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SiGe与SOI:模拟/混合信号电路的先导技术亦然摘编在当今众多模拟/混合信号工艺技术中,又出现两种新兴技术。这就是正在崭露头角的硅-锗异质结双极晶体管(SiGeHBT)工艺和已经在大多数先进的互补双极(CB)工艺中大显身手的绝缘体上硅(SOI)技术... 相似文献
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使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,同时指出其局限性。 相似文献
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模拟集成电路的测试与故障检测技术 总被引:2,自引:0,他引:2
本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题,首先介绍面向性能的测试方法,然后讨论故障模型和面向故障的测试方法,在介绍了模拟集成电路的可测性设计技术之后,讨论了利用电源监测进行故障检测的方法。 相似文献
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模拟电路故障的存在,会严重影响电子设备的正常工作,模拟电路故障的发生,具有一定的特征和规律。对于电子电路故障的分析、诊断和测试,就是分析故障特点,准确查找故障。 相似文献
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基于随机共振电路模拟的微弱周期信号检测 总被引:3,自引:0,他引:3
采用电路模拟非线性Duffing振子,利用其随机共振机制来检测微弱周期信号。针对随机共振只适用于极低频输入信号的限制,引入一种适当的变量变换可以将高频信号转化成符合随机共振理论要求的低频信号进行处理,增强了该方法在工程应用中的可行性。采用电路模拟方法检测微弱周期信号,不需要象随机共振数值仿真所要求的那样对信号过采样,在满足采样定理的条件下,可以取较小的采样频率,降低了对硬件的要求。实验表明,该方法能有效地从强背景噪声中检测出微弱周期信号,在机械系统故障早期检测、化学谱信号提取、多传感器测量等领域有实际应用价值。 相似文献
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根据模拟电路故障检测的发展史,笔者总结了近年来模拟电路的发展趋势。本文根据模拟电路故障检测与诊断的研究现状,分析了五种模拟电路检测与诊断理论及方法。 相似文献
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模拟/数字混合信号电路技术发展动态 总被引:1,自引:0,他引:1
叙述了国内外模拟和数字混合信号电路发展现状,重点讨论了国内外高性能模拟、射频电路、DSP、A/D转换器和SOC等器件研发和应用的一些情况,指出了这些器件在数模混合信号电路技术发展进程中的作用. 相似文献
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要使现有的模拟电路故障诊断算法适用于大规模电网络,必须将大规模网络分解成互不耦合的小规模网络。文献[1]给出了一种快速定位算法(算法Ⅰ),但未考虑容差。本文从解决模拟电路故障诊断中最棘手的问题——容差、在线计算量和离线计算量的目的出发,将故障预测技术、替代理论和迭加定理运用到支路撕裂法中,从而得到一个新的大规模模拟电路的快速故障定位算法(算法Ⅱ),同时对算法Ⅰ、Ⅱ进行了FORTRAN编程实现。研究结果证明,算法Ⅰ、Ⅱ适用于小、大规模网络的单、多故障诊断。当网络被连续监测时,算法Ⅱ的稳健性、计算量和存贮器要求均较算法Ⅰ有较大改进。文中举了一个有源电路的实例,验证了上述论断的有效性。 相似文献
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Jack Weimer 《中国集成电路》2010,19(8):64-66
1介绍
多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。 相似文献
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近年来出现了很多新的半导体产品,如可以用于无线通信、过程控制以及实时控制系统的所谓嵌入式半导体器件就是其中一种,它将模拟和数字电路结合到一个器件内,这种技术又称为混合信号技术。数字电路和模拟电路坐在同一块芯片上对产品的“无缺陷”提出了挑战。对于数字部分,可以向电路施加一个给定的输入激励信号会得到一个离散且确定可知的响应信号。其测试稳定性可以通过SHM00 PLOT来找到最佳的窗口;而模拟信号则不同,给定输入产生的响应会在一个可接受范围内。这需要测试机能对模拟信号进行处理,得到所谓测试值,与给定的范围进行比较从而确定芯片的好坏。其测试稳定性的考虑就与数字测试有所不同。本文从一个实例得出一个评判混合信号测试模拟参数稳定性的通用方法。 相似文献
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模拟电路故障诊断方法综述 总被引:1,自引:0,他引:1
阐述了模拟电路故障诊断的意义,分析了现阶段模拟电路故障诊断的一些常用理论和方法,总结了这些方法的基本原理、特点及发展现状。提出了在模拟电路故障诊断研究中存在的问题,指出了其发展趋势。 相似文献