基于ISP技术的线阵CCD光积分时间的主动控制技术

介绍了一种基于ISP技术的线阵CCD的驱动电路及设计方法。并介绍了一种主动控制CCD光积分时间与信号转移的技术。ISP技术的应用极大地简化了CCD的驱动电路。并且，电路可以完全由程序或由外部触发信号主动地控制CCD光积分时间、曝光时间与信号转移的周期，使对CCD光积分时间的控制更加灵活。     

摄像机CCD的疵点补偿

章总结分析7CCD的疵点补偿技术，以SONY BVP-EIOP为例介绍了具体的操作方法，并说明了激光造成CCD疵点的原因。     

用面阵CCD进行二维高精度实时测角的可行性

本文对二维动态测角仪预研的背景、研制目的和意义做了简洁的说明。从动态测角仪的设计要求出发,对面阵CCD与线阵CCD二维实时测角方案进行比较论述,并简要介绍了常用的提高测量精度的方法：微扫描方式与亚像元成像技术。     

CCD信号采集系统的USB接口设计

CCD（ChargeCoupledDevices）电荷耦合器件是20世纪70年代初发展起来的新型半导体集成光电器件。由于CCD器件具有诸多优点：灵敏度高、光谱响应宽、动态范匍大、空间自扫描等，使得近30年来，CCD器件及其应用技术的研究取得了惊人的进展，特别是在图像传感和非接触测量领域的发展更为迅速。目前，CCD应用技术已成为集光学、电子学、精密机械及微计算机为一体的综合性技术，在现代光子学、光电检测技术和现代测最技术中成果累累。     

CCD成像传感器的降噪技术

系统地介绍了CCD成像传感器降噪技术的研究进展.重点介绍和分析了CCD复位噪声降噪技术和非均匀性校正技术的研究进展.特别介绍了用于克服CCD复位噪声的数字域加权双斜积分技术、基于场景的非均匀性校正技术以及多CCD成像系统的非均匀性校正技术.最后展望并讨论了CCD成像传感器降噪技术的发展趋势.     

高精度动态测角仪

本文简要介绍了当前工业上的各种角度测量技术并分析了它们的优缺点,同时详细介绍了CCD的动态测角原理．     

方兴未艾的3CCD数码摄像机

随着数码产品的广泛推广和成本急剧降低，目前数码摄像机（下称DV）已经不再高高在上，平常百姓也能左拥DC右抱DV了。不过目前市面上的DV有单CCD和3CCD两种，选购要比DC复杂一些。针对目前3CCD产品开始热销，笔者对3CCD技术成像原理和市场上的3CCD DV做一个简单的介绍，希望对选购者有所帮助。     

CCD摄像机技术的发展及应用

介绍了CCD技术的发展和未来CCD市场的需求.讨论了CCD传感器需改进的几个问题和CCD摄像机技术性能的优化指标.阐述了CCD应用及其发展趋势.     

基于面阵CCD的圆形工件直径及不规则度测量系统

设计了一种利用CCD影像技术的非接触测量圆形工件直径及不规则度的测量系统。该系统采用面阵CCD拍摄待测工件横截面，利用DSP控制转动平台，带动待测物件以可调速度转动，可以采集各个方向上的精确图像。最后使用自行编制的数字图像处理软件处理所拍摄的图像，提取图像边缘，与模板拟合，根据各项参数计算出待测圆形物件的直径与不规则度。     

国内CMOS图像传感器的研制与开发状况

比较了CMOS图像传感器与CCD的优缺点，介绍了国内CMOS图像传感器技术的研制与开发状况。     

基于CCD的数字图像检索分类技术研究

首先介绍了CCD的概念,然后引用了数字图像的概念以及处理原则。然后将二者相结合,罗列了在CCD的基础上,数字图像检查分类可以应用的相关技术,并对这些技术进行了详细的阐述和说明。介绍了崭新的设计方法,这种设计方法利用了高分辨率超感光度CCD的光纤远程传输,进行采集,制成芯片,提高了传统方法的成像速度,有效地达到资源共享的目的、也在成本上有所降低、成像器件辐射效应模拟试验也变得更加规范标准。当前这种系统和我国所现有的辐照装置相结合,构成了崭新的性能评估平台,这种平台为光电成像器件辐射效应模拟试验与抗辐射试验都提供了重要的帮助。     

激光光栅显微投影法表面微观形貌测量系统的研制

本文研制了基于激光光栅显微投影法的表面微观形貌测量系统。该系统由激光器 ,CCD ,两个显微物镜 ,图象采集卡 ,计算机和数据处理软件组成。两个显微物镜一个用来将光栅进行缩小投影到被测物体的表面上 ,形成被被测物体表面高度所调制的条纹 ;另一只显微物镜则将被调制的条纹图像成像到CCD的靶面上 ,CCD采集的图像输入到计算机中进行相关计算而得出被测表面的微观形貌。本文介绍了该系统的测量范围和分辨率计算方法 ,并对实验数据进行了可靠性分析。结果分析表明 ,该系统能可靠地测量物体的表面微观形貌。     

基于线阵CCD的光电玻璃测厚方法研究

玻璃厚度是衡量玻璃制品质量的一项重要性能指标。为了检测平板透明玻璃的厚度,提出了利用线阵CCD传感器作为光电接收器件的玻璃测厚装置,介绍分析了以CCD传感器作为光电接收器件透射式测厚法、单激光反射式测厚法、双激光反射式测厚法3种光路结构原理、以及性能特征。     

基于CCD的阵列式光电相关鉴相系统的研究

本文介绍了应用CCD接收器实现光电相关鉴相的新方案。这一系统工作时,光强正弦调制的光波入射到由同频方波进行曝光控制的CCD上,两信号相关鉴相的运算在CCD的光照射-曝光控制-积分工作过程中完成,由于CCD输出的直流电平信号幅度与入射正弦光信号的位相差成正比,可以应用3次移相测量的方法,获得输入光信号的相对位相差的值,通过线阵CCD器件的实验验证了方案的可行性,研究中,单像素实验的相对测量误差小于0.2%,阵列实验的像素间测相误差小于1.0%。     

角度测量技术的发展

角度测量是向何量计量技术的重要组成部分。本文对近年来常用的几种角度测量方法及其发展进行了介绍，主要介绍了其中最具有发展前途的光学测角技术。对圆光栅测角法、激光干涉测角法和环形激光测角法分别进行了详细的介绍，给出了每种方法的测量原理和应用场合，并指出了各种方法的优缺点。     

CCD摄像机参数标定实验设计

CCD摄像机标定技术是视觉检测技术中的最基本内容，为有助于学生正确理解和掌握视觉检测技术，本文设计了CCD摄像机参数的标定实验。详细介绍了CCD摄像机透视成像模型、RAC标定方法以及标定点空间坐标和图像坐标的获取方法，结合标定软件讲述了标定的主要步骤。     

高清晰度CCD图像传感器及其发展趋势

介绍了高密度象素和高清晰度CCD图像传感器的用途、进展和技术发展趋势。     

基于CCD工艺的模型参数提取测试图形设计

介绍了一套基于CCD工艺的模型参数提取用测试图形（Testchip）设计方法。该Testchip的设计充分考虑了CCD工艺特征、中测测试条件、CCD放大器特性等各种关键因素,并在对应的工艺线进行流片,得到了完整的测试数据。     

国内首次HSDPA室外路测完成

朗讯科技10月24日在上海再一次力证了其HSDPA的实力。当天下午，在为上海网通构建的3GW—CDMA商用试验网中，朗讯成功完成了高速下行分组接人（HSDPA）室内演示和室外路测。朗讯相关人士介绍，这是朗讯HSDPA技术在国内进行的又一次成功试验，同时也是国内完成的首例HSDPA技术室外路测。     

利用Michelson干涉仪测量CCD的调制传递函数

介绍了利用Michelson干涉仪测量CCD 调制传递函数的方法,与其他方法相比,该方法具有测量装置简单、将正弦图样投射到待测CCD阵列上无需借助光学系统等特点.给出了典型的线阵和面阵CCD的调制传递函数曲线的测量结果.