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粟鹏义 《电子产品可靠性与环境试验》2003,(1):40-42
介绍了用于可编程逻辑器件的电子设计自动化软件的基准测试以及所面临的问题,并针对目前高密度可编程逻辑器件的电子设计自动化软件,提出了一种基于IP核的基准测试的设想及实现方法。 相似文献
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ValerieRachko 《今日电子》2001,(3):13-14
几年以前,高容量的现场可编程器件(FPGA)指 的是包含有5万个门电路,应用于逻辑结合比较紧密的 电路。但今天的FPGA已包含数百万个门电路,成为某 些增长最快的高科技市场的电子系统核心。摩尔定律在FPGA上呈现,包括门数与速率。高容量、高性能的FPGA已处在硅技术的前沿,甚至在某些场合替代了ASIC。 相似文献
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当今,数字时代的核心动力便是单片机,DSP,PLD/EDA,以其各自的特点满足了各种需要,推动着信息技术的快速发展。这里将对这三类电子产品分别加以介绍,并作比较和分析。 相似文献
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EDA(Electronics Design Automation)技术是随 着集成电路和计算机技术的飞速发展应运而生的一种高 级、快速、有效的电子设计自动化工具。EDA工具是以 计算机的硬件和软件为基本工作平台,集数据库、图形 学、图论与拓扑逻辑、计算数学、优化理论等多学科最 新成果研制的计算机辅助设计通用软件包。EDA是电子 设计技术的发展趋势,利用EDA工具可以代替设计者完 成电子系统设计中的大部分工作。 相似文献
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简述作者开发的以ispLSI1032E为可编程逻辑器件EDA实验开发板的设计思路和设计要点,并给出了开发板的应用示例电路。 相似文献
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介绍了电子设计自动化EDA (ElectricalDesignAutomation)技术的基本特点 ,以红外遥控为例 ,提出了一种PLD (可编程逻辑器件 )解码电路 ,并用ispLSI10 6 0实现 ,该电路原理简单、设计方便、工作可靠 ,可用于以键盘扫描为输入方式的智能仪器中。 相似文献
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EDA技术是现代电子设计技术的核心,它在现代集成电路设计中占据重要地位。随着深亚微米与超深亚微米技术的迅速发展,FPGA设计越来越多地采用基于VHDL的设计方法及先进的EDA工具。本文详细阐述了EDA技术与FPGA设计应用。 相似文献
9.
数字IC可测性设计及其EDA流程 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了数字IC可测性设计(DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化(EDA)环境中的实现流程.DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构和模块,使之能够满足测试的需要.它的目标包括:所设计的电路和系统易于测试;由此设计所引起的附加硬件应尽可能少;电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少;设计方法的适应面要广.着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEE P1500--嵌入式核的测试标准. 相似文献
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PLD用EDA软件测试技术概述 总被引:3,自引:3,他引:3
粟鹏义 《电子产品可靠性与环境试验》2001,(6):17-22
介绍了用于可编程逻辑器件 (PLD) 的电子设计自动化 (EDA) 软件开发的质量保证 (QA) 中的软件测试,包括怎样制定测试计划,明确测试目的,确立评判标准,产生和收集测试事例,确定测试范围和选择方法以及如何进行结果分析等,尤其讨论了与一般软件测试的不同之处。 相似文献
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EDA技术在芯片设计中的发展与应用 总被引:2,自引:0,他引:2
EDA(Electronic Design Automatic)技术已成为电子系统设计和电子产品研制开发的有效工具。分析了EDA技术的发展过程、基本设计方法,并阐述了当今EDA工具在芯片设计过程中存在的问题,同时从硅虚拟原型(SVP)及可测试性技术(DFT)二个方面讨论了EDA技术应用的发展趋势。 相似文献
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根据教学经验,阐述了对《集成电路设计EDA实验》课程教学的优化。这些优化包括课程开设时间、先前理论课程重点内容的复习、基于工业界主流EDA工具的实验平台的搭建和教学实例的选择。课程优化后的教学充分调动了学生学习的积极性,增强了学生的动手能力,使学生从整体上掌握了集成电路设计的流程,并与工业界接轨,提高了就业竞争力,达到了预期效果。 相似文献
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DAC2005大会的主题是在设计中把功耗降至最低限度,6月2~6日举办的设计自动化大会(DAC)为工程师提供了一个有趣的产品侧面,即这些产品把更多的设计准则自动化。这些产品提高了生产效率,缩短了上市销售时间,简化了艰苦的设计过程。 相似文献
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