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1.
采用氧化法和晶粒边界腐蚀法对几种不同的碳钢和合金钢的奥氏体晶粒的显示进行了对比试验。结果表明,该两种方法对碳钢的显示效果差别不大,对合金钢而言,氧化法较晶粒边界腐蚀法所显示的奥氏体晶粒要细。对氧化法中存在的问题提出一些看法。 相似文献
2.
通过对60Si2CrVAT弹簧钢的直接淬硬法所获得的晶粒度与氧化法中试样表层不同的深度及不同的腐蚀方法所获得的晶粒度的检验比较,分析了用氧化法检验60Si2CrVAT弹簧钢奥氏体晶粒度时出现错误结果的原因,得出用氧化法检验60 Si2 CrVAT弹簧钢奥氏体晶粒度最准确的方法是一定要控制检验面的打磨深度,将检验面最表层氧化铁皮轻微磨掉即可,抛光后直接观察或经1 5%盐酸酒精溶液腐蚀使晶界更清晰后观察评定. 相似文献
3.
关于用渗碳法检验奥氏体晶粒度的问题 总被引:1,自引:0,他引:1
本文通过对几种不同钢种进行渗碳后缓冷(即渗碳法)和渗碳后快冷来检验钢的奥氏体晶粒度的试验。结果表明,渗碳后缓冷的方法所显示的奥氏体晶粒度不一定是真实的,钢试样表层(渗碳层)的真实奥氏体晶粒度比心部要细,而靠近共析层的过共析或亚共析区域往往出现粗大的奥氏体晶粒,它将对奥氏体晶粒度的评级带来困难;另外,渗碳前的加热速度亦对钢的奥氏体晶粒度有明显影响。 相似文献
4.
氧化法可用于钢中晶粒度的测定。研究控制氧化时间对弹簧钢50CrV奥氏体晶粒度的影响。结果发现,氧化过程大致分为3个阶段:第一阶段,过剩铁素体相不断转变为奥氏体;第二阶段,基体与氧化膜之间的阴阳离子再次加快扩散,下层金属基体继续氧化脱碳,部分之前试样表面的奥氏体晶界被替代;第三阶段,一、二阶段的奥氏体晶粒逐渐长大,新旧氧化膜叠加生长,并在55SiCr、60Si2Mn、65Si2CrV钢得到验证。在不影响检测结果准确性的情况下,氧化时间可以由标准的60 min缩短至一半左右,再通过修正可得到晶粒度为10.96级,此结果与直接腐蚀法11.00级和氢致沿晶断口法11.09级相近。 相似文献
5.
热成形过程中的加热温度对板料性能影响非常显著。本文研究了在不同加热温度下板料的微观组织,并通过氧化法和晶粒边界腐蚀法显示22MnB5钢奥氏体晶界,测定板料晶粒尺寸的变化。结果表明:随着加热温度的升高,板料微观组织马氏体板条束宽度和奥氏体晶粒尺寸随之增大,在900℃时晶粒尺寸适中且分布较为均匀,且氧化法较晶粒边界腐蚀法显示的晶粒尺寸偏细。测定板料抗拉强度,在900℃时出现峰值,且此温度下板料硬度值约为550HV,因此,加热温度900℃,保温时间3min,板料综合性能较好。 相似文献
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奥氏体晶粒度是衡量钢材质量的一个重要指标,研究了奥氏体晶粒度显示方法对20CrNiMoH渗碳齿轮钢奥氏体晶粒度检测结果的影响。结果表明,氧化法和直接淬硬法检测的奥氏体晶粒度差别较小,渗碳法检测的奥氏体晶粒比氧化法和直接淬硬法低0.2~0.3级,模拟渗碳法检测奥氏体晶粒度存在混晶现象。对造成模拟渗碳法出现混晶的原因进行了分析,并给出了改进措施,确保使用模拟渗碳法检测奥氏体晶粒度仍没有混晶现象出现。 相似文献
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国标中氧化法与直接淬硬法是测定碳含量在0. 25%~1. 00%钢中晶粒度的主要方法,然而运用这两种方法得出的晶粒尺寸往往出现偏小的情况。本文通过对55SiCr弹簧钢分别运用直接腐蚀法、EBSD法、氧化法与直接淬硬法测定晶粒度,经过比较与分析得出:氧化法与直接淬硬法测得的晶粒尺寸相比较直接腐蚀法与EBSD法要小,其原因在于热处理后的试样中含有残留奥氏体小晶粒,在用软件评级时,误将一个大的晶粒因为残留奥氏体晶界的拐入而分割成两个小晶粒来统计,从而造成晶粒尺寸的偏小。人工去掉小晶粒或假设未考虑残留奥氏体时截点数为n,考虑残留奥氏体的影响,其截点数约为n+Dn,测量线段长度为L,校正前后的晶粒度分别为Z1和Z2,则有Z1=L/n,Z2=L/(n+Dn),进一步可以得出Z2=Z1/(1+D)。经这两种方法校正后得到的结果与直接腐蚀法和EBSD法获得的结果较为接近。 相似文献
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