用于电源测试的精确压控电流阱

为了检测潜在的电源缺陷,必须进行动态和静态测试。这里的简单电流阱可测试低到中功率电源和恒压源。在该应用中,在输入电压范围为0V～5V,电源电压最高为20V时,电流阱可吸收0A～1.5A的电流。该电路的基本部件为一个精密运放IC1,采用Texas Instruments的OPA277。该器件特点为：最大输入偏置电压仅为100μV,最大输入偏置电流为4nA,在-40℃-＋85℃温度范围内温漂较低（图1）。运放IC将其正输入电压与检测电阻RSENSE上的电压进行比较。     

轻松完成通电顺序测试的电路

单片系统（SoC）一般需要为核心准备一个电源．为I／O准备另一个电源。为了恰当地给器件加电,您经常需要某个电源先于另一个电源加电。借助图1所示电路,您可以测试SoC的通电顺序。两个TPS75501线性稳压器IC3和IC4产生两个电源。TPS75501可调稳压器从6V最大输入提供1．22V～5V输出电压。该电路使用5V作为输入源．并且最多能供应5A电流。SoC需要3．3V和1．5V。以下方程描述了电压设置方式。对于IC3,     

大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现

为了满足大功率集成电路的测试需求,文中给出了具有大功率负载驱动能力的电压电流源和高精度集成电路测试系统的设计方法。该测试系统采用四象限驱动和钳位技术、电流扩展技术、恒流源和恒压源设计技术,故能提供精确且宽范围的激励值,同时具有对大功率负载进行驱动的能力,并可以灵活地对被测器件施加电压或电流激励,以对被测器件进行测量。     

模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元

模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能：一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI（加电压测电流）功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV（加电流测电压）功能。     

用实验室电源产生简单的高电流源

当电子测试需要可调电流源时,人们通常必须在实验室构建这种测试仪器。人们可以从标准的力觉实验室电源轻松制作这类电流源（图1）。该电路需要一个为IC供电的额外电源以及一个单独的控制电压。送往力觉电源的反馈信号来自Maxim公司的MAX4172高压侧电流监视器。在图1所示的构造中,     

使用自举积分电路的精密电流源设计

如图1所示的普通电流源的精确度不低于1%,而且对温度不太敏感(温度系数低于5×10-5/℃ )。该电路有较高的输出阻抗和较宽的电压允许范围(4.3～34V）。它采用电压参考集成电路IC1及电阻R1来产生一个稳定的电流源,并符合表达式ISOURCE=VREF/R1+IC1的对地电流。IC1的精确度扩展到5.5V供电电压极限之外(CMOS）。这归功于采用由IC2、R2及C2组成的自举积分电路,它能保持IC1的输入在允许范围之内,因而一个符合IC2的宽供电范围的精密电流源产生了。IC2是为了保持IC1的输入在允许范围(<5.5V)内的旁路器件,由于IC2的自举,这个电…     

利用可变负载测试电压源

图1所示电路可用作测试电压源的可变的电流吸收器负载。我们可以用数字命令在一个大范围内设定被测试器件的负载电流,而与被测器件的输出电压无关。本电路包括一个AD558数模转换器(DAC)IC_1,它在A点提供一个基准电压。几乎任何类型的DAC都能在本电路中很好地进行工作。AD558是一个具有内部基准电压的单     

保护输出过压的电路

在测试与测量应用中,必须为放大器、电源以及类似部件的输出端提供过压保护。实现这一任务的传统方式是在输出节点中增加串联电阻,并在电源线路或其它阈值电压上增加箝位二极管（参考文献1与图1）。这个电阻大大减小了电流输出的能力,以及低阻负载的输出电压摆幅。另外一种方案是用保险丝或其它限流器件,它优于这些箝位电路的高吸能能力。     

压电器件阻抗测试系统的研制

基于压电器件的等效电路模型,利用导纳圆理论图测量压电器件阻抗特性参数及过零检测相位差测量原理,构建了一套完整的压电器件性能参数阻抗测试系统。通过单片机控制信号产生幅值固定、频率可变的正弦信号,经功率放大后驱动压电器件产生超声高频振动,并采集压电器件两端的电压、电流及相位差信号,通过串口传给上位机。上位机采用基于Labview人机交互界面,实现压电器件阻抗特性参数计算和图形显示。实验结果表明,本测试系统能测量压电器件各主要相关参数,并动态显示阻抗特性曲线,可用于压电器件的参数测试与性能评估。     

压电器件阻抗测试系统的研制

基于压电器件的等效电路模型,利用导纳圆理论图测量压电器件阻抗特性参数及过零检测相位差测量原理,构建了一套完整的压电器件性能参数阻抗测试系统。通过单片机控制信号产生幅值固定、频率可变的正弦信号,经功率放大后驱动压电器件产生超声高频振动,并采集压电器件两端的电压、电流及相位差信号,通过串口传给上位机。上位机采用基于Labview人机交互界面,实现压电器件阻抗特性参数计算和图形显示。实验结果表明,本测试系统能测量压电器件各主要相关参数,并动态显示阻抗特性曲线,可用于压电器件的参数测试与性能评估。