安捷伦与华大携手成立SOC测试基地

安捷伦科技与中国华大集成电路设计中心(www.cidc.com.cn)于1月16日在北京签订合作协议，携手成立北京地区第一个系统级芯片(SOC)测试服务基地。该基地将发挥中国华大领先的工程验证经验和批量测试能力，采用安捷伦93000 SOC测试系统，为北京地区提供对含有微处理器、高速数字、内嵌式内存和模拟信号等各种复杂组合的SOC测试能力，为北京地区及周边的集成电路IC）设计公司提供一流的SOC测试服务，促进中国芯片产业的技术提升。发展IC产业是中国“十五”计划中重点项目之一，而SOC则代表了当前IC设计发展的主流。据中国半导体行业协…     

SOC测试系统将成为主注IC测试设备

ＳＯＣ（系统级芯片）测试对ＩＣ ＡＴＥ（集 成电路自动测试设备）制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇。目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、ＰＣ图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件。这预示了ＳＯＣ测试将是未来几年ＡＴＥ市场中的一个新增长点。ＳＯＣ对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器。低成本、多功能ＳＯＣ测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能ＩＣ ＡＴＥ…     

携手同“芯”“测”划未来 安捷伦科技与中国华大携手成立北京地区第一家SOC测试服务基地

<正> (2003年1月16日,北京)全球领先的半导体测试解决方案提供商安捷伦科技(NYSEA)与大陆第一家专业化的IC设计公司中国华大集成电路设计中心(China lntegrated-Circuit Design Center)日前在北京签订合作协议,携手成立北京地区第一个系统级芯片(SOC)测试服务基地。该基地将发挥中国华大领先的工程验证经验和批量测试的能力,并采用曾成功测试中国第一颗国产32位CPU芯片的安捷伦93000 SOC测试系统,第一次为北京地区提供对含有微处理器、高速数字、内嵌式内存和模拟信号等各种复杂组合的SOC测试能力,为整个北京地区及周边的集成电路(IC)设计公司提供一流的SOC测试服务,促进中国芯片产业的技术提升。     

横河电机ATE事业介绍

作为世界著名的大规模集成电路测试设备(ATE)制造商之一的横河电机公司(YOKOGAWA)的ATE事业部门,我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件,混合信号电路器件,逻辑电路器件,高频RF通信电路器件及各种SOC器件;还是FPD驱动器件,存储器,Image Sensor器件等;无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试;我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。在过去的一年里作为ATE业界首家推出FPD驱动器件测试系统的厂家,我们再次推出了业界第一台Per-Pin …     

放眼硅谷(下)

Credence：著名SOC测试设备商在半导体器件测试领域，Credence以高端IC测试设备为中国业内人士所熟知。如今，高端IC/SOC测试领域正经历着一场变革。负责市场的副总裁Glyn Gavies说，由于PC、PDA和无线的融合，终端用户要求不断增加性能，降低成本、减小尺寸、提高灵活性，因此对电子设计提出了更高的要求，需要更长的开发周期，不断增加测试成本(图1)，此外，还有个趋势是向外包(outsource)模式转变。Credence是一家著名的ATE(自动测试设备)专业制造商，主要做高性价比的SOC、数字IC、混合信号IC和闪存等半导体测试设备。公司…     

晶圆上测试射频系统级芯片的挑战(英文)

随着无线通讯产业推动芯片集成度的不断提高,系统级封装(SIP)和多芯片组件(MCM)被更多采用,射频系统级芯片(RF-SOC)器件的良品测试已成为一大挑战。这些器件与传统的单晶片集成电路相比,具有更高的封装成本,并且由于采用多个晶片,成品率较低。其结果是进行晶圆上综合测试的成本远超过最终封装后测试器件的成本。此外,一些IC制造商销售裸晶片以用于另一些制造商的SIP和MCM中,这就要求发货的产品必须是良品。以蓝牙射频调制解调芯片为例,讨论了RF-SOC器件良品晶片(KGD)的测试难点和注意事项。对此样品,除了在晶圆上进行射频功能测试的难点,还有同时发射和测量数字、射频信号的综合问题。此外对被测器件(DUT)用印制线路板布线的难点,包括晶圆探针卡的设置及装配进行探讨。还介绍了选择探针测试台、射频晶圆探针卡和自动测试设备(ATE)时需考虑的因素。并以晶圆上测试的系统校正,包括难点和测试方法,作为结尾。这颗蓝牙射频调制解调芯片的实际测试数据也会被引用,以佐证和加深文章中的讨论。     

安捷伦科技宣布将进入低成本自动溯试设备市场

安捷伦科技公司日前宣布，针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头（CTH），藉此进入低成本自动测试设备（ATE）市场。安捷伦在93000可扩充平台中最新增加了这一产品，满足了制造商对测试复杂的高性能系统级芯片（SOC）不断增长的低成本解决方案需求。目前，这些SOC正广泛用于大批量低成本消费电子器件中。     

横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA

作为世界著名的大规模集成电路测试设备（ATE）制造商之一的横河电机公司（YOKOGAWA）的ATE事业部门，我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件，混合信号电路器件，逻辑电路器件，高频RF通信电路器件及各种SOC器件；还是FPD驱动器件，存储器，Image Sensor器件等；无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试；我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。     

测试技术发展趋势

IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展,同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片（SOC）的测试,其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律,未来几年,每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。１９９８年,称之为MACH-D的（即存储器、模拟、通…     

降低SOC测试费用因素分析

今天,测试费用(COT-Cost Of Test)对半导体制造商来说已是至关重要。为确定IC及ATE(自动测试设备)的COT,广泛采用了COT财务模型。然而,这一模型的开发和改进是在半导体芯片大量生产并具有相当长的寿命周期时代。因此,今天微处理器和DRAM等器件大致仍然适用这一模型,而新出现的系统芯片(SOC)却不再适用。不断推出的新一代SOC显示出了更高档次的性能,集成了更多的模拟和数字功能,使消费电子产品不断创新,价格日益便宜。例如,DVD播放机价格江河日下,已从问世时的几百美元锐降到近两年的不足50美元;卫星接收机更只要一纸预订合同…     

半导体测试联盟发布开放式测试架构

半导体测试联盟(TheSemiconductorTestConsortiumInc.,STC)最近向外界宣布了开放式测试架构规范的第一个版本OpenSTAR。半导体测试联盟成立于2002年,最初由日本自动测试设备(ATE)厂商Advantest公司发起,据称当初是出于对日益复杂的SOC系统和不断攀升的测试成本考虑。尽管得到了芯片制造商和第三方ATE经销商的支持,但由于其他主要ATE厂商对此建议持怀疑态度,并没有采用这种单一平台的概念,有关该测试联盟的争论也一直没有停止。但如今,情况已经大有改观,STC已经包括30多个成员公司,其中不乏半导体行业巨头Intel和Motorola等。据…     

中国西部地区首台半导体高端测试设备落户西安

西安集成电路系统工程技术研究中心选用安捷伦93000SOC测试系统安捷伦科技日前宣布,西安集成电路系统工程技术研究中心(以下简称"西安IC工程中心")购买了一台Agilent93000SOC系列测试系统,用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备,帮助西安IC工程中心具有高性能SOC的测试能力,成为西部地区领先的SOC测试机构,从而为西部地区的高科技企业提供设计检验服务,并为测试工程师提供重要的培训服务。西安IC工程中心,是国内最早提出并开展超大规模集成电路(VLSI)设计的单位之一,也是国内少…     

基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术

卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度。通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析。在基于集成电路自动测试系统(ATE)的基础上,结合射频测试设备实现卫星导航射频芯片的性能测试。该技术对基于ATE的射频芯片测试均具有借鉴意义。     

一种基于PCI总线的数字图形发生器设计

数字功能卡(PE)是集成电路测试设备的核心部件,也是SOC测试系统的必需部件,它可以完成数字IC的逻辑功能测试。成功开发好PE板是研发数字集成电路测试系统的必经过程,也是开发SOC集成电路测试系统的必经过程。介绍了一种基于PCI总线的数字图形发生器的设计方法。建立基于PCI总线、以DDR3作为存储器、以FPGA作为专用定制逻辑处理器这一架构的数字图形发生器电路系统模型,以产生任意测试矢量图形,满足高中低端数字类芯片的测试需求。重点介绍了采录模块\发送模块、缓存模块、逻辑控制模块、PCI接口模块的设计方法。     

非接触IC卡芯片的低成本测试

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片.对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案.与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试.其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性.     

基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法

随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点。     

雷达射频集成电路的发展及应用

文中主要探讨雷达射频/微波集成电路的发展及其应用.介绍了现代雷达的发展趋势、雷达射频系统的演变历程以及目前国内外相关的射频集成电路的最新成果,讨论了射频片上系统(SoC)的未来趋势.针对现代主流的有源相控阵雷达,介绍了几种可行的系统级射频芯片的集成方向,最后强调了系统级射频集成电路测试在设计中的重要性,并给出一种基于模块化结构的自动测试设备(ATE)测试平台方案.     

SOC设计:IC产业链设计史上的重大革命

集成电路芯片设计是IC产业链的龙头,而系统芯片(SOC)集中了芯片设计的先进技术。本文论述了SOC芯片的最新设计技术和焦点技术,包括嵌入式CPU,IP模块设计以及芯片的验证和测试等,展望了当前SOC芯片设计的发展趋势。     

最新SOC测试的发展趋势

随着SOC芯片结构的复杂化，功能模块的多样化，SoC芯片的测试也面对诸多挑战，诸如测试资源和成本的兼顾。本文简单描述了现今SOC芯片的发展和趋势，以及相对应ATE测试系统的应对。     

可测试设计法推动嵌入测试进入新阶段

面对功能更多和价格更低廉的IC的爆发性需求,半导体生产者有必要重新评估传统的测试技术,因为这一项就占用了芯片制造成本的6％～15％。一个简单的经济模式显示,测试成本由购买率决定,它是全球自动测试设备(ATE)年销售额与全球半导体器件年销售额之比,如图1所示。最近18年统计的结果表明这种百分比保持在3％～5％以内。换言之,半导体器件年销售收入的3％～5％要花在购买用于外测试的贵重设备上。购买率是指所有半导体器件的平均数而言,其中包括存储器、低档芯片和高档芯片。高档专用集成电路(ASIC)的测试设备购买率是最高的。还要考虑倍乘效应的因素,包括测试工程费、维修费和操作费用在内的至少为ATE购买费2～3倍的开支,实际上占用了半导体器件销售额的6％～15％。就芯片制造成本的百分比来说,测试费用可能更高。相对而言,消