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目的在多印刷工艺的复杂印刷系统中,研究无冗余计算的计算机辅助印刷工艺规划算法。方法首先,在研究多色集合理论的基础上,按照给出的分层模型构建策略构建出"印刷需求双层模型"和"印刷工艺双层模型"。然后,计算出可用"工序组",并据此构造最小规模的产品围道和围道矩阵。最后,利用分层工艺算子搜算算法计算出可用工序,从多色图中获得待印品的工艺路径。结果建立了一种基于多色集合理论的分层印刷工艺规划理论。结论基于多色集合理论的分层印刷工艺规划可有效地降低工艺算子搜索过程中的冗余计算。 相似文献
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基于遗传蚁群算法的并行测试任务调度与资源配置 总被引:1,自引:0,他引:1
针对多UUT(Unit Under Test)并行测试任务调度与资源配置问题,提出了一种遗传蚁群融合算法.应用遗传蚁群融合算法能快速、准确地寻找到具有最大成本效率的多UUT并行测试资源配置和任务序列.建立了多UUT并行测试任务资源描述的数学模型,分析了多UUT测控资源合并的条件,得出最短并行测试时间基础上的最少资源需求,给出了成本效率的定义,设计了一种满足多UUT并行测试任务调度的基因编码方法和路径选择方案.算法初期利用遗传算法的快速收敛性,为蚁群算法提供初始信息素分布,蚁群算法采用双向收敛的信息素反馈方式,避免了对参数的依赖,减少了局部收敛性,加快了收敛速度.实例表明,该算法能很好地解决多UUT任务资源最优调度与配置问题. 相似文献
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在测试领域,被测对象的测试需求一直是一个比较模糊的概念,本文参考TYX公司对测试需求的定义,针对某型装备的测试需求,开展了基因表达式编程算法的研究.根据制导电子箱的电路特点,设计了基于IEEE 1641标准的运算符集合和变量集合、基于R-square的适应度函数、基于精英主义和轮盘赌算法的选择策略.采用部分映射、启发式变异算子和面向测试应用的插串算子和重组算子.提出了一种基于基因表达式编程算法的装备测试需求建立方法,并进行了系统实现.实验结果表明,该方法可以根据装备的观测数据生成制导电子箱的测试模型,得到装备准确的测试信号需求和具有参考意义的测试方法,此方法具有一定的通用性. 相似文献
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为了满足卫星地面站和测试站相距数百公里部署场景下进行地面链路指标测试、卫星在轨测试、任务阶段频谱监视等多任务在轨测试需求,对传统在轨测试系统进行了设计改进,提出了一种基于柔性测试网络的测试系统构建思路.提出了利用等幅多载波群时延测量方法进行异地群时延测量;设计了光传输链路替代传统波导的微波信号传输链路,并进行了可行性试验;构建了可自动切换满足各阶段各类别测试项目并行测试的柔性测试网络;测试软件的服务端采用面向服务的软件架构,测试客户端采用平台加插件架构,实现了测试系统设备可定义、任务可并发、流程可定制的能力. 相似文献
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多项目并行的人力资源管理日益成为研发型企业合理配置各类资源、实现利润最大化的有效方式。从项目成本和多能工满意度角度出发,运用第2代非支配排序遗传算法和蚁群算法对多能工分配问题进行研究。考虑多能工技能组合与项目任务需求之间的匹配以及技能熟练水平对任务作业时间的影响,构建了以实现多项目总工期和多能工间工作量均衡为目标的优化模型。根据模型的约束条件,提出了一系列启发式规则提高算法效率,并结合第2代非支配排序遗传算法和蚁群算法的特点,利用新开发的算法对模型进行求解。通过数值算例验证了模型和算法的有效性。 相似文献
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针对多组动力锂电池多电性能参数测试过程存在测试通道闲置,整体测试时间较长、测试效率低的问题,研究动力锂电池模组多工位测试系统,并提出动力锂电池模组多工位多电性能参数任务调度方法.通过对电性能参数测试任务进行拆分并构建任务单元测试路径集,基于测试路径集求解任务调度总时间;基于蚁群算法(ant colony algorit... 相似文献
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王刚 《纳米技术与精密工程》2014,(2):135-139
为实现加工前对表面粗糙度的预测,建立高精度的表面粗糙度预测模型至关重要.针对钛合金立铣表面粗糙度的特点及传统预测方法的不足,提出了表面粗糙度预测新方法.分别用递推最小二乘算法、基本蚁群算法与混合蚁群算法训练模糊系统,混合蚁群算法的收敛效果优于递推最小二乘算法和基本蚁群算法.通过回归分析建立了表面粗糙度的两种经验公式.对各方法所得模型进行测试,结果表明混合蚁群算法训练模糊系统的预测效果优于其他方法,用混合蚁群算法训练的模糊系统进行表面粗糙度预测是可行的. 相似文献
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基于数据切片的系统芯片测试控制技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
在基于总线结构的系统芯片测试中, 提出了在考虑扫描控制信号的条件下, 采用测试数据切片的测试控制方式来降低测试调度的粒度, 从而提高测试访问机制带宽的利用率. 并给出了在这种控制方式下测试时间的下限值. 最后采用 VCS 仿真器在 Benchmark ITC'02 中若干电路上对提出的测试控制方法进行仿真实验, 结果显示: 相对于文献[Kumar S, Marinssen E J. Control-Aware Test Architecture Design for Modular SoC Testing[C]. IEEE Proceedings of 8th European Test Workshop, Maastricht, The Netherlands: IEEE CS, 2003:57-62.]中考虑了测试控制的最优结果, 测试时间要缩短约 12.00%~21.90%;另外, 相对于其它文献中不考虑测试控制的结果, 测试时间还要缩短大约 1.82%~30.40%. 相似文献
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电能表温度影响试验自动测试系统是运用计算机自动控制技术,对恒温恒湿室的温度进行自动控制,在恒温恒湿室的各个恒定温度点分别对被检电能表的误差进行自动检验,最终自动计算出电能表的基本误差随外界温度改变的变化率。自动测试系统不仅可以大大延长有效试验时间、提高设备使用率,还可以达到减少人工、减少人为差错的目的,更能提升整个温度影响试验过程的严谨性和规范性。在提出自动测试系统的总体设计要求后分别介绍了该系统的硬件和软件的技术方案。 相似文献
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热量表作为热计量贸易结算的重要计量器具,必须保证计量的准确性和长期可靠性。国产热量表投入市场后质量问题频出,部分已被进口产品取代。国产表在使用中出现的问题虽然很多,但最终都归结于长期稳定性不好。反映到试验测试上,即为耐久性测试试验,该试验也是国产热量表与欧洲产品标准在技术要求上最大、最重要的差别项目。本试验针对国产热量表建立基于4000次变温度试验的研究,与2400 h+300 h试验方式进行比较,实现国产表耐久性评估的完善与延续,在国内首次实现对热量表长期应用性实验室条件下的全面技术评估,提升我国热量表产品质量水平,推动热量表行业转型升级,促进供热计量改革的进行。 相似文献
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