VXI ATE设计的系统概观

随着VXI的出现,仪器部件就可望进行互换.但是,由于ATE(自动测试设备)领域没有一个统一的软件体系结构,因而特定的系统设计越来越多.结果,迫使ATE用户为解决系统集成和软件问题而费尽心血,有时其费用超过最初的硬件投资.这种行业的变化引起对具有闭路体系结构测试系统的性质和功能的开放软件部件的需求.我们参与了几个用户确定的ATE软件项目,从中使我们得出一个结论:大部分测试系统的要求是类似的,只有一点点变化.建立一个包含定义明确的接口的模块化部件的体系结构,我们就能够制作运行时模块和故障隔离模块来满足不同的用户要求.     

Broadcom推出新一代40nm高清卫星机顶盒单芯片系统解决方案

随着世界各地部署高清电视（HDTV）目的势头日益强劲,者Broadcom（博通）司宣布,推出新一代40nm高清（HD）卫星机顶盒（STB）单芯片系统（SoC）解决方案。     

综合ATE的设计与应用

本文简单描述了综合自动测试的设计思路，以及在实际工作中的应用。并在实际的导航设备的应用基础上，给出了系统的设计方案，讨论了系统的结构和功能实施，解决一些关键的技术问题，介绍了系统实施的有翔,导航设备在自动测试应用中提供了有益的帮助。     

新的开关技术降低了ATE的体积和价格

各种不同的自动测试设备(ATE)可帮助电子产品制造商提高产品质量和产量。虽然这些测试站在不同的场合应用,但它们都具有一个共同的部件——开关系统,在测试仪器和被测对象间,开关系统指挥着输入/输出的信息交换。为制造测试,甚至还包括为服务和修理分配给ATE的预算,在把最终产品投放市场的经常费用中占有相当的比例,因而减少这一费用意义重大。要实现预算目标,就需要减少对ATE的采购费用或增加设备的吞吐率,也就是增加每天测试的产品单元数量。随着技术的进步和竞争压力的增加,对降低工厂经常费用的要求也在增加。由于模块化的VXI总     

安捷伦测试新技术整合中国半导体行业供应链

安捷伦科技在上海举办的SEMICON China 2004上演示其为单芯片系统(SOC)、闪存和参数测试提供的新型测试解决方案。利用安捷伦的测试平台可以成功地实现整合程度更高的半导体行业供应链，设计部门的数据现在可以整合到制造商，保证把生产和测试紧密联系在一起。来自大唐、海尔、六合万通、威字科技和中     

一种便携式雷达终端测试设备的设计

介绍了一种便携式雷达终端测试设备的设计。采用 PC104 计算机控制技术、数字信号处理技术(DSP)、多路串行通信技术等实现硬件的设计;采用 Photoshop 等图形处理软件、VC++ 编程技术等实现测试系统软件的设计。该设计已得到工程实现。     

ATE应对90nm及以下节点良率问题

正如2007版国际半导体技术蓝图（ITRS）所提到的,自动测试设备（ATE）所面临的最紧迫的技术挑战便是“促进良率提高的测试”,特别是对于90、65、45nm和未来工艺节点上的晶圆工艺和器件良率学习。     

印制电路板自动测试技术与发展

本文介绍了印制电路板的自动测试技术,包括在线测试、边界扫描测试、非向量测试、红外热图象测试等技术。阐述了每种测试技术的特点,并探讨了印制电路板ATE的发展方向。     

SOC芯片设计与测试

SOC已经成为集成电路设计的主流.SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM.本文以-SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑.     

博通推出第四代蓝牙头戴式耳机单芯片系统解决方案

全球有线和无线通信半导体市场的领导者Broadcom（博通）公司近日宣布,推出第四代先进的蓝牙头戴式耳机单芯片系统（SoC）解决方案,该解决方案为富有吸引力的下一代头戴式耳机设计提供了一个最节省功率的平台,同时提供优质音频质量。     

Broadcom 1G EPON单芯片系统剑指快速增长的EPON市场

Broadcom（博通）公司宣布,推出最新的单芯片系统（SoC）系列,以满足加速增长的以太网无源光网络（EPON）市场的需求,EPON是中国增长最快的宽带技术。该单芯片解决方案使设备能更快上市．并提高每用户平均收入（ARPU）,同时提供更大的带宽,以满足向多住户单元（MDU）提供融合的三网合一业务（话音／视频／数据）时产生的高速连接需求。     

Broadcom推出业界首款支持中国AVS标准的高清晰度单芯片系统

日前，全球有线和无线通信半导体市场的领导者Broadcom（博通）公司宣布其为业内首个展示单芯片高清晰度AVS标准在数字机顶盒上的应用公司。 BCM7405是一种具有DVR功能的高性能、高清晰度的有线、卫星、IPTV和地面机顶盒单芯片系统解决方案，它结合了一个快速1000 DMIPS的MIPS32／MIPS16e级CPU，高速图形处理，一个很灵活的数据传输处理器，     

晶圆测试中BIN分设置的一种应用

本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试设备记录的详细数据才能得到分布规律的情况,省去了集成电路工程晶圆需要进行二次测试才能进行分类的步骤,对缩短集成电路工程品的测试周期、加强量产产品的工艺监控、提升晶圆测试的品质具有重要意义。     

用在线自动测试设备ATE进行射频电路测试

找出射频线路板的故障是很困难事情。特别是在大批量生产的环境中更是如此。然而在Lucent Technologies公司(前身为AT＆T公司的网线系统Wetwork Systems部),我们已开发出了一种被称之为MIND(微波在线诊断者)技术,它首先用在线ATE进行在被测电路上能做到的尽可能多的常规的无源在线测试,然后对被测板施加电源从而找出可能故障并在功能测试前对产品进行筛选。     

数字ATE上内部示波器的实现

内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。     

自动测试在军事电子技术中的应用

简要介绍了自动化测试技术的发展过程,说明了现在以美国为代表的西方军事强国对军事武器装备自动测试设备及系统的研制、开发非常重视。虚拟仪器、测试总线、测试网络以及基于商业产品的COTS技术在军事自动测试领域已经成功应用,特别是虚拟仪器技术对自动测试技术的发展有着强大的推动作用。     

2010年全球半导体资本设备支出增长143%

根据国际研究暨顾问机构Gartner的最终汇整数据,201O年全球半导体设备市场已自前两年的产业衰退期恢复,增长高达143％至接近410亿美元。该市场在所有区块的营收在去年皆大幅增长,其中来自自动测试设备（ATE）、晶圆厂设备（WFE）,以及封装设备（PAE）的营收皆分别劲扬149％、145％,与127％。     

ATMI：为高效半导体制程提供全面的材料解决方案

近年来，随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小以及新工艺的导入，测试的重要性和复杂性越来越突显．其所需成本在最终产品中的比例也越来越高．自动测试设备市场的竞争与日俱增．在众多有力竞争者中，泰瑞达是一家以SoC测试为主要市场的自动测试设备供应商。     

Broadcom推出业界首款能实现4G／L TE微波回程传输单芯片系统

Broadcom（博通）公司宣布,推出面向4G／LTE微波回程传输的最新创新产品BCM85620单芯片系统（SoC）。BCM85620专为满足移动回程传输的较大带宽需求而设计,是业界第一个提供千兆及更大带宽的解决方案．也是业界第一个在单个芯片上整合了基带调制解调器与网络处理器的单芯片系统。