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1.
王传贤 《电子工业专用设备》1983,(2)
本文着重讨论了超高压汞灯的光谱衰退特性和在不同光谱线和不同光强的条件下,两种光刻胶的曝光特性。并研讨了恒光强调节系统和积分曝光控制系统的曝光控制精度。对上述两种曝光控制系统作者分别提出了改进曝光控制精度的技术措施。 相似文献
2.
阐述了微小孔近场衍射的基本理论。重点对单色光垂直入射时圆孔衍射场的光强空间分布进行了计算机数值模拟。通过对不同半径圆孔的衍射场光强进行仿真,分析得到了衍射场光强的空间分布特性。对接近式曝光技术参数的设定具有理论指导意义。 相似文献
3.
<正> 概述 光刻机是生产半导体器件的重要工艺设备之一,它可分为工作台对准系统和光学曝光系统两大部分。对于一台性能优良的光刻机光学曝光系统起着不容忽视的作用。近代发展起来的光刻机在曝光系统上采用了一系列新技术,例如在光学设计上采用复眼透镜组来减少光学衍射效应,提高光的均匀性;在幅照光源上采用恒光强控制(如Rarlsu-ss,uv系列光刻机);对曝光时间采用积分曝光(如Canon PLF-500系列光刻机)等。本文仅从电学角度来论述光刻机的曝光控制系统,并对某些专题进行较详细地分析,以便读者可有一深入和系统了解。 相似文献
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5.
丛林 《电子工业专用设备》1983,(1)
<正> 美国光学联合有限公司报道:他们生产的远紫外曝光系统的光源能把恒定光强的照明投送到片子表面且能保证照度均匀。该机的盒对盒式片子输送系统具有送一接升降机,一枚500瓦的远紫外光源和一个恒光强的电源。通过调谐一个单透镜,可以调节片子平面上曝光光强的均匀度。为了便于整套设备的安装,只要通过一个用铰链铰着的门便可看到这种灯。对用户选择的抗蚀剂,该机有三种不同的波长系统可作调节使用。由于采用敏感元件来探测片子表面光强的细微变化,并能瞬时调节灯的电流;使光强修正到正常值,所以不管灯的老化也好,电源的漂移也好,片子平面上的光强都能保持恒定(在±2%之内。) 相似文献
6.
相位掩模法制作光纤光栅的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
准分子激光照射相位掩模后,在近场形成周期的条纹分布,利用近场光强对光敏光纤进行曝光,可以在纤芯中写入光栅,从衍射的频谱理论出发,导出具有一定发散的准单色准分子激光照射掩模时产生的近场光强分布,分析了光源发散角及掩模衍射特性对纤芯 强分布及光纤光栅制作的影响,并把分析结果与实验现象进行了比较。 相似文献
7.
TDLAS系统利用气体对特定波长的激光吸收的原理进行气体检测,激光的光强稳定性对系统的检测精度和稳定度有着重要的影响。针对TDLAS系统激光器光强的变化,本文研制了动态光强跟踪检测电路。电路采用STM32H7B0作为主控制器,设计了低噪声的高速前置放大器,并使用压控放大器AD8367调整电路的增益。主控芯片实时检测光强变化情况,并控制放大器调整检测电路的增益,实现动态光强跟踪。经过测试,该检测电路可以根据激光器光强变化实时的调节增益,稳定的输出电压信号,消除了激光器光强的变化对TDLAS检测系统的影响。 相似文献
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9.
《中国激光》2017,(9)
在扫描干涉场曝光(SBIL)系统中,曝光光斑尺寸对干涉条纹的拼接精度、光栅制作效率及干涉场质量有着十分重要的影响。为获取合理的曝光光斑尺寸,基于高斯光束的传输规律及扫描拼接数学模型进行了数值模拟,讨论了曝光光斑尺寸对干涉条纹的非线性误差、刻线拼接误差和曝光对比度的影响。结果表明:小尺寸曝光光斑比大尺寸曝光光斑更有利于控制干涉条纹的非线性误差;由于存在周期测量误差,小尺寸曝光光斑有利于减小拼接后的刻线误差并提高曝光对比度。针对SBIL系统设计了曝光光路,并对所设计的光路进行了优化。对干涉场左右光斑形貌及干涉条纹相位的非线性误差进行了测量,结果表明:曝光光斑的束腰半径约为0.9mm,干涉条纹相位的非线性误差峰谷值为21.8nm。 相似文献
10.
由于理论研究和实验研究的局限性,用随机相位屏描述湍流大气对激光束的影响,模拟了平顶高斯光束经湍流大气传输时的远场光斑,并进行了统计分析。结果表明,平顶高斯光束经弱湍流大气传输时,短曝光光斑由中心小暗斑和外侧不规则的亮斑组成,湍流增强使光斑破碎,光强分布杂乱无章;对长曝光光斑而言,弱湍流情况下,光斑形状规则,光强分布存在中心凹陷现象,湍流增强使光斑变为椭圆,但光强变为近似成高斯分布。对于本文的参数值,湍流强度为C2n=10-16m-2/3时,光斑质心沿x和y方向分别在[-7.5 mm,7.5 mm]和[-10 mm,10 mm]随机变化,湍流增强使质心漂移标准差变大,同一湍流情况下,平顶高斯光束质心漂移的标准差要比高斯光束小。 相似文献