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葛荣德 《有色金属材料与工程》1986,(5)
平面型Cr-Si合金溅射靶材是上海有色金属研究所受复旦大学委托采用粉末冶金法研制而成的。该靶材经复旦大学使用,制成高电阻率的Cr-Si薄膜已成功地应用于该校承担的“六五”国家科技攻关项目—12bit 相似文献
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《中国钨业》2020,(1):36-41
钨靶材是溅射沉积制备集成电路中栅极和布线层的重要原材料,在芯片制造领域扮演着重要的角色。随着芯片的制程越来越小,对沉积薄膜的性能要求越来越高,这就对钨靶材提出了更高的要求,钨靶材制备工艺的优化已成为国内外研究的热点。集成电路对钨靶材的性能指标,如纯度、致密度、晶粒尺寸及均匀性、织构等,均具有严格的要求;这些指标亦是评价钨靶材优劣的重要依据。本文主要归纳了钨靶材主要的制备手段(以热等静压和热轧为主的各种热机械工艺的组合),并分析了各工艺路径的特点,最后预测了钨靶材制备技术的发展趋势,认为进一步控制钨靶材制备过程中的晶粒尺寸和降低钨薄膜的电阻率将成为未来重要的研究内容。 相似文献
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扼要介绍了光记录介质反射膜的发展。指出了纯铝及早期的铝合金光记录介质反射膜及其靶材存在的问题。最后介绍了几类新型铝合金反射膜及其靶材。 相似文献
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高纯钨溅射靶材制取工艺研究 总被引:1,自引:0,他引:1
微电子技术、光电技术对钨的纯度要求越来越高,熔炼钨纯度高但尺寸规格小且加工难度大。仅对采用粉末冶金法制取高纯钨材工艺试验过程中,重新氨溶,中和结晶的除杂效应进行了一些探讨,对经高真空高温处理后的钨方坯加工性能进行了加工试验,证明采用重新氨溶、中和结晶、超高真空高温脱气工艺可有效地去除杂质。高纯钨材质优良、性能稳定、放气量小。 相似文献
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