ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

信息化体系结构ATE软件开发平台设计方法

针对国内外复杂电子设备的自动测试系统测试数据开放性差、远程测试保障能力欠缺、测试效率较低等问题,提出一种自动测试设备(ATE)软件开发平台设计方法。该平台以信息化体系结构中间件为核心,实现分布式的资源应用之间的信息交互,并为信息交互提供数据的安全性保障;同时该软件平台以Access数据库技术为支撑,更加有效地组织管理历史测试数据以及复杂电子设备的各类综合保障信息。利用此开发平台,可通过资源应用快速构建集多节点并行测试、故障诊断、维修保障等于一体的ATE软件,不仅可以缩短ATE软件研发时间,降低ATE软件的研发成本,还可以提高测试效率及保障能力。     

VCD仿真文件到93000 ATE测试文件转换分析

VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。     

VXI的多用途电源自动测试系统

工程测试与生产测试从传统上说,电源自动测试设备(ATE)制造厂设计的系统使用在工程上或生产上。生产上用的ATE通常是专用的仪器,通过几次测试就达到最大的生产量。工程上用的ATE通常不要求快速测试,利用市售的GPIB仪器提供多种供设计评估用的测试。由于分工的不同工程和生产两个小组不可能使用同样的ATE。许多电源制造厂在生产中使用面向生产的ATE,而使用面向工程的ATE或者台式仪器进行生产开发和性能鉴定。     

一类数字电位器的快速测试方法研究

该文研究了一类多通道数字电位器的主要功能和关键参数的测试方法,适用于含SPI或者I2C通讯模式的数字电位器ATE测试程序的快速开发。基于自动化测试设备设计了一种双通讯协议多通道的数字电位器的功能及参数测试方法。以DS1844-X为例,用EXCEL构造了稳定的测试向量自动生成平台,设计了多通道并行测试的程序,优化测试程序测试时间。     

Microprobe将持续加大投资以服务中国客户

Microprobe CEO Mike Slessor在日前接受《半导体国际》采访时表示，对于探针卡公司而言，为了达到更好的并行测试以跟随ATE设备不断提升的吞吐率，以及随着器件集成更高带宽功能需要测试更高的频率，更高的测试效率、更低的成本和更少的维护将是获得成功的三个关键标准。     

面向ATE的电路板测试性分析及评估方法研究

为了客观地评价TPS,保证ATE在电路板测试维修中发挥更大作用,给出了面向ATE的电路板测试性评估方法.通过ATE测试资源分析选择测试点,利用电路故障仿真,建立电路板的测试性模型、生成依赖矩阵,得出电路板故障检测率和隔离率;然后结合ATE测试的可靠性及费用分析,得到电路板平均故障隔离费用和平均故障隔离步数,实现了电路板测试性的综合评估.最后以某装备电路板为例,验证了方法的有效性.     

OPENSTAR^TM ATE及第三方测试模块开发

开放架构ATE的概念最早于几年前在半导体工业界提出。[1-2]2002年STC（Semiconductor Test Consortium）组织成立，其目标是在业界建立一套关于开放架构ATE的标准，以应对SoC以及其他复杂芯片的低成本测试的挑战。STC于2004年发布针对开放架构ATE的标准——OPENSTAR^TM，提出了一个开放的模块化的测试平台。基于这个标准，第三方可以独立地开发ATE软硬件，并以“即插即用”的方式整合到这个测试平台上。[3]即ATE厂商、测试模块厂商以及测试系统整合商分工协作，完成整个测试流程。（图1）     

数字ATE上内部示波器的实现

内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。     

电流输出控制设备在ATE上的TPS开发设计

简要阐述了ATE测试平台的应用背景和在电子设备测试维修中的必要性,对ATE测试平台的功能、组成和工作原理做了概括描述。介绍了测试程序集（TPS）的组成及在ATE测试平台上的开发设计思路。并以电流输出控制设备为例进行TPS开发设计,在分析了电流输出控制设备测试需求的基础上,具体设计了电流输出控制设备在TPS开发中的测试接...     

T2000 SiP测试方案介绍

随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战。通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案。并且T2000架构凭借灵活的开放式框架,丰富的测试资源,高效的并行测试构架,人性化的操作界面,以及先进的测试理念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案。     

内嵌于DDS高速DAC的动态参数测试

对基于ATE和频谱仪的内嵌于DDS的高速DAC的动态参数进行测试实验,通过编程由ATE提供数字正弦波和时钟信号;通过频谱仪对DAC输出模拟信号采样,并通过VBT编程得到DAC的动态参数。最后将结果返回到ATE的Excel环境下与其他测试参数结果一起输出。整个流程由ATE主机控制,避免了芯片的二次测试,缩减了测试成本,实验证明在实际应用中该方法有很好的效果。     

应用系统级ATE测试增进IC设计验证效率(英文)

在IC设计周期内尽早发现问题,对于保证项目在预算内按时完成是至关重要的。大多数设计公司目前的通用方法是利用分立仪器,如示波器、频谱分析仪等,连接至一块评估板,并连至PC机,搭建一个系统级验证系统。这样的系统比较易于搭建,但相对缺乏大量数据的分析处理能力,且通常需手动测试。另一方面,ATE在数据采集及分析处理方面具有非常强大的能力,例如SHMOO及自动测试。但通常ATE是在芯片级的自动化测试量产中大量应用,利用ATE进行系统级的测试并不容易。这里介绍一种新的方法,简化ATE上的协议通信设置,使得ATE能够在系统级测试中方便地应用,不增加测试成本,而且大大简化了ATE上的测试程序开发。应用此方案,设计及验证工程师可以协同工作,在短时间内搭建一个基于ATE平台的系统级的测试环境,充分利用ATE强大的数据采集,分析能力,更快更有效地进行芯片的测试验证,从而赢得上市时间。     

分析VLSI自动测试设备高频测试性能的准则

更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。     

一种ATE测试向量时序优化算法

介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则.经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得...     

瑞典航空电子设备的自动综合测试系统

本文介绍了各种自动测试设备(ATE),可为瑞典AJ37“Viggen”飞机所用的电子设备进行维修测试,提供成套的综合系统。又介绍了多级支援ATE的编制。并报导了该ATE具体实施和操作管理方面的经验。     

设计新颖的J750集成电路测试系统

大型的超大规模集成电路ATE系统的售价随着时钟频率的增加越来越高,时钟频1GHz的芯片系统ATE系统已超过150万美元,据预测当时钟频率达到2GHz时,超大规模集成电路ATE系统售价会在300～400万美元以上。显然,这类大型ATE测试系统并不是任何研发单位     

基于FPGA的频率测试系统

传统ATE比较昂贵,功率大耗电多,造成IC的测试成本偏高,针对ATE的不足之处,设计制作FPGA模块的频率测试系统,包括FPGA测试系统的组成模块,测试原理和测试方法,以及与Handler的通信设计。该测试系统占用空间小,耗电少,测试成本低,达到了节能降耗,降低测试成本的目的。     

集成电路测试原理和向量生成方法分析

测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。     

廉价的ATE≠性能低下

与过去相比,如今有更多的电子公司转向使用廉价的ATE来满足他们对生产测试的要求。这不仅是由于这样做明显地降低了添置及运行设备的费用,而且还有其它的原因。他们转向低价的ATE是因为许多新系统能提供超过早期大系统所具有的性能。新品种的ATE之所以较好,首要的原因是它采用了一些新的测试技术。例如采用了无向量测试技术和较多地利用埋置在被测单元中的资源。大多数的廉价的ATE都作成能升级以容纳多种测试资源的基本配置形式。测试系统还可以具有实现双重任务的配备。例如,一个任务是探查工艺缺陷;另一个任务是评价最终产品的功能。