2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的＂第74届中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会＂在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中引电子器材总公司联合主办的“第74属中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会”在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知

国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件,极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目,要求紧密结合经济社会发展的重大需求,培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位,我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长,其在电子信息产业中的处于核心地位,对国民经济和社会发展发挥了重要作用。但是在我国目前集成电路产业格局中,测试是相对薄弱环节,国产集成电路设备市场占有率很低,研发严重滞后,与国外水平差距越来越大,已严重影响我国集成电路产业的发展。     

2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知

国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件,极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目,要求紧密结合经济社会发展的重大需求,培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位,我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长,其在电子信息产业中的处于核心地位,对国民经济和社会发展发挥了重要作用。但是在我国目前集成电路产业格局中,测试是相对薄弱环节,国产集成电路设备市场占有率很低,研发严重滞后,与国外水平差距越来越大,已严重影响我国集成电路产业的发展。     

2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知

国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件,极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目,要求紧密结合经济社会发展的重大需求,培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位,我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长,其在电子信息产业中的处于核心地位,对国民经济和社会发展发挥了重要作用。     

台达自动化技术研讨峰会在上海隆重召开

近期,约70位台达、中达电通的技术菁英齐聚上海,召开＂2010台达自动化技术研讨峰会＂——中达电通机电事业部总经理吕石安先生、台达吴江厂区资深技术经理颜良益先生亲自参会,并作了专题报告。     

聚焦航空航天测控技术新发展研讨会在2014成都电子展成功举办

正2014年7月11日,由中国电子器材总公司、中国电子学会、中国电子仪器行业协会主办,中国电子学会电子测量与仪器分会、中电会展与信息传播有限公司、《国外电子测量技术》承办的2014中国(成都)电子展系列活动之第二十届国际电子测试与测量专业研讨会——聚焦航空航天测控技术新发展在成都世纪城新国际会展中心成功召开。     

生生不息——我国集成电路测试的自主创新之路

信息化时代,集成电路呈现了高集成度、高性能、微型化、低功耗等特点。互联网的发展为集成电路技术的发展提供了更多的机遇与挑战。我国具有全球最大的集成电路产业应用市场,也是最大的集成电路产品进口国。虽然我国的集成电路技术与国外先进技术还存在一定的差距,但是芯片国产化已经成为当今的一个重要课题。中国集成电路产业的迅速发展,为集成电路测试技术科研工作和产业化提供了难得的机遇,也为北京自动测试技术研究所在测试产业化发展中发挥其技术和市场优势提供了广阔的舞台。在此,为深入了解我国集成电路技术发展情况以及北京自动测试技术研究所为我国集成电路发展所做的贡献,《国外电子测量技术》特地采访了北京自动测试技术研究所张东所长为各位读者带来北京自动测试技术研究所关于集成电路测试方向最新的研究进展。     

北京集成电路测试技术联合实验室启动仪式成功举办

2009年11月30日，北京自动测试技术研究所泰斯特大厦，北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”正式启动。     

北京集成电路测试技术联合实验室启动仪式成功举办

2009年11月30日,北京自动测试技术研究所泰斯特大厦,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”正式启动。     

2005年测控、计量、仪器仪表学术年会将于9月召开

由中国电子学会电子测量与仪器分会、中国计量测试学会国外仪器技术专业委员会、中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会及《电子测量与仪器学报》杂志社承办组织的2005年测控、计量、仪器仪表学术年会（MCMI’2005）定于2005年9月25至29日在湖北省宜昌市召开。同时召开的还有以上三个二级分会的工作会议和学报编委会会议。     

2011上海安捷伦测试测量大会成功召开

2011年3月23日,一年一度的安捷伦测试测量大会在上海锦江饭店隆重召开。安捷伦测试测量大会是亚洲地区规模最大的测试盛会,每年都会在亚洲各个城市之间巡回展出。     

集成电路测试技术的新进展

近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是：IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFY测试、并发测试和开放式体系结构ATE。     

中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作测试验证高端集成电路“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立

全球领先的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技公司（NASDAQ：VRGY）与中国电子技术标准化研究所（CESI）在北京联合宣布“CESI—Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立，旨在满足北京乃至国内高端集成电路测试方面日益增长的需求。此举再次表明惠瑞捷科技将世界一流的研发、制造和服务带到中国半导体的供应链中，通过与客户的密切合作，致力于推动中国半导体行业的发展。     

2010中国仪器仪表与测控技术大会成功召开

2010年10月29—31日,中国仪器仪表与测控行业的国仪器仪表与测控市“明华国际会议会议由中国仪器仪大学、重庆大学、电子测量与仪器分报》杂志社共同承品牌盛会——“中技术大会”在深圳中心”隆重召开。表学会主办,深圳中国仪器仪表学会会、《仪器仪表学办。     

第十五届国际工业自动化与控制技术展览会暨中国国际传感器、测试测量展览会即将召开

由中国自动化学会以及德国纽伦堡会展服务（上海）有限公司主办的第十五届国际工业自动化与控制技术展览会暨中国国际传感器、测试测量展览会将于2011年6月15～17日在上海新国际博览中心举行。本次展览会将聚焦当前自动化技术的热点应用行业,通过展览会以及研讨会的活动汇聚自动化专家、企业以及用户行业专家共同探讨自动化技术的行业渗透。