加速度传感器信号处理集成电路的研制

设计并制作了一种用于差分电容式加速度传感器的信号处理电路.该电路具有模拟和脉宽调制两种输出方式,能够将差分电容的变化通过模拟电平和输出脉冲信号的占空比表征,实现了对差分电容式加速度传感器信号的测量.电路中集成了自检测驱动单元.电路采用4 μm P阱CMOS工艺制作.初步测试结果表明:在1～5 pF内,电路的灵敏度为10.7 V/pF,可满足大多数差分电容式传感器信号处理的要求.     

加速度传感器信号处理集成电路的研制

设计并制作了一种用于差分电容式加速度传感器的信号处理电路。该电路具有模拟和脉宽调制两种输出方式 ,能够将差分电容的变化通过模拟电平和输出脉冲信号的占空比表征 ,实现了对差分电容式加速度传感器信号的测量。电路中集成了自检测驱动单元。电路采用 4 μmP阱CMOS工艺制作。初步测试结果表明 :在 1～ 5 pF内 ,电路的灵敏度为 10 .7V/ pF ,可满足大多数差分电容式传感器信号处理的要求。     

加速度传感器集成电路ADXL05及其应用

美国ＡＤ公司的单片加速度传感器集成电路ＡＤＸＬ０５，可通过调整外接电阻、电容来设置传感器的满量程范围及频率响应特性，特别适合于要求传感器小、巧、廉的应用场合，本文对其特点及应用作了详细的介绍。     

加速度传感器信号处理算法

随着智能设备的进一步普及和发展,人机交互系统成为研究者关注的重点.本文针对加速度传感器自身的应用特点,设计了一套动作识别系统,利用低维数据实现对人体上肢动作的识别.并通过实验验证了系统自身的识别率.引入互相关矩阵消除数据间的相关性,实现周期信号的正确分割.     

加速度传感器QMA5981

加速度传感器QMA5981产品具有小尺寸、低功耗、高精度的优异特点,并内置智能体感算法,更适用于智能可穿戴领域。矽睿科技和华虹宏力共同创导的中国创造与中国制造逐渐显现其技术和资本优势,满足客户对于低成本和高性能MEMS传感器日益增长的需求。     

电容式压力传感器微电容测量集成电路的研究

采用开关电容技术的Boxcar积分原理设计的,为测量电容式压力传感器微电容的接口电路已提出,它由Boxcar积分器,锁存器,脉冲宽度调制器和控制信号电路组成。 这个接口电路,采用3μmP-阱CMOS双层多晶硅栅工艺研制,管芯面积为2.5×3.5mm~2。测试结果表明,接口电路具有较好的灵敏度,它完全适用于与硅集成电容式压力传感器集成在同一芯片上。     

高精度差动式电容传感器信号处理电路的研究

介绍了一种具有高精度的差动式电容传感顺的信号处理电路,该电路是基于张弛振荡器的,由积分器、微分器和比较器组成,最后对该接口电路的性能进行了分析。     

智能车磁导航中的信号调理电路设计

以检测线圈作为磁导航智能车的赛道检测传感器,估算出检测线圈输出的感应电动势约为毫伏级,而智能车控制电路要求的信号是0-5 V的直流电压.以此为出发点,以宽带集成放大器MAX4451为核心,设计了可在单电源条件下工作、具有放大和正半周包络检波功能的信号调理电路,通过降低电路的直流偏置电压增大电路的输出摆幅.对于多个竖直放置的检测线圈及信号调理电路.通过比较输出电压的相对最大值作为判断赛道位置的依据,而不受赛道激磁频率、激磁电流变化的影响.     

应变测试信号处理电路设计

电阻应变式传感器应用十分广泛。利用电阻应变式传感器作为转换器件进行力的测试是一种常用的测力方法,但是由应变传感器直接输出的信号很微弱,需进行信号调理才能进行数字化处理。本文通过对应变传感器输出信号的分析,设计了一种高精度应变测试放大滤波电路作为微弱应变信号的前置处理电路。电路以高精度仪表放大器AD620与高精度运放OP07作为核心器件。经过实验证明其效果良好,线性失真很低,满足工程运用的要求。     

Superconductor integrated circuit fabrication technology

Today's superconductor integrated circuit processes are capable of fabricating large digital logic chips with more than 10 K gates/cm/sup 2/. Recent advances in process technology have come from a variety of industrial foundries and university research efforts. These advances in processing have reduced critical current spreads and increased circuit speed, density, and yield. On-chip clock speeds of 60 GHz for complex digital logic and 750 GHz for a static divider (toggle flip-flop) have been demonstrated. Large digital logic circuits, with Josephson junction counts greater than 60 k, have also been fabricated using advanced foundry processes. Circuit yield is limited by defect density, not by parameter spreads. The present level of integration is limited largely by wiring and interconnect density and not by junction density. The addition of more wiring layers is key to the future development of this technology. We describe the process technologies and fabrication methodologies for digital superconductor integrated circuits and discuss the key developments required for the next generation of 100-GHz logic circuits.     

某引信信号处理电路测试仪的设计与实现

以某引信信号处理电路测试仪的设计为背景,考虑到各种测试任务的共性与特点,提出了软硬件相结合的通用化、模块化的设计方法;对该测试系统的总体设计、硬件配置、硬件原理、软件模块化设计、软件流程进行了详细的描述;经过后期的测试证明,该测试系统通用性能好,操作简单易懂,对其他测试系统的设计与发展以及提高武器系统的可维护性和可靠性有重要的意义。     

增量式光电编码器信号处理电路的设计与实现

实践中经常会遇到将光电编码器的输出信号经一系列处理转化成电压信号的情况。因此,以2RHIB型光电编码器为例,设计了一种集编码器信号接收、光电隔离、鉴相、频率电压转化和电压调整输出功能于一体的综合性电路,并对电路各组成部分作了较为详细的分析和阐述。实践证明,该电路通用性强、操作简单、性能可靠、实用性强。     

Monitoring multistage integrated circuit fabrication processes

This paper presents a process monitoring system, which is designed to be used for monitoring VLSIC and other multistage manufacturing processes. The proposed process monitor can 1) simultaneously detect a variety of out-of-control conditions, 2) quantify the magnitude of process change, and 3) be used to compute the probability of meeting specifications. Average run length simulations show that for a single-stage process, the monitor is at least as good as the Shewhart-CUSUM charts for detecting changes in the distribution of the monitored characteristics. For a multistage process, however, the Bayesian monitor can significantly reduce the detection time by using in-line correlation information from earlier stages. The monitor has been applied to data from a state-of-the-art fabrication facility, and the results are promising     

`Smart integrated circuit processing

The authors describe the Berkeley intelligent processing system (BIPS), part of an effort to integrate expert system technology into IC manufacturing. The current effort of BIPS is to automate the furnace and low-pressure chemical vapor deposition (LPCVD) processing fully. Four different modules that compose BIPS (the process recipe generation module, the editor, compiler, and translator module, the monitor and diagnostic module, and the communication module) have been developed, and the results obtained using each module are discussed. Process results predicted by BIPS are in reasonable agreement with experimental results     

一种CCD相机的视频处理电路设计与噪声分析

为使CCD相机系统能够捕获到高信噪比的图像,介绍了一种视频处理器TDA9965的应用电路设计,简述了其内部组成框图及工作原理。利用某型号TDI CCD作为系统传感器,成功实现了对CCD输出模拟视频信号的量化处理,能够使相机系统完成实时采集图像等任务。同时分析了视频处理器电路设计对相机系统图像信噪比的影响,以电源噪声为干扰源,具体计算了在电路设计不合理和改进设计后两种情况下,CCD相机图像信噪比的变化,并通过试验测试验证,合理的电路设计可以使图像的信噪比提高20 dB以上,从而说明了视频处理电路合理设计的重要性,为高速高信噪比CCD相机的研制提供了技术基础。