X射线干涉仪中单晶硅微动工作台的研制

目前国际上Ｘ射线干涉仪所采用的微动工作台均采用对称式柔性铰链结构,其缺点是侧 滑角大,严重影响干涉信号的对比度,很容易产生干涉条纹的记数误差。为此提出了非对称结构微动工作台的设计思想,并引入有限元方法进行了结构参数优化,研制了整体式Ｘ射线干涉仪。理论分析和实验表明：利用非对称结构研制的Ｘ射线干涉仪,分析器的侧滑角显著下降,干涉信号的对比度大大提高,更适合Ｘ射线干涉纳米测量的要求。     

X射线辐射测量

在过去的几年里,人们使用同步辐射技术在X射线波段实现了基于辐射源和基于探测器的辐射测量,电子储存环被用作主辐射源标准,而低温辐射计(ESR)被用作主探测器标准。因为低温辐射计需要强的单色辐射,所以,这种方式也必须使用同步辐射。文中对能量色散探测器和硅光电二极管的探测效率和响应度做了校准,其相对不确定度约1%,所得结果与模型计算值做了比较。     

工业X射线底片专用扫描系统的研制

介绍自主开发的工业X射线底片FilmScanner-Ⅰ型扫描系统及其硬件原理,给出FilmScanner-Ⅰ的软件界面和扫描效果示例。     

纳米体系粒度分布的X射线小角散射表征

本文简要介绍了国内外有关粒度分析标准的制定状况；重点描述了X射线小角散射法测定纳米粉末粒度分布的基本原理，数据处理方法和结果的实验验证；并对该分析方法的特点和若干相关问题进行了讨论。     

硫化锌纳米粒子的X射线衍射研究

利用X射线衍射技术对硫化锌纳米粒子进行了测试分析,详细研究了X射线衍射过程中扫描狭缝、接收狭缝、电压、电流、扫描速度及步长等参数对产物衍射峰的影响,优化出适合硫化锌纳米粒子的最佳测试参数,并利用最佳的X射线衍射曲线对产物进一步深入分析,获得硫化锌纳米粒子的粒径和晶格参数等信息,为X射线衍射技术在纳米材料领域的应用提供了实例。     

全自动X—射线衍射电化学调制测量系统

本文介绍了由X-射线衍射仪、电极电位控制器及微型计算机等构成的全自动现场电化学测量装置的控制原理、程序设计以及在电极/溶液界面结构测定中的应用与实例.     

飞点扫描X射线背散射系统研究

围绕车辆贩运违禁品的精确、快速查缉需求,开展了小型化、低辐射的飞点扫描X射线背散射系统研究。设计了小型化飞点扫描X射线背散射系统的斩波机构、背散射探测器。利用研制的系统开展了X射线背散射成像实验,研究了X射线能量、功率对系统成像对比度和信噪比的影响。实验表明,系统成像分辨率约为2 mm,能够准确检测出隐藏在陶瓷物品中的毒品模拟物。小型化飞点扫描X射线背散射系统的研究可为车辆安检难题和降低检测中的辐射危害提供参考。     

光反馈自混合干涉式微位移传感器

为了提高位移测量的精确度,提出了一种基于光反馈自混合干涉技术的位移测量方法.采用梯度最优算法分析和处理自混合干涉信号,达到数据理论的最佳拟合,实现微位移的精密测量,并通过设计算法对外部物体的运动轨迹进行重构.提出的传感器可用于亚微米级位移的测量和控制,并给出了PZT位移的实验结果.     

基于扫描白光干涉法的接触式轮廓综合测量仪

介绍了一种基于白光干涉原理的接触式轮廓测量仪，该仪器可用于滚动轴承内外圈滚道及滚动体轮廓形貌的综合测量，其理论分辨率可达纳米级，垂直和水平测量范围可分别达5mm和50mm。重点论述了该轮廓仪测量系统的构成、测量原理，并用实例说明干涉信号数据处理过程及结果的有效性。     

一种精密X-Y扫描台的研究

探讨了一种精密的X-Y扫描工作台,论证其主要技术指标,介绍其结构特点,同时也进行理论分析,最后讨论其应用。     

相位偏移干涉测量波面的一种新算法

本文分析了利用相位依稀干涉的相位计算方法对测量结果准确程度的影响,提出了一种利用相位偏移干涉原理测量波面的新算法（四幅改进算法）。考虑到移相误差是导致相位偏移干涉测量法产生误差的主要因素,本文着重讨论相位偏移干涉测量算法对移相误差的敏感程度。根据对实验测试机构所进行的测量与分析,以实际的数据为基础得出在相位人多干涉测量算法对移相误差的敏感程度,根据实验测试机构所进行的测量与分析,以实际的数据为基础得出在相位偏移干涉测量中新算法的优秀品质。该新算法对移相误差有良好的抑制作用,无论是理论分析速 是实际测量效果都很好。     

埋弧焊X射线焊缝缺陷图像分类算法研究

对埋弧焊X射线焊缝圆形和线形缺陷图像进行分析,针对焊缝缺陷局部图像强噪声、弱对比度和常规方法不易区分类型的特点,将主成成分分析的思想引入焊缝圆形和线形缺陷类型分类。分析缺陷疑似局部图像自相关矩阵特征值发现,圆形线形焊缝缺陷疑似局部图像分类问题可降维为一维问题,极大地简化计算和提高运算速度。基于此给出圆形和线性缺陷分类算法,由于将缺陷图像分类问题降维,使得分类算法对模板的选择具有较强的鲁棒性。通过现场超过400张焊缝缺陷局部图像的实验表明,无论如何选取模板,线性缺陷的识别率均在98%以上,圆形缺陷的识别率在89%~98.8%之间,且在16次模板更换实验中,4次圆形缺陷识别率达到98.8%。     

软X射线接触式显微术研究

按照生物样品各分辨单元具有多种透过率的特点,设计了一个多衬度的台阶状蛋白质模型,根据曝光量与衬度,信噪比,抗蚀膜性能的关系,确定了曝光量。同时模拟样品模型各台阶的真实成像条件,测量了各台阶所对应的抗蚀膜显影速率曲线,对显影条件作了定量分析。将曝光量,显影条件,与分辨率紧密结合起来,找到了一种较好的实验方法。     

Characterization of Cobalt Oxide and Calcium‐Aluminum Oxide nano‐catalyst through Scanning Electron Microscopy,X‐ray diffraction,and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy

The Cobalt Oxide and Calcium‐Aluminum Oxide nano‐catalysts were analyzed using Scanning Electronic Microscopy (SEM), X‐ray diffraction (XRD), and dispersive X‐ray spectroscopy (EDX) techniques. Preliminary results showed that the particles of Cobalt Oxide exhibit sponge like morphology and homogenous distribution as per confirmation via SEM. Its average particle size ranges to 30.6 nm demonstrating enormous number of pores and aggregative in nature. Its various peaks were ranging from 19.2 to 65.4 after XRD analysis. The highest intensity was observed at 36.9 position. The energy dispersive spectroscopy techniques were used to calculate the elements present in sample according to their weight and atomic percentage. The cobalt oxide contain cobalt as the most abundant element with 46.85 wt% and 18.01 atomic percent. It contain oxygen with 30.51 wt% and 43.19 atomic percent. Whereas, SEM of calcium aluminum oxide showed random morphology. According to the calculation of Scherrer equation regarding XRD analysis, it was distributed homogenously with particle size ranges from 30 to 40 nm. Its porous morphology was due to the interconnecting gaps between different particles. It result the eight peaks ranging from 18.1 to 62.7 in XRD spectrum. The highest intensity observed at 35.1 with average crystallite particle size of 25.6 nm. The calcium aluminum oxide contain aluminum 7.45 wt% and 6.93 atomic percent. The calcium was the most abundant element with54.7 wt% and 34.24 atomic percent followed by oxygen with 37.26 wt% and 58.42 atomic percent. It was concluded that the SEM, XRD, and EDX are the most significant techniques to characterize nano‐catalysts in particular and other compounds generally.     

双成象单元扫描探针显微镜在纳米计量中的应用

研制了用于纳米计量的双成象单元扫描隧道显微镜一原子力显微镜，由扫描隧道显微镜参考单元和原子力显微镜被测单元组合而成。两者共用同一XY扫描器，同时对参考样品石墨和被测样品扫描成象。得到的石墨原子晶格参考图象与被测样品图象横向尺度相同，计数前者的原子晶格个数，即可精确测定被测样品图象的尺寸。利用本方法可对任何样品表面的超微观结构进行严格的纳米计量。     

基于电容法与光干涉法相结合的油膜测量方法

通过将电容法膜厚测量仪耦合在球-盘点接触光干涉试验台上,搭建油膜厚度测量装置。通过对目标球-盘接触副采取合理的导电措施以及台架绝缘设施来保证润滑油膜电信号的提取,该装置可实现相同工况下膜厚度值及其相应的电信号(如油膜分压值和电容值)。在纯滚动接触情况下,分别对油润滑和脂润滑下的油膜进行测量,得到光干涉膜厚、油膜分压值和电容值随随卷吸速度的变化规律,并分析接触副电容随膜厚的变化。结果显示,随卷吸速度的增加光干涉膜厚升高而油膜分压值和电容值减小,电容值随着膜厚的增加而逐渐降低。实验结果初步验证了该测量系统的可行性,可为后续实际接触副内润滑状态的评估提供方案。