某低空导弹电子控制舱的可靠性预测研究

文中介绍了IC、分立器件、电阻、电阻网络及电容器的工作失效率模型。给出了KJ系列及几种运算放大器长期可靠性试验结果,经数据处理得出了重要的可靠性参数失效率λ_((t))、平均寿命等。     

多芯片组件MCM的失效率预计研究

通过对多芯片组件(MCM)的结构、失效模式和机理的分析,提出了适合我国生产实际的MCM失效率预计模型.采用加速寿命试验和点估计法获得了膜电阻的基本失效率λRT和布线与工艺基本失效率λC;并采用极限应力对比试验获得了层间系数πcp.     

电子产品可靠性知识概论

可靠性是一门新的学科,越来越被人们所重视,可靠性知识涉及面广,是一个较综合的知识领域。本文主要就可靠性的基本概念、失效分布函数、可靠性试验等几个方面的内容进行介绍。着重对可靠性试验中的寿命试验、加速寿命试验、电子元器件失效率试验、电子仪器设备可靠性验证试验等的试验方法和数据处理等进行了介绍。     

确定电子产品MTBF增长的Bayes方法

本文用Bayes方法估计经历研制试验的电子产品失效率(或MTBF)问题。进行了m组寿命试验,其失效率满足条件:λ_1>λ_2>…>λ_m。感兴趣的参数是产品最后阶段的失效率λ_m。在取没有验前知识的共轭型验前分布时,容易得到λ_m的边缘验后概率密度函数。为了满足工程实践的需要,推导了近似解,并举例说明。     

深入理解失效率和瞬时失效率

对失效率λ(t)和瞬时失效率h(t)所具有的实际含义和表征内容进行了深入的探讨。同时详解了失效密度函数f(t)在可靠性工程计算中具有将随机失效数转变为连续变化量的作用。对这几个可靠性参量在工程应用和计算时的适用场合作了分析。通过简洁易懂的论述和实际的计算实例,重点说明了瞬时失效率的3个特点,希望在可靠性基础理论的学习中正确地理解失效率和瞬时失效率的意义。     

精密角位移传感器及其可靠性研究

从理论上探讨了磁阻率效应，叙述了精密角位移传感器的工作原理及结构设计。传感器的分辨率已达０．０１°，通过可靠性寿命试验，传感器的失效率λ（ｔ）＜１×１０－７／ｈ。     

InSb磁敏电阻器导电机理及可靠性

本文详细讨论了ＩｎＳｂ磁敏电阻器的导电机理，在文献［１］、［２］的基础上，提出了提高它的灵敏度的途径．本文首次研究了ＩｎＳｂ磁敏电阻器的可靠性，通过可靠性寿命试验，其失效率λ（ｔ）＜１×１０－５／ｈ．     

扬声器可靠性指标 失效率

扬声器可靠性指标目前尚无现行标准,全国电声学及视听设备标准化技术委员会已立项制订这项参数标准。该文提出扬声器失效率(λ)及其试验方案供大家参考,如有其他试验方案和试验方法,最好用实验数据并结合电视机及收录机用扬声器的特点加以验证,欢迎来稿共同讨论。     

锌银蓄电池失效分析及预防措施

以工作电流和工作温度为主要考虑因素,建立了锌银蓄电池基本失效率模型和工作失效率模型。以试验数据为基础,采用失效率模型,通过数值计算得到基本失效率预计值,将预计值与试验值进行了比较,结果表明,得到的失效率模型可以应用于工程实践,为预防锌银蓄电池失效提供了理论基础,对锌银蓄电池在飞机上的正确使用具有重要意义。     

近期国产电子元器件质量与可靠性分析

本文对我国八十年代末，九十年代初生产的１２大类，５６小类电子元器件的失效率水平进行了统计、分析、分析了产品失效率与执行标准的关系，产品失效率与生产年代的关系，对如何提高产品的质量与可靠性水平提出了建议。     

锌银航空蓄电池失效分析及对策

以工作电流和工作温度为主要考虑因素,建立了锌银航空蓄电池基本失效率模型和工作失效率模型。以试验数据为基础,采用失效率模型,通过数值计算得到基本失效率预计值,将预计值与试验值进行了比较,结果表明,得到的失效率模型可以应用于工程实践,为预防锌银航空蓄电池失效提供了基础,对锌银航空蓄电池在飞机上的正确使用具有重要意义。     

接口混合集成电路长期工作寿命预计及验证

寿命试验常被用来评估集成电路等半导体器件的可靠性,为了节约试验时间,常采用加速寿命试验方法去评估集成电路产品的工作寿命。采用基于可靠性手册中器件失效率历史数据和基于失效物理模型两种方法对接口混合集成电路的长期工作寿命进行了预计及验证。首先,通过接口混合集成电路产品多批次寿命可靠性试验的历史数据计算出了电路工作寿命;然后,基于可靠性手册中器件失效率的历史数据、模型及其使用特性要素计算出产品的工作寿命。结果表明,两者较为接近;从而证明该类混合集成电路在加速寿命试验数据不够的情况下,采用基于可靠性手册中器件失效率数据对其进行寿命预测是可行的,为接口混合集成电路长期工作寿命评估提供了一定的参考。     

基于Bayes和Fiducial方法的指数分布区间估计

在已知产品失效率不超过某个值的条件下,对定时截尾寿命试验,采用Bayes方法进行可靠性评估;对定数截尾寿命试验,采用参数受限制的Fiducial方法进行可靠性评估。根据这两种方法,分别给出了平均寿命单侧置信下限计算公式,同时讨论了先验分布参数的取值方法。最后,通过算例验证了这两种方法的有效性,算例表明两种方法均能够减少试验时间、提高可靠性评估精度。     

电子元器件快速评价新方法的应用研究

本文提出了电子元器件一种新的快速评价方法(CETRM),具有快速、准确、成本低、效率高等优点.能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数、退化机理;可对单样品求出与失效机理相应的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以高频小功率管3DG130样品为例,通过验证实验和与现场数据对比,证明了新方法的正确和有效.本方法特别适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)产品的可靠性定量评价,其试验周期为传统方法的1/8.     

行波管可靠性失效率模型的研究

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础，根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法，参照美国军标ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ，Ｆ，结合我国具体实际，对行波管失效率的数学模型，采用数理统计回归分析后，定量得出我国行波管可靠性的水平，并用现场数据对失效率模型进行验证，提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。     

1.3μm InGaAsP/InP DC-PBH型激光器件寿命试验

本文叙述了光纤通信中用作光源的半导体激光器寿命试验情况。实验是以DC-PBH型结构1.3μm激光管为对象,在高温下进行加速寿命试验,试验过程中均未出现偶然失效现象.其外推室温寿命MTTF值为2.6×10~5小时(σ=1.06),并给出了失效率λ(t)与时间t的关系曲线,以备通信系统工程设计查用。     

基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计

缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为"硬故障"或"软故障"的概率,给出了精度较高的IC成品率预测模型.利用成品率缺陷与可靠性缺陷之间的关系,给出了工艺线生产的产品的失效率与该工艺线制造成品率之间的定量关系.在工艺线稳定的条件下,通过该工艺线的制造成品率可以利用该关系式可以有效的估计出产品的失效率,可以有效地缩短了新产品的研发周期.     

非工作期微电路的可靠性及其预计

本文通过分析影响非工作期微电路可靠性的主要因素,采用大量现场和试验数据进行归一化——线性化——回归分析,研究各主要影响因素与微电路非工作期失效率之间的定量关系,进而建立可靠性预计模型。用该模型预计的失效率与电子设备非工作现场失效率比较,初步验证效果良好。讨研究成果对改进产品可靠性设计、提高产品全寿命期管理水平、降低费用等有重要意义。     

C波段GaAs功率场效应晶体管可靠性快速评价技术

叙述了一咱快速评价GaAs微波功率场效应晶体管的方法－高温加速寿命试验，利用该方法对C波段GaAs功率场效应晶体管DX0011进行可靠性评估。在偏置VDS＝8V，IDS－375mA，沟道温度Tch=110℃下，10年的失效率λ≈27FIT。其主要失效模式是IDSS退化，激活能E－1．28eV。     

无线基站系统可靠性新模型探讨

对分布式基站的可靠性模型进行了讨论,提出了一种新的可靠性模型,命名为梳状模型,并给出了该模型的等价计算方法。梳状模型解决了分布式基站的系统服务任务可靠性指标的计算问题。根据分布式系统的物理意义,从系统可靠度的角度,进行理论推导,得出了梳状模型系统失效率和模块失效率的数学表达式。通过应用梳状模型,对于分布式基站系统进行建模和可靠性指标的计算,取得了良好的效果。