等各式检漏仪 ,60至 70年代是我国仪器发展的鼎盛时期 ,真空检漏的应用领域也不断扩展 ,对仪器的品种、质量、需求量都有了很大的增… 相似文献
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检漏工程中的新型检漏方法--负压采样法 总被引:2,自引:2,他引:0
通过新旧检漏方法的对比,阐述了一种新型检漏方法负压采样法,它既非正压法又非负压法。此法已在工业发展中解决了实用检漏技术的难题。 相似文献
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氟碳加压检漏法,灵敏度高,可靠性好,已被列为机电部元器件密封性检测的标准方法。但在用于半导体光电器件时却出现漏孔严重堵塞、光学窗口炸裂、指示液易污染等问题。本文根据长期观察、实践,对上述破坏性现象进行了分析、验证,并在如何避免其发生及妥善处理方面作了有益的探讨。 相似文献
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简述了真空灭弧室的真空度要求,分析了漏气的真空灭弧室出厂的原因,提出了防止漏气的真空灭弧室出厂的措施。 相似文献
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主要介绍执行新版GMP-2010后,药厂检测中遇到的一些新问题:压差调节困难、过滤系统安装检漏的意外、B级区洁净度超标。 相似文献
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常贵宁 《信息技术与信息化》2007,(5):117-118,142
本文总结了输油管道检漏系统在胜利油田的研究、应用、推广中取得的经验教训,提出系统使用中存在的问题,并指出了在线检漏系统的发展方向。 相似文献
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描述了真空设备在半导体行业中的运用,通过分析影响真空设备极限真空度的3个主要原因,讲述了真空设备检修方法及措施。 相似文献