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用特征矩阵法研究了多腔薄膜梳状滤波器在C波段的偏振特性.结果表明,当入射角较小时,s偏振光和p偏振光有相同或相近的透射特性;当入射角较大时,可以使透射光成为完全的p偏振光,而且在入射角发生很小的变化时,可以使p偏振光通带的中心波长的透射率发生很大的变化;当入射角很大后,s偏振光的透射峰比p偏振光的透射峰的变化快很多.研究表明,多腔薄膜梳状滤波器可以在与偏振和微小的角度变化有关的领域中发挥重要作用. 相似文献
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利用特征矩阵法研究了多腔薄膜梳状滤波器在C波段的透射峰在入射角微小变化中的变化规律,结果表明:在入射角缓慢增大的过程中,各透射峰的位置逐渐向短波方向移动,各透射峰的形状周期性地变化;随着入射角的增大,透射峰个数减少,透射峰变宽,透射峰的位置和形状变化加快,以至于极小的入射角变化就会使透射峰的位置和形状产生很大的变化。 相似文献
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本文介绍莫托罗拉公司开发的新型NTSC/PAL梳状滤波器,它使用数字处理技术将亮色分离产生的爬行和串色问题减到最小。 相似文献
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本文论述了梳状滤波器工作特性不良时百叶窗效应的形成原因,分析了梳状滤波器中延迟信号和直通信号幅度不等,相位差不是180°以及其准副载波相位关系不精确时对形成百叶窗效应所产生的影响,得出了减免百叶窗效应所采取相应措施的结论。 相似文献
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根据子滤波器抽头级联法,采用梳状滤波器作为子滤波器,设计了一种新型FIR数字滤波器.通过C语言编程的方法来选择子滤波器阶数,使原型滤波器的过渡带宽度最宽.采用经过变换的通带和阻带边界频率来进行原型滤波器的设计,使得原型滤波器的阶数比传统实现方法低很多.采用该方法实现的FIR滤波器乘法器个数比传统方法少很多,硬件实现更为简单,大幅减小了硬件开销.该方法已成功用于回声消除和噪声抑制芯片,FIR滤波器的面积约为传统方法的50%,用180 nm 3.3 V/1.8 V 6层金属混合信号CMOS工艺流片,结果表明,对于过渡带较窄的滤波器,该方法非常有效. 相似文献
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利用耦合模理论分析了全光纤Mach-Zehnder干涉结构的梳状滤波器的输出功率谱和滤波特性。用熔融拉锥设备和特定的制作工艺,研制成中心波长间隔为0.8nm的全光纤梳状滤波器.它具有附加损耗小,偏振不灵敏,工艺重复性好等优点. 相似文献
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薄膜应力测量方法研究 总被引:7,自引:0,他引:7
总结了薄膜应力的一些测量方法。将经常使用的方法归纳为激光宏观变形分析法和X射线分析法。介绍了利用测量基片弯曲曲率的激光宏观变形分析法(包括激光干涉法和激光束偏转法)和品格变形的X射线衍射法等测量薄膜应力的理论依据及其测量原理,计算了各种测量方法的测量精度,X射线分析法的精度最高,其次是激光干涉法,而激光束偏转法的精度最低,分析了激光分析法和X射线分析法的优缺点。 相似文献
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以NH3和SiH4为反应源气体,在低温下采用射频等离子体增强化学气相沉积(RF-PECVD)法在多晶硅(p-Si)衬底上沉积了SiNx薄膜.系统地分析讨论了沉积温度、射频功率、反应源气体流量比对SiNx薄膜界面特性的影响.分析表明,沉积温度和射频功率主要是通过影响SiNx薄膜中的si/N比和H含量影响薄膜的界面特性,而NH3/SiH4流量比则主要通过影响薄膜中的H含量影响薄膜界面特性.实验制备的SiNx薄膜层中的固定电荷密度、可动离子密度、SiNx与p-si之间的界面态密度分别达到了1.7×1012/cm2、1.4×1012/cm2、3.5×1012/(eV·cm2),其界面特性达到了制备高质量p-si TFT栅绝缘层的性能要求. 相似文献
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复合绝缘层交流薄膜电致发光显示屏的综合设计 总被引:3,自引:0,他引:3
从交流薄膜电致发光显示屏的稳定性与可靠性角度出发,兼顾其发光亮以及驱动电路对屏的要求,对ACTFEL矩阵显示屏的结构进行了综合优化设计。从理论上分析了复合绝缘层SiO2/Ta2O5击穿方式的转变条件并计算了其合理的厚度比例,ZnS:Mn发光层的厚度和衬底ITO方块电阻的取值范围。 相似文献
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利用直流磁控溅射,在镍锌铁氧体基片上制作的TaN薄膜电阻器,受到铁氧体表面及内部结构特性差且导热系数低的影响,功率密度只能达到0.91 W/mm~2。利用射频磁控溅射,在铁氧体基片与薄膜电阻器间镀上1.5μm厚的AlN薄膜缓冲层,可有效改善基片的表面特性及散热能力。带AlN薄膜缓冲层的TaN薄膜电阻器的功率密度可达3.76 W/mm~2。 相似文献