共查询到2条相似文献,搜索用时 0 毫秒
1.
Jack Weimer 《中国集成电路》2011,20(6):76-79
1介绍测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样,芯片的测试要求也越来越复杂,如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同,测试生产线 相似文献
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1.
Jack Weimer 《中国集成电路》2011,20(6):76-79
1介绍测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样,芯片的测试要求也越来越复杂,如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同,测试生产线 相似文献
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