超短激光打靶光路的准直和监测

超短超强激光系统具有广泛的应用前景，这些应用需要结果可重复，这就要求激光系统首先必须保持稳定的状态。一个已经调整好的激光系统，即使光学元器件位置已固定，但由于温度变化、反射镜机械结构蠕变、地基和支撑架微振动、振荡器输出光束方向漂移和其他随机因素的影响，仍然会造成光束偏离原定光路，即入射的激光光束出现了角移和平移。因此，在新一轮激光打靶前必须重新校正光路。     

强激光与加速器——激光工程组工作进展

在2007年度，围绕定量开展状态方程实验研究，进行“天光”装置精密化的课题目标，主要完成了如下工作：对两台电子束泵浦的激光放大器进行了一次全面的检修和维护，解决了以前运行中出现的一些问题；根据实验需要，更新了“天光一号”数据采集系统的硬件和软件系统；进行了放大器二极管阴极材料和阳极膜寿命的实验研究；对平滑化角多路系统进行了部分优化（主要包括：     

抛面镜聚焦特性的研究

飞秒激光在介质中传输时，实际光束总是或多或少地带有无规则调制或起伏，会产生光束分裂、传输介质的丝状破坏、光谱加宽、三次谐波等很多非线性效应，使光束质量下降，这些后果对于聚焦打靶都是致命的。离轴抛面镜（off-axisparobola，OAP）由于其可完全避免激光在穿透介质时所产生的非线性效应，及其对高强激光有很好的耐用性，目前已被广泛用于高功率超短脉冲激光束的聚焦、偏转光路中。     

BSRF新束线3W1光束线的真空控制保护系统

本扼要介绍了光束线真空控制保护系统的设计思想、设计要求、系统的作用和某些改进。此外，系统在设计了上采用了新技术－可编程序控制器（PLC），使控制系统的可靠性和灵活性得到了进一步的提高。研制这个系统的主要目的是，当光束线上出现（由铍窗或波纹管等偶然破裂引起的）灾难性真空事故时，能够有效地保护北京正负电子对撞机中的大型超高真空装置－电子储存环的真空系统不会遭到这种灾难的破坏，使其安全运行。本光束线的真空控制保护系统于1996年投入试运行，于1998年年底通过院级鉴定和验收。     

六束平滑光聚焦系统设计

“天光一号”的六束角多路系统改进为适合平滑光束的系统后,由于目前的每一束光都具有大的发散角,以前的聚焦透镜无法将现在的平滑光束聚焦到我们实验需要的尺寸,因此以前针对平行光设计的聚焦打靶系统不再适合于现在的光束,因此需要改进。排除了用一块透镜聚焦的办法,因为用一     

天光一号预放大器自动准直技术研究

天光一号高功率KrF准分子激光装置采用光学角多路实现了六束激光的主振荡功率放大，其光路复杂，人工调节繁琐，指向精度难以保证，且激光波长为248 nm，属于深紫外波段，无法采用常用的光束自动准直方法。为了保障六束激光聚焦叠加并稳定精准地照射到靶面上，需开展适合天光一号装置激光参数及光路特性的自动准直技术研究。本文以预放大器三束输入、输出光路为研究对象，探索适合天光一号装置的自动准直方法，建立了预放大器光路自动准直系统，实现了快速、高精度光束的调节，验证了自动准直方案的可行性，为天光一号KrF准分子激光装置实现全光路自动准直奠定了技术基础。     

NSRL软X射线磁性圆二色光束线

本文对合肥同步辐射（NSRL）二期工程软X射线磁性圆二色光束线进行了介绍。束线主要包括斩波器系统、前置镜系统、单色器系统、后置镜系统、真空系统、软件及电子学系统。光束线的预期指标为：光通量10^8s^-1,实验站的波长范围为100-1000eV,圆偏振度0．6-0．8（随波长变化而变化）,在1000ev处的能量分辨率为1000,在实验站的焦点处光斑大小为水平方向3mm,垂直方向1mm。     

国家同步辐射实验室真空紫外光束线的改造

分析了原光束线存在问题的原因,并提出了改造方案;经过优化设计,确定了光路设计及光学元件参数;经过初步测量,改造后的光束线可达到原来的设计指标。     

BSRF 3W1高功率扭摆磁铁光束线真空控制保护系统的设计

本真空控制保护系统是为北京同步辐射装置（BSRF）上的3W1高功率（总功率为2.54W）扭摆磁铁（Wiggler)光束线（包括前端区、3W1A和3W1B）而设计和建造的。主要建造目的是,保护北京正负电子对撞机（BEPC）电子储存环的超高真空系统和其它光束线不要受到在某一条光束线上突然发生的灾难性真空事故的破坏,以及保护无水冷却和冷却水意外中断了的光束线部件不要被扭摆磁铁发射出来的高功率同步辐射所损坏。此外,在活动水冷挡光罩关闭之前,为了防止快速阀的阀板因过热而被损坏,在快速阀中使用了一种熔点温度为1680℃的钛合金阀板。为了给扭摆磁铁光束线提供一个可靠的真空控制保护系统,系统设计是以F1－60MR型可编程序控制器（PLC）为基础的,PLC负责管理系统的状态监测、真空联锁、控制、自动记录和故障报警等。本文叙述了系统的设计。     

2007年“天光一号”加速器检修年度报告

2007年“天光一号”加速器检修工作从2007年11月19日开始，至2007年12月27日结束，历时30个工作日。检修的内容包括：1）实验室地线改造；2）检修冷却循环水系统；3）检修气系统和排气系统；4）检修高纯水循环系统；5）检修加速控制系统；6）检修水处理系统；7）检修油处理系统；8）检修主开关激光注入系统；9）检查二极管阴、阳极和主膜；     

天光一号装置六束平滑光MOPA光学角多路系统研制

利用天光一号装置前端激光器(LPX-150型放电泵浦氟化氪激光器)输出的光束平滑均匀性甚好的部分非相干光(248 nm、ASE光源)作为MOPA系统的种子光源,设计并组建了六束平滑光MOPA光学角多路系统。 该系统光路设计的基本原理是,将前端激光器中ASE光源的物面,通过严格的4F像传递传输     

天光一号预放大器自动准直技术研究

天光一号高功率KrF准分子激光装置采用光学角多路实现了六束激光的主振荡功率放大,其光路复杂,人工调节繁琐,指向精度难以保证,且激光波长为248 nm,属于深紫外波段,无法采用常用的光束自动准直方法。为了保障六束激光聚焦叠加并稳定精准地照射到靶面上,需开展适合天光一号装置激光参数及光路特性的自动准直技术研究。本文以预放大器三束输入、输出光路为研究对象,探索适合天光一号装置的自动准直方法,建立了预放大器光路自动准直系统,实现了快速、高精度光束的调节,验证了自动准直方案的可行性,为天光一号KrF准分子激光装置实现全光路自动准直奠定了技术基础。     

微波等离子体炬全谱仪

本实用新型的微波等离子体炬全谱仪属原子发射光谱分析用多波长同时检测的光谱装置。其结构包括微波功率源系统、样品引入系统、微波等离子体炬系统、光路系统、分光检测系统和计算机系统。微波功率源系统设计为内置水冷式；光路系统由凹面反射镜和光纤组成；分光检测系统采用平像场光栅与紫外增强阵列检测器相配合，     

BSRF-4W1A纳米成像光束线调试

为了给新建的30nm空间分辨成像系统提供稳定的5–12keV照明X射线,BSRF新建造了一条纳米成像光束线。该项目从2007年开始,目前已经完成光束线调试并投入使用。光束线各参数测试的结果表明,光束线主要性能达到了设计指标,可以满足后续纳米成像系统的要求。本文对该光束线的具体调试过程进行了总结,可为今后类似工作提供参考。     

NSRL红外光谱实验站及应用

简要介绍了国家同步辐射实验室（NSRL）红外与远红束线和实验站,包括光源特性、光束线结构、实验站设备简介,以及红外同步辐射在超高分辨率光谱、红外显微术、表面科学方面的应用。     

上海同步辐射装置医学应用光束线和实验站物理设计

完成了上海同步辐射装置医学应用光束线和实验站的物理设计，并开始了有关技术设计及其难点的初步考虑。采用一个磁场强度为1.8T、周期数为10的多极扭摆器为冠状动脉心血管造提供所需的强X光束；利用一块Laue弯晶Si(111)单色器可得到比所需大三倍、能量分别在碘吸收边上下的二束单色X光束；造影过程将通过病人座椅的扫描运动和一个双列线形探测器来实现。     

北京同步辐射装置4B7A、4B7B光束线高次谐波抑制系统初步设计

为了提高北京同步辐射装置(BSRF)中4B7B软X射线光束线在45-450 eV能区和4B7A中能光束线在1200-2100 eV能区输出单色光的光谱纯净度,我们分别为两条光束线设计了高次谐波抑制系统.该系统主要由平面反射镜组成.我们确定了所有平面反射镜的镀层和掠入射角,并且对其性能进行了计算,结果以图形的形式呈现.     

西格玛火灾报警系统的CRT图文显示系统

引进ＳＩＥＭＥＮＳ的ＳＩＧＭＡＳＹＳ技术，研制开发了适应中国市场需求的西格玛系统的中文显示系统。它主要包括：（１）数据采集接口；（２）缓图软件包；（３）实时处理和操作系统。数据库接口实现与报警控制器及计算机的双重通讯，同时实现一些如筛选、应答等简单的功能；绘图软件主要是绘制楼层平面图消防设施的具体标识符号和各房间的门牌号码；实时处理和操作系统实现数据通讯，实时处理火灾报警，显示设备故障，处理消防联     

具有束线位置探测功能的同步辐射束线狭缝

根据8．5XAFS束线改进工程的需要，我们设计了一种应用于同步辐射光束线的狭缝，该狭缝不但可限制同步辐射光束的截面尺寸，同时具有光束线位置探测功能。可以方便地测量光束的垂直分布及中心位置：迅速准确地准直狭缝及对光束移动做实时监测。     

高功率紫外超短激光脉冲光束质量研究

通过搭建传输和聚焦光学系统,采用CCD相机测量了高功率紫外超短脉冲激光系统的光束质量参数,如紫外种子光及其经过KrF准分子激光器放大后的焦斑光强空间分布、焦斑尺寸及极限衍射倍数β。结果表明,紫外种子光光束质量良好,β接近于1。经放大后,光束质量劣化,β达到6左右。经分析,光学元件的表面缺陷可能是导致光束质量下降的主要因素。