浅谈多芯片组件（MCM）的可靠性技术

介绍了多芯片组件（MCM）可靠性的研究方法和关键技术，指出多芯片组件（MCM0可靠性研究应以失效物理评价方法为主。     

LTCC组件技术及未来发展趋势

低温共烧陶瓷具有可实现高密度电路互连，内埋置无源元件，IC封装基板，以及优良的高频特性与可靠性，使之成为目前宇航、军事，汽车，微波与射频发刊词领域多芯片组件（MCM）最常用的技术之一。本文介绍了LTCC技术的现状及发展趋势。     

多芯片组件技术的发展及应用

多芯片组件技术（MCM）是现代组装技术的新概念,它的出现促进了SMT（表面贴装技术）与SMD（表面贴装元器件）的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能封装的最佳选择。     

MCM—C多层基板技术及其发展应用

本文系统阐述了MCM－C（陶瓷厚膜型多芯片组件）的三类多层基板的基本结构与工艺技术，并对MCM－C的发展趋势及应用进行了介绍。     

AIN三维MCM技术研究

三维多芯片组件（3D MCM）是在2D MCM技术基础上发展起来的高级多芯片组件，可以进一步提高组件的组装密度，实现更小的体积和更多的功能；同时，为了改善3D MCM的散热性，提高可靠性，采用高导热率、热膨胀系数与Si匹配的AIN作为共烧多层基板材料。本研究通过将二者的优点结合起来，成功地制作出了AIN 3D MCM样品，并对其应用进行了初步探讨，取得了一定的成果。     

MCM—L提供成本有效的多芯片组件

几年来，由于解决了很多微电路封装限制（如电参数、管壳尺寸、重量和系统的可靠性），多芯片组件（MCM）取得了长足的进步。但在对MCM缺乏经验的情况下，成本继续是潜在用户首要关心的问题。广泛应用MCM的场合是消费类产品，在此，成本和尺寸是首先考虑的问题。特别提出的是叠层式MCM能满足这样的要求。叠层式多芯片组件（MCM－L）特殊的优点包含了低成本、大容量的基权制造、这一点，广泛地影响着现存的IC组装工艺。     

MCM-C组装封装基本工艺流程研究

在简要介绍我所现有的低温共烧陶瓷（LTCC）型陶瓷多芯片组件（MCM—C）主要组装工艺技术和常用封装型式的基础上，重点进行MCM-C组装封装基本工艺流程的设计研究。     

MCM的组装和测试

多芯片组件（MCM）是介于IC和PWB的中间形式，由此而来，对于MCM的可制造性和可测试性问题必须在电路设计和封装设计的各个阶段中都予以重视。本文阐述了MCM基片、封装的选择及与系统可靠性有关的测试方法和程序。     

多芯片组件技术

概述了微电子封装技术的发展历史和多芯片组件MCM)技术的发展过程,介绍了MCM技术的特点、基本类型及其特性、三维多芯片组件和MCM的应用,并分析预测了未来微电子封装的发展趋势.     

多芯片组件及其技术发展现状

多芯片组件（ＭＣＭ）近年来发展迅速，正在成为电子产业的一个重要分支和前沿。本文综述多芯片组件的优点、特性、制作技术以及实际应用，分析多芯片组件主要制造技术的现状及发展趋势。     

关于多芯片组件的可靠性研究

多芯片组件（ＭＣＭ）技术已是整机系统实现小型化、多功能化、高性能和高可靠不可缺少的技术途径。对ＭＣＭ可靠性的研究也成为当前重要的研究课题。ＭＣＭ可靠性的研究主要针对四个方面：（１）多层基板布线金属与隔离介质界面结构和反应状况；（２）层间互连通孔的互连可靠性；（３）环境应力研究；（４）表面组装焊接部位的应力分析。本文简述了国外就ＭＣＭ－Ｄ在上述方面的研究概况，并提出我国多芯片组件可靠性研究的发展建议     

多芯片组件技术的逝期发展评述

本文阐述了多芯片组件（ＭＣＭ）近期的新发展，其中主要包括高级多芯片组件、低成本多芯片组件以及ＭＣＭ的新材料、工艺和检测技术。     

多芯片组件技术发展和应用综述

多芯片组件(MCM)以其在组装密度、信号传输速度、电性能以及可靠性等方面独J特的优势，成为当今极具发展潜力的二次集成及封装技术。本文介绍了这一技术的国内外发展和应用现状、发展趋势以及存在的主要问题，提出了未来我国多芯片组件技术发展的基本思路及其对策。     

三维多芯片微组装组件

三维多芯片组件（3D-MCM）是在二维多芯片组件（2D-MCM,通常指的MCM均系二维）技术的基础上发展起来的高级多芯片组件技术。二者的区别在于：3D-MCM是采用三维(x,y,z方向）结构形式对IC芯片进行三维集成的技术,而3D-MCM则是在二维(x,y方向）对IC芯片集成,即采用二维结构形式对IC芯片进入高密度组装,是IC芯片的二维集成技术。三维多芯片组件技术是现代微组装技术发展的重要方向,是微电子技术领域跨世纪的一项关键技术。     

基于MCM互连技术的LTCC基板研究

本文介绍了一种基于MCM（多芯片组件）互连技术的新型LTCC基板结构,在目前的工艺条件下实现了更高的基板平整度和电磁兼容（EMC）保护。我们将其应用于相控阵雷达TR组件的设计之中,经测试指标达到设计标准。     

新型MCM介质材料——光敏BCB

优良的介质材料是推动多芯片组件（MCM）发展的关键因素之一，因为在多层布线之间的绝缘层的介电常数越低，MCM的信号传输速度和封装密度就会越高。本介绍一种应用于MCM的新型介质材料－－光敏苯并环丁烯即Photo-BCB，对该材料的特性与工艺及其应用进行了详细说明。     

浅述KGD测试技术及质量保证

多芯片组件（Multichip Module，MCM）是一种先进的微电子组装技术，它在缩小电路或系统体积、减轻重量、改善电路性能与提高可靠性等方面的优越性，已经在多种电子装备和电子产品中得到证实，因而受到世界各国的高度重视，MCM是当前被人们普遍认为有发展前途的微组装技术。而合格芯片（Known Good Die，KGD）的生产技术和测试技术是MCM技术发展的必要条件，本文就KGD技术要求、方法以及KGD的等级的确定等问题进行探讨。     

多芯片组件的制造成本和成品率研究

多芯片组件技术推广应用的主要障碍是制造成本和成品率。本文主要讨论IC芯片和多层基板对MCM成本和成品率的影响以及如何降低其制造成本和提高MCM成品率。     

ANSYS在多芯片组件仿真设计中的最新应用进展

多芯片组件MCM（Multi Chip Module）是近年来迅速发展的一种电子封装技术。随着芯片封装密度的增加,计算机辅助设计CAE技术对其可靠性进行仿真分析显得越来越重要。文章综合介绍了ANSYS软件在MCM器件仿真设计中的最新应用进展,然后详细介绍了ANSYS软件在MCM封装、焊点疲劳和跌落分析中的应用情况。     

“十一五”混合集成电路行业发展趋势

目前，随着电子装备的小型化、轻量化、高速率、多功能、高可靠的要求，HIC在技术工艺水平方面发展到了一个更高集成的阶段．即多芯片组装技术（MCM）．这是第四代电子组装技术SMT的发展和延伸．是多层布线基板技术、多层布线互联技术、表面安装技术、微型元器件封装技术及相关裸芯片制造技术的综合和发展。MCM技术与VLSI芯片制造技术的有机结合，成为未来微电子技术的主流。带动了整个电子组装技术、印刷电路板技术和电子器件封装技术的发展。