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本文认为孤立垂直磁化介质中存在退磁场,并建立了近似的数学模型.推导了读出波形电压表达式。分析了头盘结构参数对读出过程的影响。 相似文献
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可编程控制器与工控机的通信实现 总被引:3,自引:0,他引:3
本文简要介绍了可编程控制器的性能、特点,实现了可编程控制器与工控机的通信和程序设计,介绍了电缆自动生产线监控系统中应用时的程序设计方法,解决了通信中数据的正确读出和可靠读出。 相似文献
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目前InGaAs等材料的短波红外探测器读出电路已经较为成熟,其输入级接口电路也因不同公司和项目需求有着相对成熟的选择,但是在量子点短波红外探测器读出电路输入级接口电路的选择上,现有可查阅的公司及团队也并没有对输入级接口电路的选择进行研究,为了解决量子点探测器与读出电路输入级接口的匹配问题,对量子点探测器所使用的主流读出电路输入级结构进行研究,如CTIA、BDI,通过建立其电路等效模型并进行详细分析,以注入效率为切入点进行公式的研究与推导,将量子点探测器测试所得IV、CV分别结合不同输入级电路结构进行计算及对比,选择出一个更适合量子点探测器的读出电路输入级结构,最终选择CTIA型电路作为量子点短波红外探测器读出电路的输入级接口,其注入效率大于99%。 相似文献
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本文通过剖析DOS的拷贝功能,描述了一种通过修改DOS的FAT,使DOS不能正常读出磁盘文件的加密方法;然后通过修改BIOS的磁盘服务功能中断调用,将加密文件正确读出的解密方法。 相似文献
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本文对高道密度垂直磁记录单极头的读出过程进行了理论分析,考虚到垂直磁记录方式的记录位长远小于单极型磁头厚度,在不计及漏磁的情况下,用镜像法简化地推导了双层膜窄道宽垂直磁记录单极头读出波形电压表达式,由此可以看出影响垂直磁记录单极头磁记录系统实现高道密度的因素。 相似文献
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刘庭华 《计算机研究与发展》1965,(9)
读电路 (一)概述数字磁记录装置的读出过程就是纪录信息的磁性载体经过读出磁头产生电脉冲信号。由于读出过程是弱磁场作用于读出线圈,故有人,把这一过程作为线性系统处理。利用互易原理(Reciprocity principle)及迭加原理(Superposition principle)研究出了记录磁场的静态分布与读出电压波形 相似文献
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本文介绍了一种类似于光电二极管线阵扫描CCD摄像器的磁场摄像器,其中磁信号是以电流方式被收集并象普通CCD那样读出。磁摄像器采用埋入通道及CCD读出电路,使摄像器像素要以实现最佳化,其灵敏度高达109.7T。 相似文献
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针对CMOS图像传感器中相关多采样(correlated multiple sampling, CMS)技术在抑制噪声的同时使读出速度受影响的问题,设计了低噪声读出电路。读出电路采用列共用多采样技术,能够在不影响读出速度的情况下,抑制时域噪声和列固定模式噪声(Fixed Pattern Noise, FPN),改善CMOS图像传感器的成像质量。列共用多采样技术采用开关控制读出电路和像素的连接关系,以多列共用的读出电路对像素依次进行时序错开时间缩短的多次采样,完成所有像素量化的总时间保持不变。基于列共用多采样技术读出电路的降噪效果在110nm的CMOS工艺下进行了仿真和验证。随着采样数M从1到4变化,读出时间没有增长,瞬态噪声仿真得到整个读出链路的输入参考噪声从123.8μV降低到60.6μV;加入列FPN进行仿真,输入参考失调电压由138μV降低到69μV。 相似文献
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本文对单极头垂直磁记录系统的读出过程进行了计算机仿真。分析了头盘结构参数对垂直磁记录的读出过程的影响。 相似文献
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本文从理论上对高道密度垂直磁记录环形头读出电压进行了计算,并对道间串扰进行了分析。 相似文献
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按照铁电储存器的破坏性读出和非破坏性读出的这两种基本工作模式及其所对应的铁电随机存取存储器FRAM和铁电场效应晶体管肿FFBT两种结构形式的分类,分别介绍了1T/1C,2T/2C结构和铁电场效应晶体管金属-铁电-半导体(MFS)结构的基本铁电存储单元的结构及其工作模式。 相似文献
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低温红外面阵读出电路中的高性能缓冲器设计 总被引:1,自引:0,他引:1
使用chrt 0.35μm 3.3V CMOS工艺设计了用于制冷型红外面阵读出电路的高性能输出缓冲器,该缓冲器能在红外读出电路5M/s的读出速度下驱动约25pF的负载电容,在输出幅度为2V的条件下,建立时间为40ns,平均功耗为3.94mA。给出了修改chrt 0.35μm后的模型参数的仿真结果与最后的测试结果,基本满足红外读出电路的设计要求。 相似文献
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采用单管和一个存储电容组成的MOS动态存储器的单元面积可以在2平方密耳以下。有用的读出信号非常小,通常采用平衡读出。在确定总面积、价格、性能和测试难度的时候,这种读出放大器和芯片上除存储矩阵之外的电路就变得越来越重要了。本文讨论了一个实际的4K随机存储器(RAM)设计中所用的一些关键的外围电路,该设计着重考虑了这些因素。在组成所用的读出放大器时,设计了“边缘校验”的可能性,它可以用来测试单元的存储电平和读出放大器的偏移,以此来保证存储器中适当的信号余量。 相似文献
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本文对环形头垂直磁记录系统的读出过程进行了计算机仿真。分析了头盘结构参数对垂直磁记录的读出过程的影响,同时也绘出了该系统的频谱曲线。 相似文献