高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。     

高加速应力筛选(HASS)概述

高加速应力筛选（HASS）是一种新兴的试验技术，用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷，提高可靠性，降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发，介绍了HASS的目的及作用，重点探讨了高加速的基本原理，典型的HASS过程。     

HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用

本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值。由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段。高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广。其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用。HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

HALT在引信寿命评估方面的应用

通过对引信寿命评估试验和高加速寿命试验（HALT）的特点进行分析,针对目前引信寿命试验的不足之处,提出了利用HALT中的有效信息来改进引信寿命评估的方法,例如：通过选择积极的加速因子和估算试验所需的时间来改进加速寿命试验,使之能够快速、精确地评估产品的寿命;在引信的研制过程中,当样本量较小时,可以利用改进的加速寿命试验来进行引信寿命的评估,使之能够快速地评估引信的中位寿命。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。     

高加速应力试验及极限应力试验综述

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

白光LED寿命计算,测试及其失效模式

如今白光LED的使用范围越来越广泛,其使用可靠性也受到广泛的关注.为此,在文中针对白光LED,对其寿命的理论计算方法进行了介绍,并就如何对其寿命进行检测展开了探讨,在最后则是对白光LED的失效模式进行了探讨,以期可以更好的认识白光LED.     

高加速性寿命测试及预应力筛选系统

在现今科技创新迅速的时代,如何能使科技产品于短时间抢占市场,并为市场所肯定,所需要的除了迎合市场需求的功能外,更重要的是有高信赖度的品质;同时市场的迅速变化也严重压缩了研发时间,如何短时间内利用有效的设计验证方法,使设计与制造上所隐含的缺点能够在交达客户手中之前,将其发展并改善,已是各产品的成败关键,也是HALT&HASS被接受的原因。     

Reliability improvement of InGaN LED backlight module by accelerated life test (ALT) and screen policy of potential leakage LED

In this paper, to improve the reliability of InGaN white LED Backlight module, we have analyzed the module level accelerated life test (ALT) for LED which is used for the front display in the refrigerator. In addition, we have suggested a screen method that enables to screen out LEDs which have potential leakage problems. The stress factors and levels were decided based on the end user environment in the field. The acceleration factor (AF) was logically calculated according to the stress factor. After 12 h of ALT, we have found one brightness degradation in 6480 LEDs (98 modules). It was found from the failure analysis that the leakage was from the P-pad electrode failure and caused the brightness degradation. We have suggested a method that enables to screen the potential field failure LEDs in mass production which the failure can be occurred by external noise factor. We have added “turn on current level screen” on “operating current level screen”. As a result, we could make possible to screen leakage LEDs effectively which may fail in the end user side. This method was applied by 20 LED makers.     

GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理

从可靠性物理角角度，深入分析了引起砷化镓微波单片机集成电路（GaAs MMIC)退化或失效的主要失效模式及其失效机理，明确了GaAs MMIC的可靠性问题主要表现为有源器件、无源器件和环境因素等引入损伤退化，主要的失效部位是MMIC的有源器件。     

计算机X射线影像（CR）图像质量原理和测试方法

针对计算机X射线影像（CR）扫描仪研发过程中对图像质量评价的需要,对CR图像质量原理进行了研究和归纳,并总结了一套测试方法。测试方法涵盖了CR图像质量中最常用的几个指标：空间分辨率、对比度分辨率、空间精度、图像噪声、CNR、量子探测效率（DQE）、MTF、伪影和擦除率等。根据这套测试方法对某CR原型机进行了验证,满足了设计和制作过程中对图像质量评价的需要。     

破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高

简要介绍了破坏性物理分析（DPA）技术的概况和发展，重点介绍了信息产业部电子第五研究所DPA实验室应用DPA技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子。     

安全运维中心原理及实现

1引言在98年以前,谈到信息安全时可能首先想到的是信道安全,邮件加密等内容;98年以后,以当时的国家信息安全专项为契机,经过了几年的发展,目前出现种类颇多的信息安全产品,如防火墙、漏洞扫描、入侵检测、IPSecVPN/SSLVPN、邮件过滤系统、病毒蠕虫防护系统、内容安全网关、单点登录系统、证书管理系统等等,并且形成了许多典型解决方案。我们对信息安全的认识也在逐步深入,在此过程中我们历经了多种理念的洗礼,如信息保障技术框架(IATF)、信息安全管理体系(ISMS)、信息系统安全工程(ISSE)、风险分析(RA)以及新近出现的等级保护、可信计算等等。当一个系统没有安全设备时,我们认为它一定不安全;但部署了上述种类繁多、配置管理复杂的安全设备后,系统的安全性又如何,系统中的安全设备运转状态以及其发挥的效用、对系统中的网络安全事件是否就心中有数了?作者认为,在未来的信息安全领域,除了我们对已有的安全设备和安全系统进一步从性能、功能、易用性方面进行提升外,一个很重要的任务就是在安全系统的运行管理方面提供可信的安全管理,实现系统的安全可靠运行。