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为适应电铸镍生产的需要,在普通直流安培小时计的基础上改进研制了一种数字式镀层厚度自控仪。该仪器直接显示所需要的镀层厚庆;镇前只需将镀件面积和所需镀层厚度预置进去;电镀时显示的是还需要沉积的厚度;到显示为0时,即可自动报警并切断电源。 相似文献
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一种测量镀层厚度的新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍以MCS-51单片机为核心,利用霍尔集成电路,集成函数运算放大器、V/F转换器等组成的新型镀层厚度测量仪。适合于对导磁工件上镀(涂)有非导磁材料的镀(涂)层厚度的测量。 相似文献
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聚四氟乙烯—镍—磷化学镀复合镀层的耐腐蚀性能 总被引:1,自引:0,他引:1
聚四氟乙烯-镍-磷非电解复合镀是材料表面改性的一种新技术.所得镀层的优点是尺寸精度高,配合公差小,厚度均匀且容易控制,有较高的硬度,有良好的自润滑、耐磨、耐温和耐腐蚀性能.本研究所用的聚四氟乙烯-镍-磷(PTFE-Ni-P)镀层是通过把PTFE微粒分散到以次亚磷酸盐作还原剂的化学镀镍溶液中,借助于缓慢的自催化还原反应把PTFE夹带到镀层中而形成的.用三种方法对所得镀层的耐腐蚀性能进行了检验.第一种是户外暴露试验.用两个同样的螺检作对照试验.其中一个镀有10μm左右厚度的PTFE-Ni-P复合镀层;另一个则为未经施镀的对照样本.在从12月到次年5月的整整6个月的户外暴露中,温度变化范围为-10℃~30℃,遇到两场雪和六场雨.未镀样 相似文献
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本文对银镀层产生变色的零件制造工序,电镀工序以及环境条件等影响因素进行了分析和讨论,结合生产实际,提出了防止银镀层变色的综合控制措施。 相似文献
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涂层镀层厚度的检测(二)化工部涂料工业研究所深圳华丰化工有限公司王叔孙二、校准测量要准确,要达到仪器规定的指标,使用前就必须校准,校准的原则是无覆层的校准试样与被测物的基材应具有:相同成分,相同厚度(在厚度小于仪器规定的最小值以下时),相同的曲率半径... 相似文献
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为了保证电子元件的质量,金属线上可焊性镀层的厚度是一个必须控制的参数,可焊性镀层的厚度必须保持在非常牢固的极限范围内,开发的X-射线荧光设备具有非常小的采样面积,可以测定直径小于50μm的金属线,该设备测定结果比常规方法至少精确50nm。 相似文献
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金属镀层厚度测量结果的一致性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
利用带有特殊台阶构造的Cr/Ni类型实验样品,分别采用X射线光谱法、轮廓法和截面法进行表面镀层厚度的测量,对三种方法测量结果的一致性问题进行探讨。实验结果表明,X射线光谱法的镀层厚度测量值较其它两种方法明显偏小,相对偏差甚至超过50%。由于利用X荧光测厚仪进行分析时未考虑实际样品与校准工作曲线用标准厚度片的密度差异,因此导致镀层厚度的测量值出现较大偏差。考虑到工业实际上目前普遍利用商品化标准厚度片进行X荧光测厚仪的校准,提出应对该类仪器现有计量校准体系做进一步研究。 相似文献
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对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(Coating)。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达优的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度都有了明确的要求。 覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法,磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂… 相似文献
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Zn—Al2O3和Zn—SiO2复合镀层的研制 总被引:4,自引:0,他引:4
详细叙述了Zn-Al2O3和Zn-SiO2复合镀层的制做方法,提出了复合镀液中所用微粒子和净化处理方法。对复合镀层的耐腐蚀性和结合力进行了测定,得出了耐腐蚀性和结合力均较好的Zn-Al2O3和Zn-SiO2复合镀层中粒子的含量范围等有用的数据。 相似文献
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采用X射线荧光能谱仪,分别测量基底元素的强度,以求得金薄膜和镀层的厚度。用镀金片检验,当薄膜和镀层厚度t<3.0μm时,测量偏差<0.10μm,方法简便,可方便地用于镀层厚度的控制生产中。 相似文献