基于CPLD的高速面阵CCD驱动电路设计

着重介绍了基于CPLD来设计产生高速面阵IA-D1CCD芯片复杂驱动时序和整个CCD相机的电子系统控制逻辑时序。同时采用CCD视频处理专用集成芯片处理CCD输出信号,提高了图像信噪比,改善了图像质量。使用结果表明:该硬件电路结构简单、成本低廉、可靠性高、功耗较低,并满足了工程项目小型化的要求。     

基于FPGA的面阵CCD驱动电路设计

选用Kodak公司生产的大面阵行间转移型CCD（电荷耦合器件）芯片KAI-2093作为数码摄像机的图像传感器,介绍了其内部结构和工作原理,探讨了基于可编程逻辑器件FPGA用于对CCD驱动电路设计的方法和实现途径。基于KAI-2093的驱动时序和VHDL语言,给出了部分驱动时序的程序。结果表明本设计各项参数及指标均符合实际工作需要。此方法也可适用于其他类型的CCD驱动电路的设计。     

一种基于单片机的新型线阵CCD电路

CCD(ChargeCoupleDevice),即电荷耦合器件,是一种新型的一维图像信息的转换和探测器件,它通过光电转换可以将位置、角度、尺寸等信息转化成电荷信号,交给微处理器存储、处理,从而完成测量工作。由于CCD像元尺寸微小(7~4μm),利用光信号测量,所以CCD器件具有体积小、功耗小、高分辨率、非接触测量等优点,在许多特殊应用场合有着优越性,如高温物体尺寸测量、微小尺寸测量、高频振动测量等。几种传统CCD驱动时序的产生方法不同生产厂家、不同型号的CCD的驱动时序是不同的,加之在不同应用场合、对体积、成本、性能的要求不同,也就有了以…     

基于面阵CCD的圆形工件直径及不规则度测量系统

设计了一种利用CCD影像技术的非接触测量圆形工件直径及不规则度的测量系统。该系统采用面阵CCD拍摄待测工件横截面，利用DSP控制转动平台，带动待测物件以可调速度转动，可以采集各个方向上的精确图像。最后使用自行编制的数字图像处理软件处理所拍摄的图像，提取图像边缘，与模板拟合，根据各项参数计算出待测圆形物件的直径与不规则度。     

基于单片机的线阵CCD实时检测系统的开发

CCD（Charge Coupled Devices）电荷耦合器件应用系统的关键技术在于CCD驱动时序的产生和输出信号的采集与处理。目前驱动主要有直接数字电路驱动、EPROM驱动、专用IC驱动、复杂的CPLD驱动等常用的驱动方法，但是它们存在着逻辑设计较为复杂、调试困难、柔性较差等缺点。在数据采集和处理方面，大多数都经过差动放大、采样保持、A／D转换，再通过总线或采集卡等接口与PC机相连。     

高速高精度线阵CCD—TCD141C的原理及应用

ＴＣＤ１４１Ｃ是日本东芝公司生产的５０００位象元二相线阵ＣＣＤ器件，由于在工艺中采用了埋层沟道和加速电极结构，其工作频率可达２０ＭＨｚ象元及相邻象元中心间距已减小以７μｍ，实现了高分辨和高速读出，其光谱响应峰值已经移至紫光波段，应用十分广泛，本文介绍了其基本结构，工作原理，逻辑驱动电路，还给出了应用实例。     

CCD驱动电路设计的新方法

本文详述了以往设计ＣＣＤ驱动电路的三种方案，分析了各自的优缺点，并提出了一种新的设计方法。采用这种设计方法，电路简单，易实现。给出了用这种方法对ＴＣＤ１２００Ｄ驱支电路的具体设计实例。     

基于面阵CCD的密度测量系统研制

本文介绍了一种基于面阵CCD传感技术的带倒角柱形特殊工件密度测量系统。传统的接触式测量方法效率低、人为误差大。对此,提出采用基于计算机视觉技术的非接触式测量。在介绍测量原理的基础上,详细介绍了测量软件的图像处理部分,其功能包括图像灰度化、图像分割、轮廓提取、特征点坐标计算等。采用该技术能一次测量芯块的多个参数,实现了芯块密度及几何尺寸的快速准确测量,具有非接触、分辨率高和自动化程度高等优点,是密度测量的一项有效技术。     

面阵CCD相机驱动时序的研究

面阵CCD是应用于图像传感和非接触测量领域中重要的光电器件,在光电检测技术领域应用广泛.介绍了美国TI公司的面阵CCD TC237B的结构特性及工作原理,简要介绍了多种CCD时序驱动的方法,重点对逐行扫描单输出方式的驱动时序进行了全面、细致的分析.本文结合实际课题,使用在线可编程大规模逻辑器件实现了要时序产生电路.同时,该系统具有高可靠性、高稳定性、编程灵活等特点.     

用单片机精确测量线阵CCD上像点位置的原理和方法

本文指出利用线阵ＣＣＤ摄像进行精密测量，具有无接触，实时和便于与计算机结合的优点。在许多测量中常可归结为精确测量ＣＣＤ上像的位置，我们详细报道了用单片机完成这种测量的原理，方法和数据处理，接口电路及工作程序，同时报道了测量金属板位移和板厚的实验装置和结果。     

基于CPLD的面阵CCD驱动电路设计

在透射电子显微镜相机的研制中,针对SONY行间转移面阵CCD ICX285AL图像传感器,设计了一款基于CPLD的面阵CCD驱动电路。以Altera公司的CPLD芯片EPM570T100作为时序发生器产生CCD驱动信号和相关双采样控制信号,并搭建了驱动器电路和直流偏压电路。在QuartusⅡ13.1开发环境下利用Verilog HDL语言编程,并利用Model Sim SE 10.1进行仿真测试。实验结果表明,以CPLD为核心的驱动电路能够产生符合CCD要求的驱动脉冲和偏置电压,可稳定地输出CCD视频信号。     

基于FPGA的高速长线阵CCD驱动电路

高速长线阵CCD相机主要用于航天推扫系统等高速图像数据的采集。本文以DALSA公司生产的IL-P4线阵CCD为例,研究了一种基于FPGA的高速线阵CCD驱动电路的设计方法,首先,分析了线阵CCD的基本结构和工作原理,并阐述了IL-P4驱动信号的时序要求。在ISE 13.4开发系统上,运用Verilog描述的分频器,设计了基于Xilinx公司的Spartan 3E平台的驱动电路。最后,采用ISIM软件进行仿真,并用示波器测试出FPGA输出的驱动脉冲。仿真和实验结果表明,FPGA输出结果完全符合IL-P4的高速驱动信号时序要求。本研究对长线阵高速CCD驱动电路的设计与实现具有较好的参考价值。     

阵列UV-LED光源驱动电路的设计

为满足光固化用阵列紫外LED(UV-LED)光源光辐射能量高均匀性和稳定性的需求,设计多路输出的LED驱动电路,实现了工作频率280Hz,电压2~52 V自适应调整、电流0~700mA、占空比0~100%均可调的脉冲输出。试验结果表明,该驱动电路在保证工作寿命的前提下,实现了LED工作电流的精确控制,使光源光辐射能量得到精确控制,辐射面均匀性的调试变得简单可行。已在“LED曝光机”中得到应用。     

红外焦平面读出电路片上驱动电路设计

线列红外焦平面读出电路在正常工作时需要提供多路数字脉冲和多路直流偏置电压。本文基于0.5 μm CMOS工艺设计了一款驱动电路芯片,为电容负反馈放大型（CTIA）读出电路（ROIC）提供驱动信号。电路芯片采用带隙基准电路产生低噪声低温漂的直流偏置电压,采用数字逻辑电路生成CLK1,CLK2,RESET等八路数字脉冲。仿真及测试结果表明：驱动电路芯片输出的数字脉冲及偏置电压符合设计值,可驱动CTIA型线列红外焦平面读出电路稳定工作。     

线阵CCD筛选电路的设计与研究

航天任务中,为保证低等级器件的可靠性需要对其进行筛选。针对Kodak公司的商用CCD探测器KLI-2113,设计了可供12片CCD同时进行老炼试验的筛选电路,通过对各驱动信号的频率、宽度和相互位置关系的仔细调试,获得了满足信噪比要求的数字图像。在此基础上,针对12片CCD进行了老炼试验,试验结果表明,器件完全满足可靠性筛选方法的要求。本文中筛选电路的设计方法对其他航天任务中的低等级器件筛选也具有一定的参考价值。     

基于单片机的应答机值更电路设计

水声应答机采用电池供电,长时间工作在水下,需要在可靠应答测距基础上降低功耗。应答机采用值更-检测工作模式并合理分工,以MSP430单片机为基础设计值更电路。值更电路关闭一切不必要的电路,仅检测水上系统的控制指令,并给出回复。经实验验证在8 Ah供电条件下,应答机在满足应答功耗之外待机时间超过30天。值更电路性能稳定,功耗低,满足设计要求。     

基于FPGA的全帧CCD驱动设计

以加拿大Dalsa公司的全帧CCD图像传感器FTF4027M为例,在研究了全帧CCD结构和驱动时序的基础上,提出了基于现场可编程逻辑门阵列(FPGA)的驱动脉冲设计方法.选用FPGA作为硬件设计平台,使用VHDL语言对驱动时序发生器进行了硬件描述,采用Quartus Ⅱ 5.0对所设计的驱动时序发生器进行了仿真,针对Altera公司的FPGA器件EP1C3T144C8进行了适配.实验结果表明,设计的驱动电路可以满足其全帧CCD的各项驱动要求并且具有设计灵活、硬件调试简单的优点.     

全帧CCD时序驱动电路的设计

在了解国外先进科学级CCD相机的基础上,自主研发一种适合在工业无损检测中使用的相机。做的主要工作是设计和开发了一种面阵CCD驱动电路,介绍了全帧型面阵CCD光电传感器的成像原理、芯片结构、驱动时序的要求。通过分析各个引脚的关系,把用硬件描述语言（VHDL）编写的驱动程序,烧到FPGA芯片EP2C5Q208C8中。仿真结果及其用逻辑分析仪测得的实验结果表明该方法完全满足CCD芯片的要求。该方法能提供多路驱动时序,驱动频率高,硬件电路简单,编程方便,具有较好的性价比和应用推广价值。     

溅射法制备硫化锌薄膜的XPS剖析

用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）技术，测量了射频磁控溅射法（ＲＦＭＳ）制备的硫化锌薄膜（ＺｎＳ：Ｅｒ＾３＋）的表面及内部构态，认为氧吸附形成的表面构态是产生薄膜界面态和界面陷阱能级的主要原因，对研究器件的激发过程有参考意义