数字集成电路测试探讨

结合具体例子,介绍数字集成电路的测试方法。     

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

集成电路老化测试插座的结构形式

集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。     

基于PSL语言的数字集成电路功能覆盖率测试

设计复杂度的增加、IP重用等当前复杂SoC／ASIC设计的特性要求对设计的功能进行更加充分的验证。基于PSL的功能覆盖率分析与传统的代码覆盖率分析共同构成了一个完整的衡量电路验证质量的尺度，这一全新设计方法学的使用将有效提高验证的质量和效率。     

数字集成电路测试系统结构分析

本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。     

数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析

本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。     

数字集成电路FPGA验证的若干研究

大规模集成电路的应用,促进了我国经济的快速发展,同时也带动了集成电路验证水平的提升。相对而言,数字集成电路是目前的主流,但在投入使用之前,必须采取一定的验证措施,以此来完成数字集成电路安全、可靠。目前,FPGA是比较常用的验证手段,其可以根据数字集成电路的具体要求,完成相关工作的进步。值得注意的是,未来的数字集成电路FPGA验证,还会涉及到更多的内容,应在验证手段上进行增加,并且在多方面实现验证水平的进步。     

超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术

介绍了超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术（ＣＡＴ）,利用ＩＥＥＥ－４８８接口与多功能专用扩展板,采用ＥＳＢＡＳＩＣ测试语言编程,实现超高速数字集成电路物自动测试,提高了测试工作效率和测试精度。     

基于电力绝缘材料老化现场测试技术分析

电力绝缘材料属于高分子电介质,具有良好的绝缘性能,被广泛应用于电力工程领域.但由于电力工程独特的工作环境,其在使用过程中因为温度、湿度以及紫外线等诸多因素的影响,极易出现电力绝缘材料老化情况,进而严重影响电力绝缘材料的绝缘性能.若是不能够有效发现和解决绝缘材料老化情况,可能会引发一系类电力工程安全问题.传统的电力绝缘材...     

CMOS数字集成电路输入电流的测试

CMOS数字电路的输入电流是反映该器件工艺水平的主要参数之一，通过叙述并分析了影响其测试准确性的原因，应用ATS60e数字集成电路测试系统，可满足对其输入电流的测试要求。     

数字集成电路测试中测试矢量的生成

引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。     

数字集成电路测试原理解析

器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓，知道今天的集成电路测试需要做什么？我们能做什么？还会有什么样的难题？发展的方向是什么？     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型调试系统，测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集城电路测试技术全书，具有全面性，系统性和实用性的特点。     

一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法

在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险.     

ITECH负载对电源进行老化测试方案

该文详细介绍了ITECH电子负载和老化软件对于电源产品在长时间通电老化试验中的应用,主要结合本系统中的硬件产品和主要的实现监控界面,实现多个电源产品的老化的同时性和自动化性,可以最大程度地发挥电子负载在老化系统中的作用,可以得到准确的监控数据,可最大程度地节约人力成本。该系统已经应用到实际的老化试验中,并在电源等产品的老化中推广和应用。