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1996年展望硅微电子技术发展趋势(续)北京微电子技术研究所(北京100076)许忠义,白丁4.1.3金属导体层金属导体包括Al(掺Cu3%)、W、Cu。当TiN淀积后,一般用CVDW填充接触孔或通孔。WCVD是相当成熟的技术。用AlCVD来填充接触... 相似文献
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报道了YBa2Cu3O6.3和PrBa2Cu3O6.3多晶陶瓷c抽取向薄膜中的红外光谱,在PrBa2Cu3O6.3中以9个声子模,对应于5Eu+4A2u振动。在YBa2Cu3O6.3材料中观察到10个声子模,对应于6Eu+4A2u振动,其中Pr的Eu和A2u模分别为位于170cm^-1和198cm^-1,Y和Eu和A2u模分别位于191cm^-1和217cm^-1PrBa2Cu3O6.3和YBa2 相似文献
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纯铜渗铝层的电子探针研究马永庆于志伟(大连海事大学金属材料研究所,大连116026)本文用JXA-733电子探针研究了纯Cu渗Al层的Al浓度分布和相组成,为制备Cu-Al2O3复合材料的研究提供前期工作。实验用纯Cu(99.9%)试样尺寸为20×1... 相似文献
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李炳宗 《上海微电子技术和应用》1995,(4):26-36
随着半导体微电子器件制造技术迅速发展,多层金属互连技术对于提高器件集成度、速度和可靠性更为重要,需要不断发展新型多层金属互连结构、材料和工艺,本文介绍近年正在发展的一些多层金属互连新技术,如多层复合金属化体系、Cu等新型薄膜互连材料,TiN在互连技术中的多种用途,新的介质薄膜材料及工艺、平坦化技术等。 相似文献
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CuAlNiMnTi形状记忆合金时效残余母相的高分辨电镜观察彭红樱李斗星(中科院金属研究所固体原子像开放研究实验室,沈阳110015)CuAlNiMnTi形状记忆合金具有比CuZnAl更高的母相强度和抗时效稳定性[1],但是该合金在母相β1状态下的时... 相似文献
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我们在具有Y稳定的ZrO_2(YSZ)层的蓝宝石上获得高质量的YBa_2Cu_3O_7(YBCO)高温超导薄膜。在零磁场下,77k时,其临界电流密度达到1.6×10 ̄6A/cm ̄2。本文确定了多层膜超导材料的取向关系。YBCO膜的(001)面平行于YSZ过渡层的(100)表面。YSZ层厚为20nm。并且,由于Ba自YBCO层的外扩散,YSZ层含有Ba。尽管蓝宝石与YSZ层间的晶格铅配很大,由于YSZ层具有[100]择优取向,仍能获得准单晶的YBCO薄膜。在YBCO薄膜中,观察到均匀分布的、微小尺寸的Y_2BaCuO_5(211相)沉淀粒子,它们也有利于提高临界电流密度。 相似文献
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本文通过对工艺条件的控制,获得了铜系混合导体材料Cu2Mo6S7、7、Cu2Mo6S8.0及Cu4Mo6S8.0.x射线衍射物相分析表明为Mo6S8结构的单相,并采用分析化学方法对其化学计量进行了分析,通过测试得到了三种混合导体的总电导率σ和离子电导率σi·当混合导体Cu2M06S7、7与固体电解质Rb4Cu16I7Cl13复合后可改善其电化学性能,复合比为2:1时,总电导率σ和离子电导率σi可达75(Ω·cm)-1和7×l0-2(Ω·cm)-1。 相似文献
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加弧辉光离子渗钛层相组成的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
本文采用加弧辉光离子渗金属技术,实现了在不同含碳量普通碳钢表面的渗钛。对渗层合金元素的分布进行了测定;并应用X射线衍射及透射电镜测试方法,研究了渗钛层的相组成及相分布。分析结果表明:在低碳钢(0.1wt.%C)试样表面形成的渗层为固溶了一定钛元素的合金铁素体α相,同时含有ξ-FeTi中间相及碳化物γ-TiC,当含碳量高时(0.6,1.2wt.%C),试样表面形成以碳化物γ-TiC为主的化合物渗层。 相似文献
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用电子衍射方法给出了Al-2.6Li-1.3Cu合金中T1相的各种变体,并通过T1相与母相的位的向关系及T1相的分子组成描述了T1相的生长机制,T1相呈不规则薄片状,通过消耗δ相及从基体中吸取Cu原子逐渐长大,T1相长大速度是各向异性的,侧面长大速度大于厚度方向的长大速度。 相似文献
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YBa2Cu3O7/PBa2Cu3O7多层膜微结构的高分辨电镜研究刘维张云孙吉军*赵柏儒*李林*(中国科学院物理研究所,*国家超导实验室,北京100080)通过改变非超导层的厚度,可以有效地调节超导薄膜的各向异性,所以多层膜的制备和研究能够加深对层状... 相似文献
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通过拟合YBa2Cu3O(7-δ)(δ=0.1,0.4,0.8)和PrBa2Cu3O7外延膜的室温飞秒瞬态反射谱,研究了其非平衡载流子的超快弛豫动力学,计算了电声耦合常数λ.发现随着氧含量的降低及用Pr替代Y,Cu-O面上载流子浓度降低,非平衡载流子的弛豫时间增加而电声耦合常数明显减小.这表明电声耦合与载流子浓度的依赖关系,电声相互作用可能是一种实空间局域相互作用. 相似文献
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Au/Sn与p—HgCdTe的欧姆接触 总被引:3,自引:1,他引:2
研究了双层金属结构Au/Sn与p-HgCdTe上的接触电阻,实验测得Au/Sn与p-Hg1-xCdTe(x=0.217,0.41)的经接触电阻,ρc(295K,77K)为10^-2~10^4Ω.cm^2将这种电板接触应用于Hg1-xCdxTe(x=0.23)光伏器件,测得pn结I-V特性的正向斜率为12.6Ω即电极接触电阻小于12.6Ω。 相似文献
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C60与金属:界面相互作用和取向关系侯建国1,2王兵2张庶元1李永庆2王衍2徐文涛2曾建林2(中国科学技术大学,1.中国科学院成分与结构分析开放实验室,2.基础物理中心,合肥230026)C60与金属间的相互作用始终是科学家的关注焦点。在C60-碱金... 相似文献