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相似文献
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1.
在过去的六年中,伊利诺斯州Lisle市的Molex公司在满足高性能Rambus存储系统要求的互连产品的开发中一直扮演着重要角色。为继续跟上Rambus市场的步伐,该公司推出了用于RIMM(Rambus Inline Memory Module)的Direct Rambus存储器插座。 主要的DRAM供应商如富士通、日立、德州仪器、NEC和东芝等公司,以及销售ASIC和逻辑IC的公司都支  相似文献   

2.
美国Rambus Inc.已策划出Direct Rambus DRAM规范,其目标是瞄准1999年度PC机主存储器市场。这是备有高速接口的DRAM(Direct Rambus DRAM)规范,美国Intel Corp.将于1999年投放市场的PC机用外围LSI电路里,决定嵌入Direct Rambus DRAM的接口电路。世界著名的DRAM厂家有13家鉴于此情,纷纷领取Direct Rambus DRAM生产许可证。预定从1998  相似文献   

3.
厂商动态     
金士顿与RAMBUS联合开发并认证通过SO-RIMM 系列产品。金士顿科技股份有限公司宣布将为网络及通讯业,提供288Mbit及256Mbit 800MHzSO—RIMM存储体模组,此产品系由金士顿与RAMBUS合作研发,并于2001年12月中旬通过认证测试。金士顿研发人员一直与RAMBUS保持密切的合作关系,此次SO—RIMM研发成功,使得RIMM的产品线更齐备,且全系列产品皆已通过认证测试。RAMBUS更将这款以288Mbit 及256MbitDRAM 组成的SO-RIMM记忆体模组作为RDRAM SO-RIMM的第1.0版。  相似文献   

4.
帮助中心     
1 高速内存释疑 ?什么是C-RIMM?我什么时候需要用到它?还有,什么是PC800 Rambus?PCCC-RIMM是一个同Rambus DRAM模块一同在主板上使用的装置。Rambus技术使用非常快的时钟信号在内存和处理器之间传输数据,由于各种技术原因,每一个RDRAM插槽都  相似文献   

5.
《中国无线通信》1998,4(3):37-38
台湾中华电信公司预计在8月1日推出1800兆赫与900兆赫的双频手机,由于中华电信1800兆赫的基地台第一期建设完成后,覆盖率仍不及民营行动电话业者,因此中华电信将待第二期建设完成后,结合900兆赫的基地台,推出双频手机。  相似文献   

6.
在VHF/UHF频段地面移动通信中,由于基地台和移动台之间电波的多径传播和随着移动台的行走,将产生剧烈的衰落现象。在800兆赫频段的汽车电话系统中,当车速为50公里/小时时,这种衰落率大约为40赫。因此在通话中,就产生脉冲性噪音,造成非常刺耳的干扰声。本文说明应用音节压扩器作为对付它的方法是有效的,阐述丁关于800兆赫频段汽车电话系统的应用条件和改善通话质量的效果。研究结果,以压缩比为2、时间常数为20毫秒的基准电平当作标准调制电平。此时,对在衰落情况下的热噪音和同信道干扰,可以得到好的改善效果,肯定了应用在汽车电话系统中的有效性。  相似文献   

7.
下面针对HJD-04交换机的外线测试系统的原理和部分故障进行简要分析。1外线测试系统的功能和原理(1)外线测试系统的结构HJD-04交换机中的外线测试系统由模块处理机(MP)、外测处理机(OTP)和测量台微机3部分构成。它们之间的关系如图1所示。HJD-04测量台系统在硬件上主要由测量台微机与外测子模块构成。测量台微机通过一个2B+D端口(STI板)与模块通信处理机(CP)相连。外测处理机(OTP)则是每个模块必备的资源,它负责这个模块上所有用户线的外线测试。(2)外线测试系统的工作流程外线测试系统的工作流程如图2所示。由测试台微机将请求测…  相似文献   

8.
近日,信息产业部以“信部科[2001]796号”文发布了《800MHzCDMA数字蜂窝移动通信网用户识别模块(UIM )技术要求》、《800MHzCDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第一部为:移动台及其辅助设备》、《800MHzCDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第二部分:基站及其辅助设备》共三项通信行业标准。 一、《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网用户识别模块(UIM)技术要求》标准的编号为YD/T1168-  相似文献   

9.
随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设计,将物理存储器拼接组成逻辑存储器模块,再整合多个逻辑存储器成为一个大的存储器集模块,MBIST控制器针对存储器集进行MBIST,从而减少测试逻辑数量以达到减小测试电路占用面积的目的。通过实验证明,该结构可以满足MBIST相关需求,相较于针对单颗存储器测试的传统MBIST电路面积减小了21.44%。该方案具有良好的实用性,可以为相关存储器测试设计提供参考。  相似文献   

10.
针对数字消费产品用SoC芯片的测试,爱德万测试在T2000系列基础上新开发了LSMF,800MDM、PMU32及AAWGD的测试作为测试解决方案。本文将介绍消费类芯片测试上的新课题及基于各新开发模块的解决方案,以及以模块灵活构建的T2000测试系统。  相似文献   

11.
多媒体的发展使计算机的功能不断增加。图像处理时不可或缺的高速、大容量存储器就成了和微处理器同等重要的器件。 本文将重点介绍日益受到人们关注,在计算机中作图像处理的高速动态存储器(DRAM)新品:EDODRAM、SDRAM和Rambus公司的DRAM。照片1为三种高速DRAM的封装。  相似文献   

12.
本文描述了电视摄象管在视频为0.5兆赫≤f≤10兆赫时调制传递函数(MTF)的测量系统。MTF 是从成象在摄象管上的槽形目标上测定的。选出一根合适的电视线并取样,采用瞬态记录器进行贮存,记录器耦合至一台小型计算机。对一英寸氧化铅摄象管的测验表明,本系统能满意地完成测试。  相似文献   

13.
一、引言在1963年对传输10,800路电话的60兆赫同轴电缆系统制定了第一个方案,并且进行了研究。于1967年秋开始研制了增音机与终端站。在此期间,对60兆赫同轴电缆传输的线路设备进行了充分的研究,现已投产。欧洲第一个60兆赫传输线路将于1972年在瑞典开通。德意志联邦邮局也将60兆赫系统列入在未来同轴电缆网路的计划之中。因此,今天对地下增音机的设计与传输媒质是这样选择的,以至当话路需要不断增加而必须提高传输带宽时,例如将12兆赫系统改为60兆赫系统,则电缆或传输媒质不需要改变。  相似文献   

14.
随着CPU主频的增长,系统需要更高的内存带宽,32bits RIMM4200的RAMBUS内存的主要技术指标可以说完全满足甚至超过了华硕P4T533-C和奔腾4 2.53G的要求.为了容易区分32bits和16bits的RAMBUS内存,技术先进的RAMBUS公司命名了新标准RIMM4200和RIMM3200.16位和32位的内存性能比较接近,32位内存可以具备单条RIMM模组的独特功能,不像16位内存那样需要成对的RIMM模组.  相似文献   

15.
相变存储器器件单元测试系统   总被引:7,自引:0,他引:7  
通过计算机控制脉冲信号发生器和数字信号源等硬件设备,实现对硫系化合物随机存储器(C-RAM)器件性能的测试.该系统主要有电流与电压关系测试、电压与电流关系测试、电阻与所加的脉冲信号关系的测试和疲劳特性测试等模块组成.通过这些测试从而找出写脉冲信号与擦脉冲信号的高度和宽度的最佳参数、C-RAM器件的阈值电压、循环寿命等重要参数.此系统不仅为研究C-RAM器件的速度、功耗、可靠性等提供了一个途径,又为C-RAM的工艺和结构参数的研究提供了试验平台.  相似文献   

16.
器件测试     
1Gbps RAM测试系统 Teradyne公司的ARIES RAM测试平台可按1.0Gbps的数据传输速率运行,能同时测试16个器件。它可用来检验Direct Rambus DRAM、SLDRAM和快速SLRAM。它采用该公司为Marlin存储器测试平台和J973逻辑测试系统开发的各种  相似文献   

17.
非常明显,SDRAM在2000年的大部分时间内将被选为服务器应用的存储器。今年年初曾预期RDRAM在下半年开始进入从台式PC至通信系统众多产品中。然而,生产和测试成本对SDRAM没有问题,而Rambus还有待  相似文献   

18.
用于卫星地面站的14千兆赫、1千瓦耦合腔行波管和30千兆赫、800瓦耦合腔行波管已研制成功,14千兆赫的行波管采用设计得轻巧、紧凑的永磁聚焦装置,并在整个14.0~14.5千兆赫的频带内给出1千瓦输出功率。30千兆赫行波管采用螺旋管线包聚焦并在整个2.5千兆赫瞬时带宽范围内提供800瓦功率输出。这两只管子均为风冷式。在特殊情况下,为了冷却管体,30千兆赫行波管采用几段热导管。  相似文献   

19.
厂商动态     
亚太方舟科技选择安捷伦93000系统芯片测试系统安捷伦科技宣布,方舟科技已经选择安捷伦93000系统级芯片测试系统对“方舟2号”进行测试。“方舟2号”是中国第一颗量产制造的低功耗、400兆赫的32位CPU芯片。它集成了32位的方舟RISC处理器内核和大量的系统外设,形成了一个高集成的微处理器,适用于网络  相似文献   

20.
MIC总线控制器远程模块专用集成电路内部嵌入的存储器采用了存储器内建自测试技术(Memory Built—in—Self Test,MBIST),以此增加测试的覆盖率,同时MBIST还具有故障自动诊断功能,方便了对宏模块的故障定位和产生针对性测试向量。本文将介绍用于嵌入式存储器设计的MBIST技术,并结合MIC总线控制器远程模块专用集成电路对存储器的可测性设计(DFT)进行阐述。  相似文献   

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