检测不可能呈？可用模拟边界扫描来解决

随着分立元件的体积越来越小,你不能再考虑用探针来检测,而应考虑用模拟边界扫描。     

边界扫描测试针对接地反弹的改进

本文叙述了边界扫描的建立、解决办法及其测试问题。     

实现边界扫描测试

边界扫描测试已提出多年并引起重视,但至今仍未被广泛采用,为何？主要是由于真正实现边界扫描测试时会遇到许多实际困难。     

边界扫描测试向量生成的抗混迭算法

文中在分析改良计数算法和移位“１”算法的基础上,提出了一种新型的边界扫找测试向量生成算法－等权值算法。该算法实现了测试向量集的紧凑性与故障分辨力之间合理的折衷,是一种性能优良的测试向量生成算法,它具备抗征兆混迭的故障诊断能力,测试时间的数量级为Ｏ（Ｎｌｏｇ（Ｎ）。     

PXI模块仪器进入边界扫描测量

针对集成电路单元器体数超过百万,功能越来越复杂的数字电路的测量,1980年后期计算机业界成立联合测试工作组(JTAG)研讨一种数字集成电路边界扫描技术,简化传统测试所需的大量激励和输出引脚,只规定4个边界扫描引脚:测试数据输入(TDI);测试时钟(TCK);测试模式选择(TMS);测试数据输出(TDO).四个边界扫描的寄存器和被测集成电路的重要边界扫描节点,预先布置在集成电路芯片内部,四个边界扫描引脚组成的测试进入端口(TAP)在集成电路则占有固定的位置.这种边界扫描技术在1990年获得认证成为IEEE1149.1标准,边界扫描和可测试性设计相结合的集成电路测试已普遍获得业界的认可.但是,集成电路的测试系统一直属于自动测试设备(ATE)供应商市场,即使测试测量仪器供应商亦难进入.     

星型边界扫描拓扑的测试方法研究

针对在串行边界扫描拓扑中不能对测试存取端口控制器直接寻址而导致测试速率降低的问题,IEEE 1149.7标准提出了可直接寻址的星型拓扑测试方法.以该标准为依据,利用QuartusⅡ软件设计了在测试系统中具有关键作用的边界扫描测试控制器,介绍了星型拓扑结构的测试原理与测试流程、控制器的结构与作用.仿真结果表明控制器能够产...     

标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨

本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总线”第一部分“标准测试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。阐述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法,综述了美国相应标准ＩＥＥＥ Ｓｔｄ １１４９．１公布前后提出和试行在印制板级和实验级实现的若干方法和方案,包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实践中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发     

边界扫描技术的优化设计

边界扫描技术是工业领域可测性设计的主流技术。对其进行优化设计,可以缩短测试施加时间,提高故障诊断率。本文从其本身的优化设计以及与其他DFT技术相结合的综合优化设计两个角度详细论述了基于边界扫描的优化设计问题,对该领域的进一步深入研究具有重要的理论价值和实践价值。     

面向电路板级的边界扫描技术的应用

本文介绍了传统电路板级测试的局限性,分析了边界扫描在电路级的应用策略和带来的好处以及板级电路测试未来的发展趋势.     

用于电路板生产检验的边界扫描

本文讨论了板级生产测试的开发，该电路板采用表面安装技术，并实现了边界扫描。板上混装了几种类型的器件。文章介绍了一种有效开发边界扫描测试的方法及其优点，也介绍了采用该方法的准则，使用边界扫描测试的开发时间仅需２周。对大型球状栅格阵列器的焊接开路故障，采用边界扫描后检测率从８０％提高到９９％。     

边界扫描测试中TAP控制器设计

文中介绍了边界扫描测试硬件的构成，重点讨论其核心部分TAP控制器的功能、原理及设计，并给出模拟仿真的结果。     

边界扫描的互连测试故障诊断技术研究

影响边界扫描测试效基于遗传算法,建立了板级边界扫描系统的遗传模型,生成了高效、优化的PCB测试矢量集.在此矢量集的基础上,分析了互连测试中主要的故障模型,进行了基于BP神经网络的故障建模与诊断.并实际验证了该算法的正确性.     

基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析

为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(DFT)已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成部分。IEEE1149.1作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段。现在大部分的复杂芯片都支持IEEE1149.1标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理入手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。     

边界扫描技术的应用扩展

本文讨论了边界扫描技术在样机电路板调试中的应用以及扩展到产品板制造，系统集成和现场服务等方面应用的技术问题。     

基于SOPC的边界扫描测试控制器开发

本文阐述了一种新颖的基于SOPC边界扫描控制器的设计,提出了一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描测试子系统嵌入在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的Cyclone Ⅱ系列的现场可编程阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时开发的具有自主知识产权的JTAG控制IP核模块为SOPC系统提供了一个颇有实用价值的组件,无需专用边界扫描测试设备即可实现系统的边界扫描测试功能.详细论述了基于SOPC的边界扫描控制器设计及JTAG总线控制IP核模块的开发.仿真及实验结果表明,此设计正确合理,能够进行有效的边界扫描测试.     

边界扫描技术的板级实现方法研究

本文在介绍边界扫描技术基本原理的基础上,讨论了电路板测试性设计的两种方法:器件置换法和边界扫描单元置入法,重点分析了相对复杂的边界扫描单元置入法,并讨论了对于边界扫描总线的两种控制方式.实际应用中,大多数器件没有边界扫描接口,因此本文所介绍的边界扫描技术实现方法对进行数字系统的可测性设计具有一定的参考价值.