钛酸钡半导体陶瓷的低温介电特性

在80—320K温度范围内,研究了两种组份BaTiO_3半导体陶瓷的介电特性,发现其介电常数温度曲线不再明显有反映不同铁电相变的两个介电峰,但介电常数实部和虚部的极大值位置分别与mm2—3m和4mm—mm2铁电相变的温度有关。这可能是由于其铁电相变高度弥散、mm2—3m铁电相变温度与Sr~(2-)的取代量基本无关以及4mm相出现PTCR效应的结果。     

微扰法测量粉末状材料介电常数的改进

一般微扰法在测量粉末状材料介电常数时,需要破坏样品将材料制成杆状或圆柱状等标准形状,同时只能在单点频率下测量,具有很大的局限性。针对上述问题,提出了一种改进的测量方法——多模谐振微扰法。该方法是在微扰法基础上的改进,适合宽频无损测量粉末状材料的介电常数。对多模谐振微扰法的测量原理、系统和方法进行了较为详细的描述,通过仿真和实验得到了相应的结果并进行了误差分析,验证了该方法的合理性和有效性。     

平行板谐振法测量微波介质陶瓷介电性能

对平行板谐振法测量微波介质陶瓷的基本原理进行了阐述。介绍了该方法的硬、软件构成及其操作注意事项,并给出了部分测试结果。该方法具有测量简单、快速、准确的优点,但不适用于测量介质损耗较大的微波介质陶瓷。 r的测量误差为0.5%左右,Q值的测量误差为15%以下。     

低εr微波介质陶瓷的结构与介电性质

介绍了低介质常数ε微波介质陶瓷中复合钙钛矿Ba(X,Y)O3系、（Zn,Sn)TiO4系和BaO-TiO2系材料的结构和介电特性,分析其介电性质随结构和工艺参数的变化规律,以上系列微波介质陶瓷的烧结温度普遍较高,传统的介电理论不能完全解释这些材料的损耗机制,今后的发展趋势是利用复合效应来得到εr更高,品质因数Q值更高,同时温度稳定性良好的高性能材料。     

基于矩形谐振腔的介电系数测量装置

物质介电系数的测量对微波能的应用十分重要。文中基于谐振腔微扰法设计了一种结构简单的矩形谐振腔测量装置。通过测温孔的设计,该测量装置在测量物质介电系数的同时还能测量待测物的温度,可以得到不同温度条件下物质的介电系数。频率为2.45 GHz时,采用该装置对几种有机溶剂进行测量,得到了与相关文献一致的结果。     

双介质栅漏波天线的改进微扰法分析

本文用改进的微扰法分析了双介质栅漏波天线的辐射特性,并将它与单介质栅漏天线的辐射特性作了比较。结果表明;在辐射强度相同的情况下,双栅天线有更小的几何尺寸,这在对系统重量和体积有严格限制的应用场合无疑有重要意义。文中所得数据与基于场匹配方法得到的精确值进行了比较,证明本文方法在保持与精确方法有相同精度的情况下极大地简化了分析和计算过程。     

用复合谐振腔法测量介质谐振器的介电特性

本文根据Ｂａｒｌｏｗ提出的在ＴＥ０１ａ模谐振腔上耦合一段截止波导的构成复合腔的原理，首次在Ｃ波段地介质谐振器材料的介电性能进行了测量，并从理论上证明了该方法对相对介电系数有很高的测试灵敏度，本文给出了几种介质谐振器材料的测试结果，最后就样品厚度对测试精度的影响了分析。     

有增益和吸收的矩形介质波导的微扰分析

用微扰理论分析了复介电常数矩形波导（芯区有吸收的埋入型矩形波导、衬底有 吸收的脊形波导 芯区有增益的埋入型矩形波导）的特必,以直接求得的复本征值方程的解为标准进行比较,结果表明微扰法是相当好的近似方法,在弱吸收和低增益情况下,它给出与标准值符合相当好的数值结果。     

微波介质陶瓷介电机理研究进展

总结了近年来微波介质陶瓷领域结构特性对介电性能的影响机理的研究状况。主要介绍了影响介电常数、品质因数和谐振频率温度系数的本质因素。对未来微波介质陶瓷材料的设计具有一定指导作用,并在最后指出了未来介电机理的研究方向。     

改进矩形腔微扰法测试微波电介质复介电常数

本文讨论了测试电介质微波复介电常数的矩形腔微扰法。对介质样品加载后的ＴＥ１０ｎ模矩形腔腔内场进行了理论分析。通过对腔内场的数值求解，得出了与微扰公式相似的、已修正的准确计算公式。     

分层媒质复介电常数测量的一种方法

本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数校少的媒质,在各分层厚度未知的民政部下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。     

用谐振腔-截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或置入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置入介质谐振器前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q因子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

无损测定成品带线基片的复介电系数

用谐振腔法无损测定两种进口带线基片成品的复介电系数。本工作的特点是用若干书已知介电系数的材料，制作成形状、尺寸与待测基片一样的标准样片，将待测基片与样片引起的不同频差着作为介电系数微扰，用插值法求得待测基片的介电系数。     

测量散粒状介质复介电常数的同轴腔法

本文采用测量终端短路同轴线输入阻抗的方法测量线内介质材料的复介电常数.实践表明,此法结构简单、使用方便,测量准确.特别适用于测量散粒状材料的复介电常数.     

用复合谐振腔法测量介质谐振器材料的介电特性

本文根据Barlow提出的在TE(01n)模谐振腔上耦合一段截止波导构成复合腔的原理，首次在C波段对介质谐振器材料的介电性能进行了测量，并从理论上证明了该方法对相对介电系数有很高的测试灵敏度，本文给出了几种介质谐振器材料的测试结果，最后就样品厚度对测试精度的影响作了分析。     

电磁开腔测量多层介质样品复介电常数

本文提出了一种在毫米波和亚毫米波微段利用电磁开腔测量多层介质样品复介电常数的新方法。在ｋａ波段利用特制的开腔装置建立了一套电磁开腔电介质参数测量系统，并对一些多层介质样品进行了实际测量。测量结果与标称值十分吻合。     

一种求解微波介质谐振器复介电常数的方法

根据微波谐振系统中电场的波动方程,采用复频率和有耗导体的边界条件,导出以被测介质的复介电常数为本征值的微分和变分方程。使用MATLAB软件中的PDE工具箱,只要是能以二维形式作图表现的微波介质谐振器,都可以求解出其复介电常数,且与实验数据及不同方法计算的结果相吻合,该方法适用面广、计算精确、简洁方便。     

电介质复介电常数的教学和实验

本文从时谐电磁场情况下电介质的电极化物理过程出发,通过理论推导建立了介质损耗与复介电常数的关系。在此基础上,以电容器为例得到了时谐情况下的等效电路,进一步得到电容器中电介质的复介电常数实部和虚部与频率的关系,并通过指导本科生测量电介质介质损耗角正切得到复介电常数的频率特性。