穿透式X射线测厚仪及其在冶金工业中的应用

文章主要叙述X射线测厚原理、影响因素、技术进展、应用和选型以及经验教训等问题。     

X射线测厚仪的维护

介绍X射线测厚仪的测量原理、设备构成,着重从生产现场的角度出发,介绍X射线测厚仪的维护要点,并介绍了现场更换X射线管的注意事项。     

X射线测厚仪在中宽带轧机上的应用

随着国内钢铁工业板带产量的迅猛增加 ,用户对产品质量要求不断提高 ,测厚仪、测宽仪等一系列在线检测仪表在各个板带轧机上得到逐步应用和重视。我公司中宽热轧带钢厂为提高产品质量 ,于 2 0 0 0年购置安装了瑞美 (Ｒａ ｄｉｏｍｅｔｒｉｅ)公司产品ＲＭ -2 15型测厚仪 ,该仪表采用Ｘ射线和光电倍增管检测 ,采用ＶＭＥ总线作为测量控制 ,现主要介绍一下ＲＭ -2 15型测厚仪在我厂的应用情况。1　系统特性(1)先进的Ｘ光源控制系统Ｘ光源驱动采用先进的无级连续调压 ,保证了检测的精度 ,并以较低的Ｘ光管的灯丝驱动电流延长了Ｘ光管的使用寿命…     

X荧光测厚仪研究

本文介绍X射线荧光测厚仪工作原理及校准时的不确定度分析。     

X射线测厚仪在莱钢1500可逆式轧机中的应用

对RM215X射线测厚仪的结构和原理进行了深入的分析,详细分析了测厚仪在可逆式冷轧机中的应用,对AGC如何使用所测厚度进行了详细说明。     

β射线测厚仪在铝材轧制中的应用

本文对β射线测厚仪在线测量时，轧制油对测量准确度的影响作了分析，并在现场制作了一套吹风装置加以改进，提高了测厚仪的测量准确度。     

X射线测量板材厚度系统研究

 传统测厚系统中采用工控机或PLC,数据处理慢,人机交互性差.针对这些缺点,对AT mega 16单片机在板材测厚仪上的应用进行研究,并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以AT mega 16单片机为电控核心的系统的优缺点.详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理,同时对基于Delphi的测厚数据的处理方法进行了说明.实践表明,该系统控制结构简单,有较高的运行效率和可靠性.     

高精度测厚仪在包装材料中的应用

目前市场中包装材料种类很多,有金属的、非金属的,带光泽的、亚光的,单层的、复合的、共挤的等等.有些材料的成本较高(如:铝箔、EVOH等),在满足要求的情况下,高成本材料的厚度越小越能节约生产成本,厚度过大不但会造成原料的浪费,还会降低生产效益.很显然,材料的厚度控制只能靠测厚仪来检测.     

X射线DR技术在铝合金铸件检测中的应用

本文简要介绍了DirectDigit Radiography (DR)X射线直接数字化成像检测技术及DR检测的基本原理,并从工艺应用角度对数字成像的表征参数如空间分辨力、像素、密度分辨力、密度分辨力与空间分辨力的关系、信噪比(SNR)、量子探测效率(DQE)等进行了工艺性解释说明;同时,该文还结合一套真实在用的典型面板探测器DR成像检测系统的工艺实践,总结出铝合金铸件的X射线DR检测特征和铝合金铸件常见缺陷的DR图像特征,给出了铝合金铸件典型缺陷DR图像,对同类检测项目具有重要的参考意义.     

Co—Cr合金膜的X射线线形分析

利用近池数法对Ｃｏ－Ｃｒ合金薄膜的衍射线性形进行分析，并提出用“三线法”确定衍射线的函数类型及其积分宽度，由此可计算薄膜的晶粒尺寸和微观应变。理论计算和实验表明，“三线 法”结合近似函数在线形分析方面是简便，可靠的。通过分析Ｃｏ－Ｃｒ膜在不同工艺条件下（膜厚、Ａｒ工作气体压强和负偏压）的衍射线线形，发现衍射线的物理展宽（即有效晶粒尺寸的减小）是粒取向度的下降是相应的，晶粒取向度的下降与结构缺陷密度     

软X射线质量吸收系数的测定

制备了厚度为２５－２２５ｎｍ的Ｃ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｃｕ、Ｎｂ、Ｍｏ、Ａｇ、Ｔａ和Ｗ９种元素薄膜样品,用化学分析方法测定了薄膜的质量厚度ｐｚ,并用电子探针测定了软Ｘ射线ＣＫα、ＢＫα的出射强度Ｉ０和穿过薄膜对ＣＫα、ＢＫα辐射的质量吸收数μ,并与以往的数值进行比较。     

多功能X射线衍射仪的由来与发展(上)

简要叙述了自X射线衍射发现以来近百年中X射线衍射仪的发展情况,大致可以划分为四个阶段:①早期的照相机阶段,特点是以照相底片做探测记录器,底片可同时记录许多衍射线,测角器构造简单;②中期的衍射仪阶段,特点是用计数器做探测器,大大提高了衍射强度的测量准确性,但要逐个记录衍射线,测角器构造复杂,电子技术的应用提高了此阶段仪器的自动化程度;③近代的电子计算机衍射仪阶段,特点是现代计算机与X射线衍射仪的结合,提高了衍射仪的自动化程度和检验能力,并增加了数据分析能力,大大促进了X射线衍射术的发展;④现代的多功能衍射仪阶段,现代科学技术的高速发展对X射线检验提出了新的要求,发展出一些新的X射线技术,如小角散射、薄膜衍射、反射率测定和微区分析等,把多种不同功能集为一体的多功能X射线衍射仪就此诞生。     

X光测厚仪原理与系统应用

工业用测厚仪有接触式和非接触式两种,通常在线测量使用非接触式测厚仪。X光测厚仪应用X射线穿过被测材料的衰减来检测厚度。这种测厚仪在热轧机工作现场得到广泛应用。本文通过对热轧机所使用的X光测厚仪的分析,介绍了测厚仪的工作原理,描述测厚仪的射线发射和接受装置,对于影响测厚精度的各种因素进行分析和消除,对测厚仪硬件系统的组成、操作系统的结构和功能进行了说明。     

闪光X射线技术在兵器测试中的应用

本文介绍了闪光X射线技术在兵器测试中的应用。介绍了瑞典Scandiflash AB公司产品的性能、特点以及应用闪光X射线技术中应注意的几个问题。     

JJF1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》解读

一、制定背景2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。     

微光束X—射线荧光测量线材上的镀层厚度

为了保证电子元件的质量，金属线上可焊性镀层的厚度是一个必须控制的参数，可焊性镀层的厚度必须保持在非常牢固的极限范围内，开发的X－射线荧光设备具有非常小的采样面积，可以测定直径小于50μm的金属线，该设备测定结果比常规方法至少精确50nm。     

纳米薄膜厚度的X射线测量

研究了通过小角度X射线衍射(XRD)技术测量纳米薄膜沉积厚度与沉积速率的方法,并测定了在SiC表面沉积Fe纳米薄膜的厚度和沉积速率。结果表明,采用小角度XRD技术测量纳米薄膜厚度和沉积速率,能克服基片性质、表面平整度和金属膜氧化的影响,准确、方便地测量纳米薄膜的厚度和沉积速率。     

X射线镂空硅掩模在同步辐射X射线深层光刻中的应用

阐述了Ｘ射线镂空硅掩模的研制及其在同步辐射深层光刻中的应用。在北京同步辐射国家实验室Ｘ射线光刻装置上，采用本文研制的Ｘ射线镂空硅掩模获得胶厚为３０－４０μｍ、侧壁很陡、边缘很直的Ｘ射线深层光刻胶图形。