X射线荧光光谱法对带镍覆盖层银饰品中银含量的快速检测

应用X射线荧光光谱法(XRF法)开展快速检测带镍覆盖层银饰品的银含量方法研究。使用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪对样品进行测定,测得银饰品的基体银含量、镍覆盖层厚度和样品厚度,运用K值计算法,获得银饰品的银含量。银含量的检测结果与化学滴定法的测试结果吻合,证明XRF方法准确可行。     

电子元器件镍金复合镀层厚度测试方法研究

目前,电子元器件复合金属镀层厚度的测量主要采用具有破坏性的金相切片法,该方法会对样品造成不可逆损伤。鉴于此,该文提出先培养基片,再通过X射线荧光测厚仪测量复合镀层厚度的基于过程工艺控制的无损检测法,并探究双层和三层镍金复合镀层结构,得到内层镀层对外层镀层测量的影响因子,并研究其测量误差。实验结果表明:该培养基片法在不破坏样品的情况下实现电子元器件复合金属镀层厚度的精确测量,为电子元器件生产过程中复合镀层厚度的控制提供技术支持,进一步完善电子元器件镀涂工艺。     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

陶瓷二次金属化镀镍层厚度的无损检测

本文分析了陶瓷-金属封接中二次金属化镀层厚度对陶瓷-金属封接质量的影响，提出采用X射线荧光光谱法（XRF）对二次金属化镀层厚度进行无损检测，分析了二次金属化镀层成分与含量，对二次金属化镀层的底材进行SEM分析，进行了检测用标准片的设计和标定，建立了XRF无损检测厚度方法的应用程序和校准方法。研究结果表明：采用X射线荧光光谱法，对二次金属化镀层厚度进行无损检测是可行的和可靠的；在试验的范围内（2．48-10．5μm），测量误差小于2％，RSD（相对标准偏差）小于2％。     

X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用

X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。     

X荧光光谱分析法在镀层厚度测量中的应用

基于X射线荧光光谱的基础理论,简要分析了能量色散X射线荧光光谱分析方法的工作原理及其在镀层厚度测量中的应用技术.通过对一组相同结构不同厚度标准片的实际测量,在薄膜厚度测量非线性数学模型条件下,通过评估测量中各种不确定度来源和大小,总结出校准标准片在总不确定度中起的主导作用,为实际测量应用中提高精度提供理论基础.     

探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法测定银含量的影响

通过采用X射线荧光光谱法与电位滴定法对不同处理工艺的银合金进行检测,探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法检测银合金的影响,以确认X射线荧光光谱法在银饰品上的应用。经实验分析表明,X射线荧光光谱法在开展不同工艺银合金的检测时,其检测结果受镀层厚度与镀层组分影响,甚至会造成误判,但通过打磨处理可消除其影响。     

镀层测厚仪标准样块制作及其不确定度评定

金属镀层的厚度一般是用镀层测厚仪或涂层测厚仪来测量的,但是镀层测厚仪目前还没有校准规范,而涂层测厚仪的检定,JJG 818—2005《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》是用非金属厚度片作为标准件,故而与被测件的介质不一致,测量结果的可靠程度无法确定,文章介绍了在量块上镀上不同的金属介质,用常用端度计量仪器确定介质厚度,并对其进行不确定度评定,以及用来校准镀层测厚仪的方法。     

X射线荧光光谱法测定土壤样品中氯、溴、硫的研究

本文进行了粉末压片X射线荧光光谱法测定土壤样品中氯、溴和硫的试验研究。采用国家一级标准物质建立校准曲线,进行了氯、溴、硫的测量条件优化设置试验;探讨了氯、溴和硫校准曲线校正试验中Mo基体干扰及曲线拟合方式等因素对氯的测定结果影响,As、Pb基体干扰、内标校准及校准曲线拟合方式对溴测定结果影响,样品干燥状态、校准曲线拟合方式等因素对硫的测定结果影响;建立了X射线荧光光谱法测定土壤样品中氯、溴和硫的定量分析方法。同时进行了土壤中硫测定结果的红外吸收法和X射线荧光法结果比对,多目标考核样品测定结果的效果试验,以及方法的检出限及精密度试验,测定结果均满足《多目标区域地球化学调查规范(1:250000)》(DZ/T00258-2014)中氯、溴和硫的测定要求。