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介绍了第42届IEEE HOLM暨第18届国际电接触会议概况及国际上对触头材料的研究状况。 相似文献
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一、会议概况 第42届IEEE HOLM电接触会议暨第18届国际电接触会议于1996年9月16~20日在美国的芝加哥市召开,出席会议的代表约220人,分别来自美国、英国、法国、加拿大、瑞士、中国、德国、奥地利、日本、俄罗斯、波兰、瑞典及马来西亚等近20个国家或地区。其中来自美国的代表占百分之八十强,中国代表4人分别为西安交大的王其平、陈德桂,北京邮电大学的章继高和华中理工大学的李震彪,收录于会议文集的论文60篇,在提交论文的约90个单位中, 相似文献
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IEEE Holm电接触会议是由IEEE的专业技术协会与IEEE Holm电接触会议执行委员会共同组织的电接触领域内代表国际最高水平的国际会议之一。第一届会议始于1953年,此后基本上每年举行一次,最近一次是2006年9月刚刚在加拿大蒙特利尔举行的第52届年会。本文介绍了Holm会议的发展历程、相关活动、国内作者的参会情况和国内外与电接触相关的会议信息。 相似文献
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TC-1(第一技术分委员会),即电接触、联接器和电缆技术分委员会(TC—ECCC)隶属于IEEE下属的元件、封装和制造技术协会(CPMT),其活动领域主要集中于电接触、电气联接器和连接电缆方面。第一技术委分员会的会员由对电接触部件和对包含电接触部件的设备的研究、开发、制造和应用感兴趣的个人组成。分委员会通过霍尔姆机构及具有特别目的的任务组组织定期的会议和社会活动。分委员会发起或资助相关的会议、出版物、教育、标准和其它活动。 相似文献
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本文介绍了GW4系列隔离开关新旧两种出线座及折架式隔离开关联轴节的电接触结构,并对三种不同的滚轮触头的接触性能进行了分析对比,提出了隔离开关在长期运行后通流能力下降的原因及其结构改进意见。 相似文献
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W-Cu触头材料的电寿命研究 总被引:4,自引:0,他引:4
研究了W-Cu系列触头材料的电弧烧损规律。触头材料的电弧烧损随开断次数的变化分为老炼、稳定和失效三个阶段,其中稳定阶段的长短是影响电寿命的决定性因素。还发现蚀头材料的电弧烧损主要是触点在断开和闭合的过程中,产生电弧或其它放电现象的热效应所造成的。材料的比热容、密度、熔点和电导率决定触头的电寿命。 相似文献
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