首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
大爆炸原初核合成的标准模型假定重子密度均匀分布,由于没有A =5和 8的稳定核,核合成的反应流在该处终止。在重子密度不均匀的非标准原初核合成模型 [1] 中,该稳定核空隙可通过4He(3H,?7Li(n,?8Li(幔琻)11B(n,?12B(e-n)12C...4He(3H,)7Li(n,?8Li(n,?9Li(e-n)9Be(n,?10Be(  相似文献   

2.
自动绝对测量^9^9Tc活度   总被引:3,自引:1,他引:2  
由配备通用自动计数与数据处理装置的液体闪烁计数器,采用4πβ(L.S)-γ符合效率示踪两种方法绝对测量了^9^9Tc标准溶液的活度。用HPGeγ谱仪分析测定了放射性纯度。结果纯度大于99.9%,活度的总不确定度(3δ)小于3%。  相似文献   

3.
4.
5.
讨论了在4πβ(ppc)-γ符合装置上测定电子俘获并伴有跃迁到基态正电子分支的核素^6^5Zn的几种测量方法,以及这些方法所需的修正和可能的误差来源。对各种方法的优缺点进行了评价和实验验证。测得的衰变率在0.3%内一致。  相似文献   

6.
7.
张伟坪  姜让荣 《核技术》1993,16(9):540-542
用高纯锗γ谱仪对一些稀土矿中的~(138)La和~(176)Lu含量进行了测量。发现在一个稀土矿中存在着丰富的~(138)La和~(176)Lu,而且它们的含量相差很大,它们在矿中的存在也并不表现正相关性。同时发现在这个稀土矿中~(40)K的含量特别低,这可能对辐射防护和研究稀土矿的形成是有用的。  相似文献   

8.
9.
10.
采用位置接力法和HPGe γ谱仪跟踪测量132I的半衰期.位置之间的交替测量避免了效率刻度,设定每次跟踪测量的真时间相等,简化数据处理,并用平移和迭代两种方法进行数据处理.实验测得132I的半衰期为(2.283±0.002)h,经检验数据可靠.  相似文献   

11.
^132I的半衰期是核衰变数据中的重要参数之一。早在20世纪50~60年代,^132I的半衰期已发表过几家测量数据,测量所用的仪器为电离室和闪烁探测器。这些仪器只能探测总β或γ,放射性计数,不能分辨测量源中可能存在的放射性杂质。之后,至今也未见有新的数据发表。为此,本工作应用高分辨率HPGe探测器重新测量^132I的半衰期。  相似文献   

12.
13.
14.
15.
16.
^229Ra的衰变   总被引:1,自引:0,他引:1  
用14MeV中子轰击钍靶,通过232Th(n,α)229Ra反应产生229Ra,用放射化学方法从被照靶物质中分离出229Ra。利用γ(X)谱学方法,首次观测到了能量分别为14.5,15.6,18.8,21.8,22.5,44.0,47.5,55.0,63.0,69.6,93.6,94.1,98.5,102.2,104.5,106.1,161.1,171.5keV的229Ra衰变的18条新γ射线,建立了229Ra的部分衰变纲图。  相似文献   

17.
本文报道选用与样品源相同的核素作标准源,运用稳定性较好的探测仪器,控制样品源与标准源测量时的相同几何条件,进行比对源~(131)I活度的相对测量,~(131)I测量值为672.6±4.7Bqmg~(-1),与4πβ-γ符合活度基准测量值670.8±2.7Bqmg~(-1)和各比对单位上报结果平均活度671.1±1.7Bqmg~(-1)相对误差均低于3‰,比对结果颇为理想,说明相对测量方法乃是目前基层放射性监测单位测量放射性活度行之有效的方法。  相似文献   

18.
简述了液体闪烁数的单管及双管符合外推方法绝对测量^3H、^14C活度的基本原理,零几率校正采用相对探测阈外推法,并提出了近代零几率外推方法,不同方法的测量结果与参考值相比,偏差在0.4-2.0%以内。  相似文献   

19.
孟庆云  王永昌 《辐射防护》1990,10(2):146-149
本文介绍了用HPGe反康普顿γ谱仪分析三种铝样品(L4R,Lr11CR,Cz)中天然放射性核素~(232)Th和~(233)U含量的结果,其中~(233)U的含量为0.8—0.52Bq/kg,~(232)Th的含量为2.3—6.8Bq/kg。  相似文献   

20.
用^54Mn、^57Co、^65Zn、^85Sr、^109Cd、^137Cs等核素发射的KX射线和I(KX)/I(γ)比值法在5 ̄40keV范围内对Si(Li)探测器的效率进行了刻度(不确定度小于2%)。在此基础上,用Si(Li)X射线谱仪系统和HPGeγ射线谱仪系统对核素^75Se和^113Sn的主γ射线和KX射线进行了测量,获得了^75Se和^113Sn的KX射线发射几率,并与文献报道值进行了  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号