AOI检测系统的光源照明模式和控制电路设计

针对在不同照明方式下会出现不同的缺陷特征,根据不同缺陷的检测方法和采用的照明方式密切相关的特点,设计了光源二级照明系统及控制电路。此系统可随着对象检测的不同而采用对应的照明方式,不同缺陷在相对应照明方式下,可检测到对象的最优图像质量。控制电路既能在不同的环境中调节光源的亮度,又可单独调节需要重点突出某一缺陷部分的区域,达到了AOI检测系统对各种元件图像采集检测的要求。     

基于照明缺陷的光源照明系统图像检测控制电路设计

在目前的机器视觉应用系统中,光源与照明是整个系统的关键问题,不同照明方式都存在一定的缺陷特征。为了满足图像采集检测精度要求,针对不同照明方式缺陷特征,设计光源图像检测控制电路。采用单片机开关电源芯片作为主控芯片,设计LED光源图像检测背光控制电路,由电压转换、恒流控制以及背光调整等电路部分组成,电路结构简洁,简化电路设计。经过测试,控制电路效率高,满足图像采集需求。     

基于菌群算法的飞机铆钉表面缺陷检测系统光源优化控制

由于飞机铆钉缺陷检测系统的光照效果对缺陷检测质量发挥着关键作用,因此本文对其照明系统进行优化。以被测零件背景图像灰度的均匀度为优化目标,在拟合LED点光源照度分布函数的基础上,利用菌群算法对光源系统参数进行寻优运算,根据寻优结果对光源系统进行结构优化同时对各LED点光源进行功率控制,并通过光学元件进一步提高优化效果。实验结果表明:优化后光照均匀度在95%以上,满足铆钉检测的光照要求。该方法实现了照明系统对铆钉顶圆面均匀照射的效果,成像质量显著提高。     

一种PCB表观检查机的无阴影高均匀照明方法

印刷电路板(PCB)表观检查机的检测算法,对亮度不均的阴影条纹的原始图像难以处理,最终影响PCB的检测性能。本文基于实验图像阴影条纹的形成机理,提出一种无阴影高均匀的PCB表观检查机照明方法。本方法采用4个荧光灯组成,其中两个光源与物面的镜面方向对称,用于高反射照明;另外两个光源用于漫反射照明。仿真和实验表明,本方法可以消除高反射曲面引起的图像阴影条纹,在PCB表观检查机系统中达到均匀照明效果且增强缺陷和背景的对比度。本方法也可应用于类似的高反射曲面的自动表观检查系统,如铝带缺陷检查,塑料薄膜缺陷检查等。     

多目视觉检测技术中的照明系统设计

多目视觉检测技术足通过多个CCD传感器,从不同角度获取同一目标的不同角度的图像,并对多幅图像进行匹配、分割、相减等处理技术获取目标信息的一种图像处理技术.多日视觉检测技术能够比单目视觉检测技术获得更多的图像信息,这就降低了后继处理的复杂程度,提高检测系统的测量精度、抗干扰能力以及测量效率.然而,由于需要获得不同的图像信息,这就使得它对图像的质量,照明系统和照明方式的要求比单目视觉系统的要求更高.根据实验要求,主要设计了多目视觉检测技术中的照明系统,实现了平行光照明技术在多目视觉检测中的应用,并搭建实验平台完成实验.验证了光源的种类、光源的照明结构、照明方式以及被测物体的光学特性、背景特性等是影响多目视觉检测的重要因素,为该技术的应用、推广提供了实验依据.     

基于空间全角度光源的钢球表面微缺陷检测

针对金属球面高反光及高曲率对表面微缺陷检测的不利影响,提出一种基于空间全角度光源和图像融合的检测方法。通过空间全角度光源系统提供不同照明方案扫描球面获得图像信息,利用图像融合对有效检测区域内微缺陷与背景的差异性进行累积,放大微缺陷与背景差异,提升微缺陷检测能力。实验结果表明,基于所提方法的检测装置对直径为20 mm、精度为G16的轴承钢球表面不同位置微缺陷的检测效果显著,解决了金属球面高反光引起的检测盲区问题,并对轴承钢球表面各种微缺陷具有良好的检测能力。     

基于机器视觉的啤酒瓶检测系统的设计

针对传统啤酒瓶检测系统速度慢、精度低等问题,该文设计了一种基于机器视觉的啤酒瓶空瓶检测系统。该系统以机器视觉为理论基础,重点介绍了LED照明光源和数字化光源控制器的设计以及图像处理技术中的问题。实验结果表明,该系统具有速度快、连续性好及检测精度高等特点,能够实现对啤酒瓶瓶口、瓶壁和瓶底的缺陷检测。     

一个成像镜头匹配双CCD的光路设计

介绍了一个用于自动光学检测方面的光路设计,用一个成像镜头及光源照明系统匹配2个CCD,用于设备的图像采集和观察分析,并分析了光路系统中需要考虑的一些问题及解决办法。该设计可以有效地简化设备结构,并有效地节约设备的总体成本。     

基于二值条纹动态照明的透明平滑曲面缺陷识别

针对在透明光滑表面视觉检测中,商用照明系统 较难获取高对比度曲面瑕疵特征的局限性,论文提出了基于二 值条纹的动态背向照明方法。该照明投影出一组等间距位移量的动态二值条纹图案,将亮暗 条纹之间的过度区覆盖至整 个待测表面,最大化缺陷与光滑表面的透射光线方向性差异。对动态条纹照明后的透明曲面 序列图像均值处理后,获取 均一背景下的缺陷特征图像。之后结合小波变换边缘提取与直方图全局阈值分割的方法,极 大增强了光滑曲面与平面上的外观缺陷信息。基于3D曲面手机玻璃的测试结果表明,该方法 成功提取出透明光滑曲面上的低对比度缺陷,为缺陷的准确识别提供了可靠保障,具有良好的应用前景。     

基于机器视觉的位置偏移检测技术研究

本文主要介绍了液晶类产品在生产过程中对ITO导电玻璃、斑马纸和电路板金手指的位置偏移检测系统的设计,系统主要采用机器视觉技术,配合光学设备以及自制小型光学暗室,获得满足系统需求的对比度的图像,再通过自主设计的图像处理软件对目标图像进行处理并计算各部分位置偏移的数值,最后通过对偏移的修正达到对齐的效果。     

近红外光谱技术在水果品质无损检测中应用的研究与现状

简单概述了我国水果产业的发展现状,着重阐述了国内外利用近红外光谱技术进行水果品质无损检测的最新研究进展,分析了当今研究中存在的问题,并对利用近红外光谱技术进行水果检测的前景进行了展望,提出了一些建议。     

“计算机组成原理”设计性实践教学模式研究

本文阐述了"计算机组成原理"设计性实验教学的重要性,对设计性实验教学的目的和基本特征进行了归纳,对"计算机组成原理"设计性实验教学的现状进行了调查,对存在的问题进行了较深入的分析;在此基础上.对组成原理设计性实验的教学模式进行了研究,对设计性实验的体系进行了初步设计,并对"计算机组成原理"设计性实验的实施方法进行了探讨.     

星载差分吸收光谱仪转动部件测试系统设计

基于星载差分吸收光谱仪转动部件控制需求,设计了星载光谱仪转动部件的测试系统。采用微动开关复位加定步的电机运动方式实现电机的精确定位。采用脉冲调制（PWM）的方式实现驱动电流的精细调节。并搭建平台对系统进行重复性测试,实验结果表明,测试系统具有较高的可靠性和稳定性,能够满足光谱仪的精确定位要求,使电机在工作寿命内按计划完成定标工作。     

杂质吸收对光子晶体滤波器设计的影响

为了研究杂质的吸收对光子晶体滤波器设计的影响,引入复折射率并利用特征矩阵法,计算了滤波透射峰的峰值和半峰全宽。滤波透射峰的峰值随杂质的消光系数增加而迅速减小,滤波通道透射峰的半峰全宽随消光系数增加而增大,滤波透射峰的峰值和半峰全宽都随吸收杂质的光学厚度的增加而减小。结果表明,设计光子晶体滤波器时,必须考虑杂质吸收这一重要因素,应选择消光系数小于0.002的掺杂材料,并且杂质的光学厚度应设计在2(λ0/4)左右。     

电子技术基础实验课程混合式教学设计

近年来,在线学习掀起了一场席卷全球的教育革命,MOOC/SPOC、翻转课堂、混合式教学对高等教育带来了前所未有的冲击。电子技术基础实验课程地位特殊,传统教学方式已无法满足创新性人才培养的需要,文章从其教学特点出发,提出了“线上教学+自主实验+翻转课堂”的混合式教学模式,同时还阐述了与此密切相关的集约化线上教学资源平台、智能化翻转教学环境以及多元化过程性考核评价机制三个重要环节。经研究发现,学生的课堂主动参与度、自主学习能力、创新思维能力、动手实践能力以及教师的教学创造力得到全面提升。教学环境支持课堂互动和全周期教学行为数据采集,体现了教学过程的信息化、教学实施的精准化和教学评价的客观化,实现了信息技术与实验教学的深度融合。     

非同相口径场瞬态辐射的计算

利用电磁脉冲的口径瞬态辐射场计算公式,针对圆形口径的线性相移、平方律相移等非同相口径场情况,计算了辐射高斯脉冲时的能量方向图、半能量波瓣宽度、面积利用系数等参数.计算表明,对于圆形口径非同相口径场,最大辐射场的方向为口径面法线方向,同时能量方向图关于口径面法线方向对称;随着口径的增大,波瓣变窄,无副瓣;随着平方律相移的滞后参数的增加,波瓣变宽,主瓣不分裂.     

Sn-Zn-Ag系无铅钎料焊接性能研究

讨论了电子软钎料的钎焊性能及其影响因素，并采用铺张面积法对Sn-Zn-Ag系钎料钎焊性能进行评估。钎料的钎焊性能很大程度上取决于钎料对基板的润湿性能，而润湿性能与液态钎料在基板上的液、固、气三相界面的界面张力有关。对润湿角(θ)与铺展面积(S)之间的关系进行了探讨。     

两种自适应杂波抑制技术的比较：AMTI及ADPCA技术性能的分析和比较

本文在讨论机载雷达地面杂波回波的基础上，分析了ＡＭＴＩ和ＡＤＰＣＡ系统的性能。对这两个系统从原理上，并利用计算机模拟结果及实验结果进行了比较。本文将有助于工程实现。     

一种新型应答机数字化终端的实现

本文介绍了一种用数字信号处理器（DSP）及现场可编程门阵列（FPGA）实现脉冲应答测距和指令数据接收双重功能的数字化终端。     

凋亡神经元线粒体超微结构的形态计量学分析

目的:观察并分析人大脑皮层凋亡神经元线粒体超微结构的形态计量学变化.方法:取21例脑外科手术患者的额叶大脑皮质超薄切片中的正常神经元和凋亡神经元的电镜照片各80张,分为对照组与凋亡组.采用形态计量学方法对两组神经元的细胞体、细胞核、线粒体及细胞质基质灰度进行分析.结果:与正常神经元相比,凋亡神经元线粒体的体密度、面密度、数密度、比膜面明显增大(P＜0.01),比表面无明显改变(P＞0.05),线粒体基质与细胞质基质灰度之差明显增大(P＜0.01).结论:凋亡神经元线粒体未发生明显肿胀或增生,但其内膜和嵴的面积明显增加,基质密度降低.