数据库服务器性能测试方法的研究和实现

简单地介绍了数据库技术的发展和工作原理,分析了当前数据库服务器性能的测试方法的缺点,并提出了一种新的改进的测试方法.通过对该方法的实际验证表明,测试效果比较理想,达到了改进测试的目的.     

基于三态信号的测试数据相容压缩方法

针对超大规模集成电路（VLSL）的发展过程中测试数据量增加的问题，提出了一种基于三态信号的测试数据压缩方法。首先，对测试集进行优化预处理操作，即对测试集进行部分输入精简和测试向量重排序操作，在提高测试集中无关位X的比例的同时，使各测试向量之间的相容性提高；随后，对预处理后的测试集进行三态信号编码压缩，即利用三态信号的特性将测试集划分为多个扫描切片，并对扫描切片进行相容编码压缩，考虑多种相容规则使得测试集的压缩率得到提高。实验结果表明，与同类压缩方法相比，所提的方法取得了较高的压缩率，平均测试压缩率达到76.17%，同时测试功耗和面积开销也没有明显增加。     

同步全扫描时序电路的TVAC测试方法?

自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。     

数据块前向相容标记码的测试数据压缩方法

提出一种类似于字典索引的编码压缩方法,将与参考数据块相容的测试数据块用"1"标记来压缩测试数据,解压体系结构只需要一个有限状态机和一个与数据块等长的循环扫描移位寄存器.与在Golomb码和FDR码中所需要的与测试向量等长的循环扫描移位寄存器相比,该方法的硬件开销较小.实验结果表明,该方法可以有效地压缩测试数据,且效果优于Golomb码和FDR码.     

相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法

针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题,对其进行3个方面的改进：选取包含X的扫描单元,选取度更小的扫描单元生成异或类,异或类再进行异或生成新的异或类。实验结果表明,该改进算法是有效的。     

基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。     

基于JTAG的ARM7TDMI调试系统

在研究JTAG标准和ARM7TDMI处理器调试模块的基础上,提出调试ARM7TDMI处理器的软硬件实现方案。采用简易JTAG接口,通过计算机并口控制测试访问端口。该软件采用3层结构,共有7个模块。该文分析层次、模块的划分及接口的定义和实现过程。实验测试结果表明,该软件具有良好的实用性、可调试性。     

基于FPGA的数据域边界扫描测试向量发生器的设计与实现

设计了一种基于FPGA的边界扫描测试向量发生器,该发生器可以为边界扫描故障诊断系统提供测试向量,并可计算测试向量的故障覆盖率.与以往通过软件提供测试向量的方法相比,该设计在速度和效率上有了较大提高.     

基于扫描链阻塞技术的时延测试方法

针对时延测试功耗和测试费用较高的问题,提出一种低费用的轮流捕获时延测试方法。采用扫描阻塞技术,将被测电路中的所有扫描单元分成多条子扫描链,使电路中每时刻只有一条子扫描链活跃。在进行故障测试时,通过阻塞一部分子扫描链,使扫描单元得到充分利用。实验结果表明,该方法能降低测试应用时间和测试数据量,且硬件开销较少。     

VXI测试总线系统的电磁兼容分析

介绍了电磁兼容的基本理论和研究目的 ,阐述了其在电子系统中的重要作用。结合当今流行的VXI测试总线 ,运用电磁兼容理论和技术 ,分析了构建VXI测试系统过程中在电磁兼容方面应注意的一些问题及解决方法 ,对充分发挥VXI总线测试系统的性能、降低电磁干扰、实现电磁兼容有一定的工程应用价值。     

基于PSO的软件结构测试数据自动生成方法

测试数据自动生成是软件测试过程中一个关键的问题。现有的结构测试数据自动生成,多采用基于遗传算法的方法。这些方法存在算法复杂、参数不易设置问题。该文提出一种基于粒子群算法的软件结构测试数据自动生成方法,以分支函数叠加法作为适应值函数。针对三角形判别程序的结构测试数据生成实验结果表明,与基于遗传算法的方法相比,可以更高效地生成测试数据,在粒子数目与种群个数相同的情况下,生成所需测试数据的迭代次数仅是遗传算法的1/16左右。     

系统级的可测性设计

随着IC设计的不断发展，SoC由于其可重用性而被广泛应用，这使得可测性设计（DFT）也被提高到系统级的高度。从顶层模块考虑，必须对不同模块采用不同的测试策略，合理分配测试资源。该文通过实例，提供了一种可行的系统级DFT方案。     

基于改进FSM的RBAC测试集约简方法

使用完备的有限状态机生成一致性测试集虽然有效,但数量庞大。针对该问题,考虑一般系统访问控制的基本需求,提出6种探索式方法对有限状态机(FSM)进行约简,有效避免状态爆炸的现象发生,简化了生成的一致性测试集大小。对基于FSM生成树进行实验,结果表明,改进FSM对缩小基于角色的访问控制系统一致性测试集是有效的。     

一种基于参考切片相容的测试数据压缩方法

为了减少集成电路测试数据量,本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法.以使用两个扫描切片作为参考切片为例介绍了对该编码方法进行了介绍.当测试图形的切片与参考切片直接相容或移位相容时,仅使用3或5比特长度的码字对其编码以实现压缩;提出一种参考切片无关位回溯赋值的方法以保证一致性.针对所提出的编码压缩方案设计了相应的解压缩电路.通过实验数据证实了该方案的有效性.     

基于树形解压缩器的低测试数据量方法

提出一种由异或门按照完全二叉树形状排列而成的树形向量解压缩器。该解压缩器的少数输出端需要由大部分的输入端来确定,而且该结构对其输出值的确定关系类似于扫描链中确定位的分布概率,可有效降低测试数据量。实验结果表明,对于ISCAS’89基准电路,该结构最高将测试数据量压缩了77倍。     

基于改进DPSO的组合测试数据生成算法

对离散粒子群优化算法进行改进,提出一种两两覆盖的组合测试数据生成算法。以一个粒子代表一个测试数据集,从整体上评价测试数据集对各个因素组合的覆盖情况,以测试数据中各因素离散值出现的次数为依据,随机产生粒子位置。实例分析表明,该算法与初始值无关,可有效生成测试数据且收敛速度快。     

基于区间算法的软件测试数据生成方法

软件测试过程中经常需要对大量的数值计算模块进行穷举测试,传统的软件测试方法就显露出了不足与局限。该文采用区间算法生成测试数据,比较了采用区间算法的软件测试方法和传统的软件测试方法,结果表明,区间代数方法很好地解决了传统测试方法不能解决的问题,发现程序代码中可能的计算异常,判断能否给出程序代码输出变量的上限范围和是否存在不可能达到的分支。     

基于天牛须搜索的软件测试数据扩增方法

为使原测试用例集满足软件演化后新版本程序的测试需求,提出一种基于天牛须搜索算法的软件测试数据扩增方法。静态分析新旧版本程序,获取调用图和程序执行信息并得到所需测试的目标方法集,通过计算目标方法包含错误的影响度获得有序目标方法集。根据原测试用例集的覆盖信息选取部分测试用例作为初始的进化种群,基于分支距离和分支嵌套深度设计适应度函数,采用改进的天牛须搜索算法对有序目标方法集实现测试数据扩增。实验结果表明,与基于遗传算法和粒子群优化算法的测试数据扩增方法相比,该方法的测试数据扩增效率约平均提升49.91%和24.76%,且有效降低了回归测试成本。     

基于布线资源图的FPGA互连测试算法

分析基于静态随机访问内存的FPGA开关盒互连资源,提出一种自动生成且与应用无关的测试配置集算法,通过建立布线资源图,根据线网的走向动态设定各边的权重,利用改进的Kruskal算法,自动产生测试配置集。对于FPGA不同的互连结构,该算法对互连资源中的开路和短路故障的覆盖率能够达到100%,且具有测试配置个数少、运行速度快以及与具体硬件结构无关等优点。