对修正条件／判定覆盖方法测试集个数的分析

修正条件/判定覆盖(MC/DC)是软件测试方法之一。文中通过介绍MC/DC这种测试方法推导出一个关于任意一个布尔表达式其测试集个数的问题的结论。首先从介绍这种测试方法的定义及如何寻找其测试集的方法开始出发;其次推导出关于测试集个数的结论,并加以理论证明;最后以一些实例来说明此结论。     

利用MC/DC减少测试集大小的方法的研究

随着软件的发展，测试技术也在发展。MC／DC即修改条件／判定覆盖，是一种较新的结构覆盖准则，它是在C／DC（条件／判定覆盖）的基础上发展起来的。与其它结构覆盖准则相比，它只是线性地增加了测试用例的数量，使得软件测试更加具有可操作性。而对于测试来说，测试用例的选择和优化是至关重要的。在探讨MC／DC的基础上，利用MC／DC的特点，初步提出了利用MC／DC进行测试集减少的方法，使得减少后的测试集与原测试集对测试需求有着相同或相似的覆盖率，并对此方法的利弊做了一定的分析。     

LDRA Testbed中常用覆盖测试方法研究

使用LDRA Testbed对实例进行覆盖测试,介绍了获得语句覆盖率、分支覆盖率以及MC/DC覆盖率的方法,同时阐述了这3种覆盖测试方法的优劣,表明了LDRA Testbed能够有效获取被测软件的动态覆盖率信息,降低测试难度,提高测试效率。     

一种新的测试集简化的测试覆盖准则

在回归测试过程中,测试集的规模不断的变大增加了测试的成本.结合某种测试准则利用测试简化法对测试集中冗余的测试用例进行删除是一种有效的解决方法.但是用此方法得到的简化测试集,其错误检测能力往往被减弱.因此提出了一种新颖的测试覆盖准则,即二级变量串联覆盖准则和二级变量并联覆盖准则.这两种准则主要考虑了变量间的串、并联关系对程序的影响.用此准则与其它测试覆盖准则相组合,利用HGS测试集简化法对测试集进行选择,既简单高效又保证了最小化测试集的错误检测能力.针对文献[3]中的具体应用实例,验证了该测试覆盖准则的有效性.     

耦合条件的MC/DC测试用例集生成算法

MC/DC是一套航电A级软件的测试覆盖性准则,可以有效减少测试用例量.针对如何快速获取尽可能小的测试用例集这一难点展开研究,重点关注于具有耦合条件的逻辑表达式,提出了两套解决方案,分别用于解决零耦合/弱耦合条件和强耦合条件问题,并给出了示例证明.结果表明,灵活使用两套算法,可以全面解决一般逻辑表达式的MC/DC测试用例集的快速生成问题.     

MC/DC 最小测试用例集递归分块矩阵生成算法

测试用例个数可以影响软件测试的成本与效率,因此最小测试用例集的生成算法具有重要的实用价值。对布尔表达式语法树采用递归分块矩阵处理,得到了MC/DC最小测试用例集生成算法。并证明了该算法的正确性,给出其成立的前提条件。     

更改的判定条件覆盖测试技术研究

与语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定条件覆盖、多重条件覆盖相比，路径覆盖具有更强的结构覆盖率。但其需要更庞大的测试用例，事实上它并不实用。近年来，一种相对新颖和优秀的结构覆盖准则一一更改的判定条件覆盖(MC/DC)应运而生，它继承了多重条件覆盖的优点，同时只是线性地增加了测试用例的数量。因此，在许多重要的软件，尤其是以嵌入式和实时性为特征的航空机载软件中得到广泛的应用．介绍了MC／DC的特点、设计方法、评估策略及工程应用。     

测试集问题的集合覆盖贪心算法的深入近似

测试集问题是一个有着广泛应用的NP难问题.集合覆盖贪心算法是测试集问题的一个常用近似算法,其由集合覆盖问题得到的近似比21nn+1能否改进是一个公开的问题.集合覆盖贪心算法的推广被用来求解生物信息学中出现的冗余测试集问题.通过分析条目对被区分次数的分布情况,用去随机方法证明了集合覆盖贪心算法对测试集问题的近似比可以为1.51nn+0.5lnlnn+2,从而缩小了这种算法近似比分析的间隙.另外,给出了集合覆盖贪心算法对冗余度为n-1的加权冗余测试集问题的近似比的紧密下界(2-o(1))lnn-Θ 1).     

基于用户会话的Web测试集简化方法

随着用户会话的增多,基于用户会话的Web测试方法的测试集会越来越庞大,为了解决测试开销受到挑战的问题,使用概念分析方法对测试用例分簇,构建层次概念网络,结合贪心算法,提出了3种Web应用程序测试集的简化方法,扩展了测试集的动态简化,并且提出了移除过时用户会话的测试集动态简化方法.最后,实验结果表明了该方法在语句覆盖和故障检测方面的有效性.     

探究关于测试需求集的测试用例集极小化方法

软件测试是软件生产厂商在软件开发过程中非常重要的一个阶段。本文围绕着测试用例集约简技术展开研究。首先阐述了测试用例集的约简技术的含义与作用,分析了测试用例集的约简技术能够降低软件测试成本以及提高软件测试效率的方法。本文结合几种常用的测试用例集的约简技术,提出一种关于测试需求集的测试用例集极小化方法,该方法基于测试需求集的最小测试用例集的形成算法,从而得到优化的代表测试用例集,为测试用例集约简技术提供很好的理论基础和测试技术的依据。     

面向条件判定覆盖的线性拟合制导测试生成

条件判定覆盖(Condition/Decision Coverage,C/DC)准则是各种安全攸关软件测试中常用的测试覆盖准则,它要求软件测试覆盖程序中每个判定以及条件的真/假取值.现有的自动测试生成方法在针对该准则的测试用例生成过程中存在很多不足:例如符号执行方法很难处理较为复杂的非线性条件约束,并在处理程序的规模上受到很大限制;希尔攀登法由于在搜索过程中易陷入局部最优而难以达到满足C/DC准则的高覆盖率;模拟退火法和遗传算法依赖于用户使用过程中的复杂配置,测试用例生成效果具有一定的随机性.针对这一现状,本文提出了一种新的线性拟合制导测试用例生成方法.依据C/DC准则,该方法将程序中的每一个条件判定规范化为一个与零值比较的数值函数,并以插桩与执行获得该函数当前输入下的采样.通过拟合这些采样,能够逐步判断出程序中各个条件判定与输入的关系,并利用这些关系生成高覆盖率的测试用例.相对于传统方法,本文方法具有参数配置简易,生成过程高效等优点,并且能处理带非线性条件约束,逻辑复杂的程序.在3个开源软件库中的25个真实程序上运行的实验结果表明,本文提出的方法比目前以覆盖率见长的遗传算法(Genetic Algorithm,GA)制导方法具备更好的覆盖能力与更高的执行效率.     

PHP环境中测试驱动的边界条件判定

测试驱动开发是近年来兴起的软件方法,是极限编程的重要组成部分。应用测试驱动开发的方法确定程序设计中的边界条件,可以避免繁琐的理论证明和不确定性。通过这种方法的实施,使得软件开发过程更加可控,代码健壮性、安全性更高。     

Generalized Bonferroni Mean Operator for Fuzzy Number Intuitionistic Fuzzy Sets and its Application to Multiattribute Decision Making

The Bonferroni mean (BM) was originally introduced by Bonferroni in 1950. A prominent characteristic of BM is its capability to capture the interrelationship between input arguments. This makes BM useful in various application fields, such as decision making, information retrieval, pattern recognition, and data mining. In this paper, we examine the issue of fuzzy number intuitionistic fuzzy information fusion. We first propose a new generalized Bonferroni mean operator called generalized fuzzy number intuitionistic fuzzy weighted Bonferroni mean (GFNIFWBM) operator for aggregating fuzzy number intuitionistic fuzzy information. The properties of the new aggregation operator are studied and their special cases are examined. Furthermore, based on the GFNIFWBM operator, an approach to deal with multiattribute decision‐making problems under fuzzy number intuitionistic fuzzy environment is developed. Finally, a practical example is provided to illustrate the multiattribute decision‐making process.     

Design for Testability for Complete Test Coverage

Some design-for-testability techniques, such as level-sensitive scan design, scan path, and scan/set, reduce test pattern generation of sequential circuits to that of combinational circuits by enhancing the controllability and/or observability of all the memory elements. However, even for combinational circuits, 100 percent test coverage of large-scale circuits is generally very difficult to achieve. This article presents DFT methods aimed at achieving total coverage. Two methods are compared: One, based on testability analysis, involves the addition of test points to improve testability before test pattern generation. The other method employs a test pattern generation algorithm (the FAN algorithm). Results show that 100 percent coverage within the allowed limits is difficult with the former approach. The latter, however, enables us to generate a test pattern for any detectable fault within the allowed time limits, and 100 percent test coverage is possible.     

Call-Stack Coverage for GUI Test Suite Reduction

Graphical user interfaces (GUIs) are used as front ends to most of today's software applications. The event-driven nature of GUIs presents new challenges for testing. One important challenge is test suite reduction. Conventional reduction techniques/tools based on static analysis are not easily applicable due to the increased use of multilanguage GUI implementations, callbacks for event handlers, virtual function calls, reflection, and multithreading. Moreover, many existing techniques ignore code in libraries and fail to consider the context in which event handlers execute. Consequently, they yield GUI test suites with seriously impaired fault-detection abilities. This paper presents a reduction technique based on the call-stack coverage criterion. Call stacks may be collected for any executing program with very little overhead. Empirical studies in this paper compare reduction based on call-stack coverage to reduction based on line, method, and event coverage, including variations that control for the size and optional consideration of library methods. These studies show that call-stack-based reduction provides unique trade-offs between the reduction in test suite size and the loss of fault detection effectiveness, which may be valuable in practice. Additionally, an analysis of the relationship between coverage requirements and fault-revealing test cases is presented.     

一种面向测试需求部分覆盖的测试用例集约简技术

软件系统开发中频繁面对局部更新和部分缺陷修改,此时需要选择性回归测试;为降低其测试工作量需要解决部分覆盖用例集约简问题.文中基于选择性回归测试形式化定义多目标用例集约简,并设计HATS算法解决该问题.HATS算法遵循启发式贪婪搜索框架,定义权重因子a平衡两方面目标:其一是减少用例集规模;其二是避免对无关需求的覆盖.实验...     

有向传感器网络覆盖预测模型与数量估计

有向传感器网络由大量有向传感器节点组成,不同于有着全向感知范围的全向传感器网络,有向传感器网络的感知范围是一个扇形区域.研究了有向传感器网络的覆盖预测模型及数量估计问题.针对节点随机部署的应用环境,在初始部署网络时,为满足一定的覆盖率要求,在充分考虑了目标区域边界效应的基础上,提出了一种基于概率的网络覆盖预测模型.基于该模型,对初始部署的节点数目进行了预测.通过仿真实验,对结果进行了分析.结果表明：利用所提模型得到的理论值与实验真实值拟合较好,且更符合实际应用需求.     

嵌入式软件的覆盖测试

覆盖测试是检验嵌入式软件功能结构正确性以及查找问题的重要方法和手段。纯粹的人工测试工作量大、操作不方便、周期长,需要借助一定的工具才能取得较好的效果。使用测试工具LDRA Testbed进行了覆盖率测试,达到了一定的语句、分支以及LCSAJ覆盖率。测试过程说明了该工具能够有效获取被测软件的动态覆盖率信息,评价测试用例的完整性,并有针对性地补充测试用例,进而提高软件测试的覆盖率,帮助决定何时终止软件测试。