加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

浅谈高加速寿命试验和高加速应力筛选

本文简要介绍了高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)试验技术的产生、作用及应用对象，重点阐述了HALT／HASS试验技术基本原理和试验过程．     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选（HALT＆HASS）技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术研究

高加速寿命试验（HALT,highly accelerated life test）和高加速应力筛选试验（HASS,highly accelerated stress test）技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

HALT与HASS技术原理概述

面对激烈的市场竞争以及顾客对高质量、低成本产品的需要，如何使产品尽快、成熟地完成设计，从而以高质量产品快速占领市场，对产品的设计制造企业来讲显得尤为重要。而要达到这些目的，就必须使用一些高效率的工具来辅助完成产品设计，以保证顾客使用到可靠的和高质量的产品。HALT与HASS技术正是这一过程有力的支持工具。在产品设计中，使用HALT与HASS技术，有助于设计出成熟的产品，达到较高的费效比。     

高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。     

HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用

本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值。由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段。高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广。其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用。HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷。     

高加速应力筛选定量评价的应用探讨

以某航空电子产品为对象,尝试通过HASS等效转化为传统筛选的方法进行筛选定量评价,探讨一套基于GJB/Z 34-1993,而且易以工程实施的HASS筛选定量评估方法,为军工电子产品批产可靠性控制应用新技术提供借鉴。     

可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。     

地球同步气象卫星星载高精度太阳敏感器的研制

根据地球同步气象卫星 (GSMS)星载扫描同步控制器系统的要求和对太阳目标特性的分析 ,研制了一台用于该GSMS的星载高精度太阳敏感器 (HASS)及配套的性能测试装置 .该太阳敏感器的光学头部由两对狭缝组成 ,采用平衡检测方式产生高精度的太阳脉冲 ,为星上扫描同步控制器和卫星地面站云图配准的引导提供基准信号 .其在卫星子午面内的扇形视场为 - 2 9.5°～ 2 9.5° ,当其随星体按 10 0r/min的速率旋转时 ,可实现 0 .4 6 μs(r.m .s)的测量精度 .另外 ,该太阳敏感器还具有高可靠性、实时性和低功耗的特点     

热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命

高可靠性长寿命碲镉汞焦平面阵列像元性能参数慢慢变差退化失效,确定它的储存寿命要用B类试验缩短试验时间。有效加速寿命试验ALT或加速退化试验ADT的恒定热应力,应大于高温+90℃、2 160 h。定量加速试验前,应进行高加速应力筛选试验HASS迫使缺陷发展,以暴露可能存在的早期故障。根据碲镉汞红外焦平面探测器杜瓦组件高温储存试验性能退化测试数据,用统计模型对在恒定高温应力水平下获得的失效时间或退化特征性能参数进行转换,得到在+25℃额定应力水平下的储存寿命大于50年。超过3 000 h高温储存试验结果表明,残余工艺应力释放导致试验前1 500 h像元性能有向好的趋势,在高温+80℃的真空环境下烘烤20天不会造成明显的像元性能恶化。