共查询到18条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
2.
CO2激光CVD制备纳米硅粉 总被引:5,自引:0,他引:5
本文分析了激光诱导化学气相沉积制备纳米材料的基本,获得了适宜的制备工艺参数,制得了三种粒径样品(15nm,25nm,80nm)。讨论了制备工艺参数与粉末特征的关系。 相似文献
3.
4.
5.
6.
7.
在激光灼蚀(PLD)系统中,采用流动的N2作为环境气体成功制备了尺寸从2纳米到几纳米之间的纳米硅,并在1.60~1.75eV之间观测到了较强的光致发光谱:结合Raman散射和光致发光谱的分析,推断强光致发光来源于纳米硅的量子效应。 相似文献
8.
制备参数和退火对激光诱导化学汽相沉积合成纳米硅的粒径和红外光谱的影响 总被引:4,自引:0,他引:4
用激光诱导化学汽相沉积(LICVD)法制备纳米硅,发现:激光强度存在低限阈值,SiH4的流速存在着高限阈值,二者正相关,以维持SiH4裂解所需的高温。为了使纳米硅粒小而均匀,应加大激光强度,并相应加快SiH4的流速,以提高纳米硅粒的成核率,减少每一个纳米硅核所吸收的硅原子数,并缩短每一个纳米硅核的生长期。纳米硅制取后退火脱H,纳米硅的红外吸收光谱发生变化:4条特征吸收带的位置、强度和形状各有改变。这是因为纳米硅的表面积很大,表面氧化使组态改变。为了减轻这样的氧化,纳米硅应在Ar气氛中而不是在空气中退火,并且开始退火的温度低于300℃。 相似文献
9.
激光诱导化学气相沉积纳米硅的红外光谱 总被引:1,自引:0,他引:1
对激光化学气相沉积纳米硅的红外光谱进行了研究,结合红外光场光谱考察了退火处理对其红外光谱吸收峰位置的影响,对纳米硅的红外吸收峰进行了标识和讨论。 相似文献
10.
11.
12.
CO_2激光辅助等离子体激励式化学气相沉积非晶形低氢氮化硅薄膜 总被引:3,自引:0,他引:3
利用CO2 激光辅助等离子体激励式化学气相沉积系统 (Laser assistedPlasma enhancedChemicalVaporDeposition ,orLAPECVD) ,在硅 (Si)基片上沉积出非晶形含氢较低的氮化硅 (a∶Si Nx∶H)薄膜。这些薄膜的折射率增加、膜致密性及平整度良好 ,其抗腐蚀性亦明显提升。LAPECVD沉积法是在电容式RF放电解离反应气体的同时 ,以输出功率密度 3 3W cm2 的CO2 激光斜向照射在硅基片上。因为激光斜照在硅基片上所提升的温度只有 5 5℃ ,且可大量减少膜中的氢含量 ,以波长 10 5 8μm激光照射获得的薄膜品质较波长 9 5 2 μm更佳 ,将此一非热效应的发生原因提出推论 相似文献
13.
14.
氮化硅支撑层薄膜的PECVD法制备及性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),在二氧化硅衬底(SiO2/Si(100))上成功制备了用于非致冷红外焦平面阵列微桥结构支撑层的氮化硅薄膜.采用X射线衍射(XRD)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)及原子力显微镜(AFM)研究了薄膜的微观结构和表面形貌;分别采用台阶仪、薄膜应力分布测试仪和快速退火炉等手段测试了薄膜的厚度均匀性,应力大小和耐温性能等参数.结果表明,制备氮化硅薄膜为非晶态,含有少量的氢,主要表现为Si-N键合;薄膜表面平整、致密,厚度不均匀性小于5%,具有107Pa的较低压应力,耐温性能较好. 相似文献
15.
16.
This work introduces and explores vapor phase metal‐assisted chemical etching (VP‐MaCE) of silicon as a method to bypass some of the challenges found in traditional liquid phase metal‐assisted chemical etching (LP‐MaCE). Average etch rates for Ag, Au, and Pd/Au catalysts are established at 31, 70, and 96 nm/min respectively, and the relationship between etch rate and substrate temperature is examined experimentally. Just as with LP‐MaCE, 3D catalyst motion is maintained and three‐dimensional structures are fabricated with nanoparticle‐ and lithography‐patterned catalysts. VP‐MaCE produces less microporous silicon compared with LP‐MaCE and the diffusion/reduction distance of Ag+ ions is significantly reduced. This process sacrifices etch rate for increased etch uniformity and lower stiction for applications in micro‐electromechanical systems (MEMS) processing. 相似文献
17.
用ECRCVD法制备的纳米碳化硅薄膜及其室温下的强光发射 总被引:2,自引:0,他引:2
用电子回旋共振化学气相沉积(ECRCVD)方法制备了纳米碳化硅薄膜.实验中发现:在高氢稀释反应气体和高微波功率条件下,可以得到结构上具有纳米碳化硅晶粒镶嵌在碳化硅无序网络中的薄膜.用高分辩透射电子显微镜、傅里叶红外吸收谱、Raman散射和X射线光电子谱等分析手段对薄膜的结构进行了分析.在室温条件下,薄膜能够发出强烈的短波长可见光,发光峰位于能量为2.64eV处.瞬态光谱研究表明样品的光致发光寿命为纳秒数量级,表现出直接跃迁复合的特征.这种材料有希望在大面积平面显示器件中得到应用. 相似文献
18.
电子束蒸发非晶硅光学薄膜工艺研究 总被引:1,自引:2,他引:1
研究了沉积时真空室真空度、基片温度和沉积速率对常用电子束蒸发非晶硅(a-Si)光学薄膜的折射率和消光系数的影响。结果表明,在300~1100nm的波长范围内,真空室真空度、基片温度和沉积速率越高,则所得a-Si薄膜折射率越高,消光系数越大。并将实验结果用于半导体激光器腔面高反镜用a-Si膜镀制,发现在选择初始真空为1E-6×133Pa、基片温度为100℃和沉积速率为0.2nm/s时所得高反镜的光学特性比较好,在808nm处折射率和消光系数分别为3.1和1E-3。 相似文献