无损测定铀材料上铝镀层厚度的研究

为探讨初级X射线与铝镀层和铀工体物质、铀的特征线与铝镀层之间的相互作用以及铀基体的放射性对测量铝厚度的影响程度,提出强度与镀层厚度关系的数学模型,以及在同一数学模型中,根据铝镀层厚度的实际情况分别选用铀的M和L线测定薄样和厚样。建立了无损测定铀材料上铝镀层厚度（8．2－55．5μm）的测试方法。对8．2－18μm的薄试样,方法的精密度优于3％;对18－－55．5μm的厚试样,方法的精度密度优于5％。     

基于微机的磁盘磁层测厚仪

磁盘存贮器是电子计算机的主要外部设备,高密度大容量磁盘存贮器的研制和生产是发展计算机事业的重要组成部分。磁盘磁介质层的厚度,直接影响磁盘的信息记录密度和输出信号的幅度,是检验磁盘的一个重要参数。随着记录密度的不断提高,要求磁盘的磁层越来越薄。一般,涂敷于基底上的Fe_2O_3仅有零点几到2μm左右,采用传统的测厚技术难于测量。我们利用X荧光法并配用微机研制成磁盘磁层测厚仪,解决了这一测量问题。     

β射线吸收法测厚

dE/dX探测器的厚度及其分布必须精确测量,因为它是重要参数,厚度范围一般在10—300μm。金属片铜、铝以及纸张、胶片等同样要测量它们的厚度。利用辐射吸收测定物质的厚度,可使产品不接触测定仪器,就给出控制厚度和用于记录的信号。其测量精度高、反应快、范围宽。     

基于碲锌镉探测器的高精度毫米级厚度测量技术研究

目前厚度测量精度不高或者测量方式复杂，为设计一套操作简单、高效、无损、适用范围广的高精度厚度测量装置，本研究利用²⁴¹Am放射源和碲锌镉(CZT)探测器，开发一套高精度厚度测量系统，同时提出采用测量条件补偿法实现样品无损、高精度在线测量。利用Geant4程序对厚度测量系统进行模拟设计，确定准直孔尺寸、源与探测器相对位置和屏蔽层厚度等关键参数。利用搭建的厚度测量系统测量纸张、圆台型样品、陶瓷和高速钢等样品。结果表明，该系统对厚度精度在百微米量级时，可以实现高效、实时在线厚度测量；当对测量精度要求提高时，通过延长测量时间、采用测量条件补偿法等，可实现高精度测量。对于1 mm厚的物质，测量精度可达1μm;该系统长时间工作稳定，24 h内相对标准偏差约为0.057%。     

XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪

利用X射线荧光和微机技术研制成涂层测厚仪。本文叙述了仪器的构造原理。它能够快速、非破坏和精确测量金属或非金属零件上的多种涂层厚度。如对磁盘磁层的测量范围M=50—500μg/cm~2,测量精确度好于±4％(M≥100μg/cm~2)。     

精密钛涂层测厚仪

本文介绍一种用微机控制的精密钛涂(镀)层厚度测定仪,测量范围为0.1—10μm,最小测量面直径为3mm,精度优于±5％。     

金镀层测厚仪

本文简要介绍了仪器的测量原理和结构。仪器的测量厚度范围不大于10μm,测量精密度小于±0.5μm。     

三坐标尺寸测量技术在热室内的应用研究

采用经过系统改进的三坐标尺寸测量设备对燃料元件或组件的尺寸进行了热室内测量研究,在精确定位和分段测量的基础上实现了各项自动测量。测量内容包括板型元件厚度、管型元件直径及椭圆度、组件形位尺寸及起泡高度等。结果表明:三坐标尺寸测量技术能够应用于热室内的各项尺寸测量,并且具有高达2μm的测量精度。     

JCH-3a智能精密测厚仪研制

随着材料科学和工业发展,表面涂层镀层工艺越来越广泛地得到应用。为此研究了精密,快速、无损检测技术和研制了数字化、智能化JCH-3a涂镀层智能测厚仪。该仪器采用了高精度一次探头仪表,大规模集成电路和微机技术,它具有数字显示测量点地址和厚度,数字预置上下限分类报警阈值和取样率,自动记忆存储数据,可查询修正数据和打印输出等功能。全机轻便、尺寸小、测量范围广,可用于钢铁部件上Zn,Cr,Sn,Ag,油漆、搪瓷、塑料等涂镀层及非磁性材料镀镍层精密厚度测量,测量范围为0～300μm,相对误差3～4%,0～10μm,测量精度可达±0.2μm.该仪器可用于反应堆板型燃料元件总厚和水道间隙精密测量等。     

用分光光度计测量核靶厚度和均匀性

文章叙述了吸光光度法测量核靶厚度和均匀性的一般原理,并给出碳膜和金属膜的具体测量方法,本方法的厚度测量范围为5—200μg/cm~2,测量精度为10%。