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本文首先从器件有源区耗尽过程分析表明AlGaN/GaN HEMTs器件具有与传统Si功率器件不同的耗尽过程,针对AlGaN/GaN HEMTs器件特殊的耐压机理,提出了一种降低表面电场,提高击穿电压的新型RESURF AlGaN/GaN HEMTs结构.新结构通过在极化的AlGaN层中引入分区负电荷,辅助耗尽二维电子气,有效降低了引起器件击穿的栅极边缘高电场,并首次在漏极附近引入正电荷使漏端高电场峰降低.利用仿真软件ISE分析验证了AlGaN/GaN HEMTs器件具有的"虚栅"效应,通过电场和击穿特性分析获得,新结构使器件击穿电压从传统结构的257V提高到550V. 相似文献
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普通MOSFET的栅极、源极、漏极处于芯片水平方向的同一表面上.导通时的工作电流沿芯片表面按水平方向流动.称为水平式场效应管。VMOSFET的栅极做成V形.源极制馓在栅极的两边.栅极与半导体材料之间的S1O2层也做成V形。GS间施加电压后形成的反型层导电沟道呈V形.漏极电流垂直向源极流动.到达表面时沿V形导电沟道流到源极S.故称为VMOSFET。 相似文献
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GaAs基PHEMT加速度传感器的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
PHEMT结构一种高电子迁移率晶体管,以其高频和低噪声等方面的优越性,成为当今微电子领域中最活跃的研究主题之一。将其良好的力敏特性应用在加速度计方面更是成为前沿的研究方向。基于GaAs基PHEMT结构压阻效应,设计加工出一种悬臂梁式微加速度传感器,通过力作用在加速度计上,改变PHEMT结构漏极电流的输出,并通过外围测试电路来检测该电流变化,从而实现力电转换。文中,对其基本原理和结构设计进行阐述,并进行力学特性的研究。结果表明,在动态测试下,PHEMT结构的漏极输出电流与栅压、漏压之间的关系与静态测试I-V特性曲线保持一致。该加速度计具有良好的线性特性,经过测试在饱和区灵敏度为0.177 mV/gn。 相似文献
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按照铁电储存器的破坏性读出和非破坏性读出的这两种基本工作模式及其所对应的铁电随机存取存储器FRAM和铁电场效应晶体管肿FFBT两种结构形式的分类,分别介绍了1T/1C,2T/2C结构和铁电场效应晶体管金属-铁电-半导体(MFS)结构的基本铁电存储单元的结构及其工作模式。 相似文献
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基于高低肖特基势垒机理提出一种无掺杂的隧道场效应晶体管HLSB-TFET。该器件只需要一个具有独立电源的栅电极且无需掺杂。在源极与中间硅区导带之间形成高肖特基势垒,用来产生隧道效应作为正向导通机制;在漏极与中间硅区导带之间形成低肖特基势垒,用于防止由热离子发射引起的空穴。所提出的HLSB-TFET对空穴具有自然的阻挡效应,不会随着漏极到源极电压的增加而显著降低。经过仿真验证,该器件的亚阈值摆幅较低,反向漏电与静态功耗均较小,体现出较高的应用优势。 相似文献
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牛余朋 《电子制作.电脑维护与应用》2006,(4):50-50
妙制一种多用感应测电笔不接触电线或接点就能测出其是否带电,使用起来得心顺手方便又安全。这里介绍一种多用感应测电笔可以判断一般橡胶或塑料电缆的断芯或寻找暗线故障的简单感应多用测电笔。电路见图1、图2所示,感应测电笔是利用场效应晶体管输入阻抗极高这个特性原理制作的。栅极从空间电场感应到被测信号,经一级放大后用发光二极管显示出来,R1是场效应晶体管的负载电阻,阻值可根据管子电流适当调整,要求源极、漏极间的电压Vsd在无感应信号时略低于0.7V左右,三极管V2刚好截止,发光二极管LED不亮,R2是发光二极管的限流电阻,使电流限制在15~20mA左右的额定值之内。测电笔的外壳可以用市面上原有的 相似文献
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M-GEP:基于多层染色体基因表达式编程的遗传进化算法 总被引:23,自引:1,他引:23
该文提出了一种新的基于多层染色体基因表达式编程的遗传进化算法M—GEP,新算法引入了多层染色体的概念,利用染色体构建的层次调用模型对个体进行表达,在解决实际函数发现、电路进化等实际问题中取得了良好效果.该文主要贡献包括:(1)提出了基于多染色体的基因表达式编程算法(M-GEP);(2)建立了不同染色体的层次调用模型及存储结构;(3)提出并实现了基于染色体的重组算子和基因随机重组算子.对多基因GEP和单基因GEP的对比实验结果表明,平均进化辈数仅为后者的29%~81%. 相似文献
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基于可调电流控制模式设计出一种低压、高电源抑制比的带隙基准电压源电路。采用电流控制模式和多反馈环路,提高电路的整体电源抑制比;通过电阻分压的方式,使电路达到低压,同时提供偏压,简化偏置电路。采用0.5μmCMOS N阱工艺,电路可在电源电压为1.5V时正常工作。使用Cadence Spectre进行仿真结果表明,低频时电源抑制比(PSRR)高达107dB。-10℃~125℃温度范围内,平均温度系数约7.17ppm/℃,功耗仅为0.525mW。此电路能有效地抑制制程变异。 相似文献
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提出了一种可用于标准CMOS工艺下且具有二阶温度补偿电路的带隙基准源。所采用的PTAT2电流电路是利用了饱和区MOSFET的电流特性产生的,具有完全可以与标准CMOS工艺兼容的优点。针对在该工艺和电源电压下传统的启动电路难以启动的问题,引入了一个电阻,使其可以正常启动。基准核心电路中的共源共栅结构和串联BJT管有效地提高了电源抑制比,降低了温度系数。基于TSMC 0.35μm CMOS工艺运用HSPICE软件进行了仿真验证。仿真结果表明,在3.3V供电电压下,输出基准电压为1.2254V,温度系数为2.91×10-6V/℃,低频的电源抑制比高达96dB,启动时间为7μs。 相似文献
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随着器件尺寸缩小至纳米级,微观粒子对半导体器件的影响变得越来越明显。器件可靠性的研究近年来逐渐引起了人们的重视,开展了很多相关研究。以研究单粒子翻转效应为核心,在传统混合仿真的基础上,采用简化RC电路模型对简化电路的应用进行研究,总结了电阻和电容值变化对等效电路中敏感节点处电学特性变化的规律,探究了使用Id Vd曲线判断单粒子翻转的准确性,提出了在研究临位翻转时,通过单次实验即可有效预测临位翻转情况的方法。根据实验所得的电压电流曲线图形特点对它们进行分类,从而判断临位翻转。通过模拟实验与预测结果比对,两者的结果相符,预测有较高准确性。 相似文献
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提出一种新型的比较器复用结构,实现了用一个比较器对四组电压的比较。其中,脉冲分配器采用新型的机构,在一定频率下与锁存单元相配合,保证了对四组电压分时比较的正确性,并可推广到对N组电压的比较进行控制。与传统使用多个比较器相比,简化了电路结构,降低了电路功耗,而且便于推广应用。并在UMC0.6urn30V BCD工艺库下通过Hspice仿真验证,达到了低功耗的要求,具有很大的应用前景。 相似文献
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Daniel Sang-Won Park Youngkyun Jeong Jeong-Bong Lee Sungyong Jung 《Microsystem Technologies》2008,14(9-11):1429-1438
This paper presents a chip-level integration of radio-frequency (RF) microelectromechanical systems (MEMS) air-suspended circular spiral on-chip inductors onto MOSIS RF circuit chips of LNA and VCO using a multi-layer UV-LIGA technique including SU-8 UV lithography and copper electroplating. A high frequency simulation package, HFSS, was used to determine the layout of MEMS on-chip inductors with inductance values close to the target inductance values required for the RF circuit chips within the range of 10%. All MEMS on-chip inductors were successfully fabricated using a contrast enhancement method for 50 μm air suspension without any physical deformations. High frequency measurement and modeling of the integrated inductors revealed relatively high quality factors over 10 and self-resonant frequencies more than 15 GHz for a 1.44 nH source inductor and a 3.14 nH drain inductor on low resistivity silicon substrates (0.014 Ω cm). The post-IC integration of RF MEMS on-chip inductors onto RF circuit chips at a chip scale using a multi-layer UV-LIGA technique along with high frequency measurement and modeling demonstrated in this work will open up new avenues with the wider integration feasibility of MEMS on-chip inductors in RF applications for cost-effective prototype applications in small laboratories and businesses. 相似文献
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In this paper, a low‐noise amplifier (LNA) with process, voltage, and temperature (PVT) compensation for low power dissipation applications is designed. When supply voltage and LNA bias are close to the subthreshold, voltage has significant impact on power reduction. At this voltage level, the gain is reduced and various circuit parameters become highly sensitive to PVT variations. In the proposed LNA circuit, in order to enhance efficiency at low supply voltage, the cascade technique with gm boosting is used. To improve circuit performance when in the subthreshold area, the forward body bias technique is used. Also, a new PVT compensator is suggested to reduce sensitivity of different circuit's parameters to PVT changes. The suggested PVT compensator employs a current reference circuit with constant output regarding temperature and voltage variations. This circuit produces a constant current by subtracting two proportional to absolute temperature currents. At a supply voltage of 0.35 V, the total power consumption is 585 μW. In different process corners, in the proposed LNA with PVT compensator, gain and noise figure (NF) variations are reduced 10.3 and 4.6 times, respectively, compared to a conventional LNA with constant bias. With a 20% deviation in the supply voltage, the gain and noise NF variations decrease 6.5 and 34 times, respectively. 相似文献