检定螺纹千分尺“校对量规”的测量装置

通常采用工具显微镜测量螺纹千分尺的“校对量规”半角。本文介绍检定“校对量规”测量面间尺寸的一种方法。其步骤如下: 自制空心测帽(见图1a) 工艺要求为: 1.A、B面不平行度为0.001mm; 2.φd轴心线与A、B面垂直度不大于0.002mm。首先将测帽安装在卧式测长机或同类型光学比较仪的尾管上,另一端光学计管装上仪器     

光滑量规直径测量不确定度评定

一、概述1．校准方法依据JJG343—1996（（光滑极限量》检定规程校准。2．环境条件温度为（20±1）℃。3．校准标准（0～100）mm、MPE≤0．5μm的测长机。4．校准对象≤Φ100mm的IT6级以下光滑量规。5．校准过程光滑量规直径是在数显测长仪上直接测得的。测量前要先调整好窄平面测帽,保证固定测头与活动测头的测量面平行。然后将测长仪的示值清零,     

具有高耐腐蚀特性的FeCrMoSnPSiBC铁基块体非晶合金

采用铜模上吸铸法制备了低成本的Fe78-2xCrxMoxSn2P10Si4B4C2（x=2、4（原子分数），以下同）铁基块体非晶合金，通过失重法和电化学方法测量了该系列块体非晶合金的耐腐蚀特性，发现该合金系列具有较强的耐腐蚀能力：对x=2和4的样品在3．5％的NaCl溶液中浸泡45d后的腐蚀速度分别约为0．021和0．019m／n]a，比MSI 304L不锈钢（0．046mm／a）具有更好的耐蚀性；对在不同浓度（1、3、6N）HCl溶液中的极化曲线测量发现，两种试样在极化过程中均出现钝化的现象，并存在一较宽的钝化区，钝化区范围随着HCl溶液浓度的增大而逐渐变窄。初步分析认为，该合金系列高的耐腐蚀性能源自于非晶结构自身的特征及其特殊的成分组成。     

海南省高校科研资助项目（Hjkj200326）

记δ和α分别表示图G的最小度和独立数，1991年Faudree等人得到图G不相邻的任意2点x,y均有|N(x)∪N(y)|≥n-δ的Hamiltonian结果。1993年美国乔治亚州立大学的陈冠涛教授深化Fan条件并且得到满足1≤|N (x)∩N(y)|≤α-1的不相邻的任2点x，y均有max{d(x),d(y)}≥n/2的Hamiltonian结果。进一步改进Faudree等人的条件和综合陈冠涛教授的思路,研究满足1≤|N(x)∩N(y)|≤α-1的不相邻的任2点x,y均有|N(x)∪N(y)|≥     

石英衬底上生长的立方相Zn1-xMnxO薄膜及其光学、磁学特性

采用电子束反应蒸发法，（MnO）y（ZnO）1-y（y≥0．3）陶瓷靶作为蒸发源，高心含量的Ar/O2混合气为反应气体，在石英玻璃衬底上生长得到Mn含量超过50％（原子分数）的Zn1-xMnxO薄膜。场发射扫描电子显微镜和X射线衍射测量显示x〉O．5的Zn1-xMnxO薄膜呈单一晶相的立方相、岩盐矿结构。这与采用abinifio方法计算得到的结果一致（作为简化，计算时未考虑Mn的自旋的影响），即对于x≥0．5的Zn1-xMnxO材料体系，其取类MnO的立方岩盐矿结构比取类ZnO的六方相纤锌矿结构更稳定。对石英玻璃基Zn1-xMnxO薄膜的紫外．可见透射光谱测量表明，随着Mn含量从0增大到0．68，Zn1-xMnxO薄膜的光学带隙从3．35eV增大到5．02eV．磁性测量结果表明，所制备立方Zn0.32Mn0.68O薄膜在室温下没有表现出宏观磁性．     

哈密尔顿图和邻域并

邻域并条件是近十年来研究哈密尔顿图的得力工具之一。本文得到距离是2的点对的邻域并条件下的哈密尔顿图结果：若2连通n≥3阶图G距离是2的任意两点：x，y均有|N(x)∪N(y)|≥(2n-4)／3，则G是哈密尔顿图或G∈{G2：3K(n-2)／3，K(n-2)／3：K(n 1)／3：K(n 1)／3、Kn／3：Kn/3：Kn／3}。此结果改进一些已知结果。     

回形平面的平面度评定

回形平面的平面度评定陈宇晓浙江腈纶厂实践经验1问题的提出在设备的安装过程中，有时会碰到回形平面的平面度测量问题，如干法睛给设备中卷曲机的装配平面为回字形（图1），其平面度误差要求为0．2mm。我们采用水平仪可测出口形装配面上几个均匀分布的设定点的坐标值（图2），如何对这些坐标值进行准确评定，从而得出其平面度误差呢？图2坐标数值图2评定方法：（1）根据旋转变换法，把回形面上的三个最高点转换为等值，图2中三个最高点为＋0．14，＋0．14、＋0．12，经旋转变换后可得图3。图3坐标数值图（2）引入低极点转移的概念，图3中的…     

一种测量非整形圆弧中心距的方法

如图1所示转子冲片,欲测两个圆弧 R 的中心距 L(公差为±0.02)。可将冲片置于万能工具显微镜的玻璃平台上,每段圆弧上测量三点得到它们的 x、y 坐标值,然后计算出中心距 L。     

正弦尺垫量块的计算公式及误差分析

1“计算正弦尺所塾量块的四个公式正弦尺常用于测量内、外锥体的锥角及外锥体的大、小瑞直径，也用于测量精度不高的角度块的角度和孔中心线与平面之间的夹角等。正弦尺两圆柱中心距有L=100mm和L=200mm两种，每种又分为窄型和宽型。此外，还有带顶尖的正弦尺和方型正弦尺。正弦尺测量外锥体的情况如图1。正弦尺所垫量块尺寸通常按式（1）计算h＝Lsina（l）式中L——正弦尺两圆柱中心距，mm；a——工件锥角；h——正弦尺应垫量块尺寸，mm。当暂无三角函数表或计算器时，h也可以计算，将式（1）改写为：臼1外锥体测量自因锥度c一Ztana／2，…     

SrBi4Ti4O15铁电陶瓷A位掺杂改性研究

采用固相烧鲒法，以镧系元素La和Nd为掺杂离子，制备了不同掺杂量的SrBi4Ti4O15（SBTi）铁电陶瓷。X射线衍射谱显示样品呈随机取向的单一层状钙钛矿结构相。铁电测量显示适量的La和Nd掺杂使得SBTi的剩余极化（2P，）得到显著增加。对于SrBi4-xLaxTi4O15（SBLT—x），当x=0．25时，2P，达到极大值，为24．2μC／cm^2，对于SrBi4-yNdyTi4O15（SBNT—Y），当y=0．18时，2P，达到极大值，为25．8μC／cm^2，和未掺杂相比，分别增长近50％和56％。SBLT—x样品的矫顽场随掺杂量的增加而逐步减小，SBNT—Y的矫顽场在y=0．00到0．18之间几乎不变，在更大掺杂量下，随掺杂量的增加而逐步减小。掺杂引起材料中点缺陷浓度的降低和晶格畸变的减小，这两种因素的共同作用决定了刺余极化的变化。样品的变温介电谱显示，晶体的居里温度随掺杂量的增加而下降。在掺杂量大于0．75以后，SBLT—x和SBNT—y样品均出现驰豫铁电体的典型特征。     

保证卡尺内尺寸测量准确度问题的探讨

引言出口的国产卡尺，因内测量示值误差大而引起的退货时有发生；但遍查国家标准及检定规程，对内尺寸仅是示值误差均无要求。目前，控制内尺寸测量准确度的手段是：在外测量面夹持10mm量块，用千分尺检定内测量爪尺寸偏差（圆弧形内测量爪除外）。这种方法能否保证卡尺内尺寸的测量准确度呢？对这个问题作如下分析。1误差分析（1）有关数据（以分度值为0．02mm、测量范围为0～300mm的卡尺为例）刀口内测量爪刃宽为0．3mm（国家标准对刃宽无要求，国内厂家一般均按0．3mm生产）；刀口内测量爪尺寸偏差为比啥mm；两内测量爪侧面间隙应＜0．12…     

用气动测量器具测量S195主轴瓦外径

为了测量S 195主轴瓦的外径(技术条件为:在自由状态下,外圆最大和最小直径的平均值分别为φ78.055mm和φ78.035mm。圆度要求为0.002mm,圆柱度要求为0.003mm), 因原测头的量程范围受到限制,我们在QFP型浮标式气动量仪上配装自制的气测头,取得良好的效果。气测头的结构如图1所示。当压缩空气进入浮标量仪后经联接管1进入角尺形气测头的竖直气孔2至水平气孔5,然后反冲回喷嘴小孔6(φ1.8mm),与被测工件形成气流间隙,此时气量仪上浮标的位置即为测得值。测量时,将被测件装在测量夹具上(见图2)。被测件3放置在夹具座1的支承2上,     

La^3＋、Li^1＋对CaTiO3微波介电性能的影响

研究了La^3＋、Li^1＋取代对CaTiO3微波介电性能的影响。在1400℃以下烧结制备Ca1-xLa2x/3TiO3（简称CLT）微波陶瓷，分析了容差因子τ对谐振频率温度系数τf的影响。在1350℃烧结4h，可制备出εr=118，τf=＋2．95×10^-4/℃，Qf=10360GHz的CLT（x=0．4）微波陶瓷。以（1叫）Ca0.6La0.2667TiO3-yLi1/2Nd1/2TiO3为代表，对（1-y）Ca1-xLa2x/3TiO3叫-yLi1/2Nd1/2TiO3（简称CLLNT）系列材料的微波介电性能进行了探讨。随着烧结温度的提高，CLLNT（x=0．4）的εr略有下降，而Q·f值略有上升。随着y值的增加，CLLNT（x=0．4）的即Q·f、τf都下降。与CLT（X=0．4）相比，虽然CLLNT（x=0．4）的Q·f值下降了，但τf得到较大的改善，同时ε仍很高，保持在100以上。     

扭簧测微计工作台快速调平法

我们根据扭簧测微计工作台三支点的位置关系,推算出一种工作台快速调平的方法。采用此法可在五分钟内调平工作台(工作台与φ8平面测帽的平行度≤0.5μm)。如图1所示,在测杆上装上φ8平面测帽,将工作台上放置的4～10mm 4等量块接触测帽测量面的1/2,此时指针对准分度盘上任一刻线,依次将量块同一位置相对于测帽测量面     

长度计量基础知识讲座（十三）

第十三讲 光滑极限量规 量规是机械加工过程测量和长度计量中常用的量具,其中光滑极限量规使用极广。光滑极限量规（以下简称量规）是指区别于螺纹量规、圆锥量规的光面环规、光面圆柱塞规和卡规。量规具有以孔或轴的最大极限尺寸和最小极限尺寸为基准测量面,能反映被检验工件孔或轴边界条件的无具体测量值的长度计量器具。     

如何提高锥体测量精度

锥度是锥体大小端直径之差与其长度(两端面轴线方向的距离)的比值,锥度与锥体斜角(半锥度)的关系是: 式中:K-锥度,D-大端直径,d-小端直径。 t-大小端之间的距离,通常用正弦规测量法测量,如图1。 把正弦规放在平板上,锥体量规放在正弦规上,然后在正弦规一端的圆柱上垫适当高度的量块h,用表在被测零件锥面的长度l上,测量大小端摆动差B。 图中,h=L·sin2a(根据锥体可查表得出该锥度的名义均值。sin2a) L-正弦规圆柱中心距a-斜角。 在测量实践中,锥体(特别是锥体量规)精度要求很高。欲提高测量精度,应注意以下二点。 1.关于量块组尺寸的修正量…     

Y2O3掺杂量对ZnO-Bi2O3-Nb2O5压敏陶瓷电性能的影响

通过掺杂Y2O3和优化烧结工艺制备了ZnO-Bi2O3-Nb2O5压敏陶瓷。利用XRD、SEM和VSR研究了Y2O3掺杂量对其电性能的影响。结果表明，随着Y2O3掺杂量增加，陶瓷电阻率ρ减小，非线性系数α增大；Bi2O3气氛下烧结（1170℃、保温2．5h）的陶瓷，当x（Bi2O3）和x（Nb2O5）为3％、y（Y2O...     

开式机柜热设计数值模拟优化研究

1建模本文研究的几何模型如图l所示,在一个机柜内有3个主要的发热元件变频器,固态继电器和电源。’机柜的尺寸为500（长）X250（宽）X750（高）mm,变频器尺寸为80x150x150mm,耗散功率为100W,固态继电器尺寸为80x50x120mm,耗散功率为40W,电源尺寸为100x50xlOOmm,耗散功率为40W。表面热流密度最大为0．39W／m2,内部元件通风环境又比较恶劣,自然通风散热已无法满足要求,必须进行强制通风散热。     

La1.5Mg0.5Ni7-xCux(x=0.1～1.2)贮氢合金电化学性能的研究

研究了Ce2Ni7型贮氢合金La1.5Mg0.5Ni7-xCux（x=0.1-1.2）的组织结构和电化学性能。当X=0．1—0．6时Cu元素部分替代Ni后可形成La2Ni7型相，x≥0．9时，合金中则有少量的未知相析出。合金MH电极电化学研究表明，随Cu元素量的增加，合金电极的最大放电容量从380mAh／g（x=0．1）下降至340mAh／g（x=1．2）；当x=0．3～0．9时合金电极的循环寿命较x=0．1时有一定的改善，合金电极交换电流密度（I0）和极限电流密度（I1）均以x=0．6为转折点先减小后增大。电极反应的动力学性能依Cu0．1〉Cu0．3〉Cu1．2〉Cu0．9〉Cu0．6的次序递减。     

测量不确定度实际应用讲座(五) 温度计量中不确定度的评定

1．问题的提出现有一个标称温度示值被调控到400℃的工业容器，计量人员选用带K型热电偶的数字式温度计来测量该容器内部某处的实际温度（见图1）。从制造厂说明书查知数字温度计的分辨力为0．1℃，准确度为±0．6℃K型热电偶每年校准一次，今年的校准证书表明其不确定度为2．0℃（置信水准为99％），在400℃时的修正值为0．5℃。当恒温容器的指示器表明调控到示值400℃时，稳定半小时后从数字温度计上重复测得的10个显示值此列于表1。这是一个很常见的温度计量问题，其测量方法和测量过程看上去也很简单，测量结果由式（3）可知为400．2℃…