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相似文献
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1.
孟祥刚 《机电元件》2006,26(3):41-44
对电连接器绝缘电阻测试、耐电压测试进行了概述;分析了传统上多芯电连接器绝缘测试存在的问题;提出了多芯连接器接触件之间和接触件与壳体之间绝缘的二次测试方法。  相似文献   

2.
从上世纪八十年代开始,我国等同采用美军标编制了国军标和国家标准。在这些标准中,关于射频同轴连接器的"耐射频高电位电压"的测量作了明确的规定。但虽经多家单位对这一测量技术进行了技术研究,对于这一项目的测量方法和手段始终没有得到有效的解决。西安精为电子技术有限公司"SNY-2耐射频高电位电压测试仪"研制成功,将终结这一测量项目无仪器可用的尴尬历史,并对这项测量时被测连接器流过的电流进行讨论。  相似文献   

3.
王凤  胡济顺 《机电元件》2005,25(1):12-14
主要介绍了射频连接器射频高电位电压击穿原理,提出了提高连接器耐射频高电位电压能力的措施。  相似文献   

4.
论述了研究电连接器绝缘电阻的重要意义;阐述了影响电连接器绝缘电阻的各种因素,并针对各种影响因素进行了相应的试验验证,确定了影响电连接器绝缘电阻的主要因素;最后对如何提高电连接器绝缘电阻提出了改进措施。  相似文献   

5.
王凤 《机电元件》2003,23(2):19-21,64
气隙击穿是高电压电连接器设计要解决的主要问题,气隙击穿与连接器的爬电距离、材料的介电强度、插孔接合面压力及电极表面形状等有关。文章对超小型矩形六芯高电压电连接器的设计原理、总体设计、界面设计、接触件设计、灌封等进行了论述。  相似文献   

6.
随着载人空间站长寿命需求的提出,对电连接器结露性能提出更高要求,本文选取国产两个系列矩形电连接器典型规格,按照宇航结露试验要求进行2000h结露试验研究,并对电连接器绝缘电阻变化情况进行统计分析;为预计连接器长寿命在轨可靠性,在已有2000h结露试验绝缘电阻测试结果的基础上,选取幂函数为最佳退化趋势数学描述模型,进行绝缘电阻退化参数拟合,并预计10年后绝缘电阻值。根据预计结果,对连接器研制厂家和型号使用单位提出改进和使用建议。  相似文献   

7.
8.
航天电连接器的选用   总被引:1,自引:1,他引:0  
杨奋为 《机电元件》2000,20(4):44-50,53
电连接器是航天系统工程广泛使用的重要配套接口元件。正确选用电连接器是保证其使用可靠性的前提条件。文章详细介绍了航天电连接器选用的一般要求和特殊要求、各项技术参数的选择方法以及使用注意事项等。  相似文献   

9.
孔鹏  张义  董存迎 《机电元件》2016,(4):40-45,60
航天用电连接器的绝缘电阻和介质耐压试验中,试验电压施加点的选择方法在不同的国内外标准中并不相同。这导致产品保证人员在选择相关测试方法时自由度过大,且存在一定盲目性。为规范和统一试验电压施加点的选择方法,文章通过分析不同方法的测试效率和测试覆盖率,评价不同方法的优劣势,给出有效建议。在此基础上,选择满足国内多数航天电连接器标准的交错施加法,进行测试点连接方法和测试流程设计,用于绝缘耐压测试,有效提升了测试效率。  相似文献   

10.
电连接器产品广泛使用于各个行业,其中弯插印制板式产品在各个重要项目上也深受欢迎,但随着产品不断使用以及用户使用操作的更改,近年来不断出现因焊接热导致的质量问题.因此本文将以市场主流J30J弯插印制板产品为例,对连接器耐塘锡焊接热进行分析,验证产品性能并探索焊接热的极限.  相似文献   

11.
某磁阻马达型驱动机构定子部件运行过程中,电连接器一引接线焊接处断开,导致组件三相电流不稳定。针对这一定子电连接器失效现象,通过目视检查、X射线探伤、扫描电镜检查、能谱分析等方法,确定了引接线焊接处断裂的原因,并提出预防措施。  相似文献   

12.
通过绝缘材料的选取及耐高压结构的合理设计来提高电连接器的耐高压性能。25 000V耐压试验及其他性能测试表明,小型圆形耐高压电连接器满足了用户的要求。  相似文献   

13.
余珺 《机电元件》2003,23(3):30-34
对JY941型螺纹连接圆形电连接器的设计原理、结构设计、理论计算进行了讨论,并阐述了在研制过程中所采用的一些特殊结构和加工工艺方法。  相似文献   

14.
通过对电连接器的失效原因、失效机理等故障现象进行分析,总结如何预防电连接器的失效,提高产品的可靠性。  相似文献   

15.
航天电连接器的失效预防   总被引:2,自引:2,他引:0  
杨奋为 《机电元件》2001,21(4):41-47
接触不良、绝缘不良、固定不良和密封不良是航天电连接嚣致命失效。文章在系统阐述失效机理的基础上,提出了预防航天电连接器致命失效应采取的措施和建议开展可靠性筛选检验的项目。  相似文献   

16.
显微组织对CuCr真空触头材料耐电压强度的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
研究了CuCr真空触头材料的显微组织对其耐电压强度的影响。研究表明,电击穿首先在耐电压强度低的相上发生,对于Cu50Cr50合金,首次穿相为Cr相,而对GuCr50Sel合金,首次击穿相为Cu2Se相。由于电压老炼的结果,随着电击穿的发生,击穿相的耐电压强度升高,电击穿使阴极表面变得粗糙,但造成表面熔化层显微组织和成分均匀化,本文的研究认为,电压老炼造成触头表面显微组织更为细化和成分均匀化,从而提  相似文献   

17.
王焕  丁丽 《机电元件》2015,35(3):55-56,61
文章分析了各种电连接器可靠性的主要因素,即电连接器的质量、材料、结构、工艺等。此外,电连接器的使用环境对可靠性也有影响,总之,要提高电连接器的可靠性,必须综合考虑以上因素。  相似文献   

18.
李坤  许军  张新喜  周银  王蒙蒙 《机电元件》2011,(4):43-46,56
针对多芯电连接器在恶劣环境条件下经常出现的绝缘材料老化所导致的电子系统故障问题,对绝缘失效的电连接器建立了电路模型并进行了仿真研究,结果表明:绝缘电阻性能退化会在两个接触对之间形成电流泄漏通路,从而导致相邻接触对之间的信号互相干扰.其相互干扰的结果是,原本通过一个接触对传输的信号会受到相邻接触对的影响,表现为两种信号按...  相似文献   

19.
本文针对专利申请较活跃的同轴电连接器领域的专利申请进行了统计,给出了本领域排名靠前的申请人和技术产出国,并通过几个案例就目前比较常见的几个改进点进行了技术分析,对国内企业可以抢占领先地位的重要领域给出了指向。  相似文献   

20.
低频电连接器失效模式的分析   总被引:3,自引:1,他引:3  
一、前 言 电连接器是在电器设备和系统中传输信号,起电路连接作用的关键元件。它是串联在电路中使用的,它的可靠性直接影响到整个设备和系统的可靠性。电连接器的失效,将会直接引起设备和系统的故障,造成不可弥补的巨大损失。目前电连接器已成为国内外公认的可靠性最差的四种元器件之一。因此非常有必要对它的可靠性加以研究分析。首先,我们从生产厂的角度对低频电连器进行失效模式的分  相似文献   

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