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X射线照射对固体介质中气隙放电的作用是提供放电需要的有效电子,减小放电的统计时延,表现形式为:介质中气隙放电的起始电降低;使介质中气隙放电增强,即增加局部放电的次数、幅值和分布范围。本文阐述了X射线照射对固体介质内气隙放电的影响,认为这一特征有助于局部放电的检测。 相似文献
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X射线具有较大的能量,能使电介质发生电离,进而可以影响局部放电的发生与发展过程。首先介绍X射线激励固体绝缘内部气隙、油纸绝缘内部气隙和油隙等典型缺陷局部放电的宏观现象,综述X射线能够为绝缘体中的气隙放电提供给初始电子,减小放电统计时延,降低局部放电起始电压的机理。其次,阐述近年来X射线激励下GIS绝缘子中气隙缺陷、环氧树脂浸渍绝缘中气隙缺陷和油纸绝缘系统等绝缘结构中的局部放电现象和特性。最后,总结现有X射线激励下局部放电检测技术的应用场景,给出该技术的发展和应用前景。 相似文献
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局部放电测量与绝缘劣化、破坏的关系,在近来的许多文献上引起了广泛注意。本文着重指出此种诊断应用于固体绝缘系统的固有局限性.讨论是以简单的试验和固体绝缘内部放电的物理现象为基础的。固体绝缘系统中的气隙内的放电,长期来是与其绝缘的逐渐劣化和介质破坏相关连的。气隙放电与劣化之间的关系已为旋转电机、电力电缆、干式变压器以及许多其它固体绝缘介质系统所确定.因此,气隙放电及绝缘劣化之间的关系,目前已很好地确立了。气隙能够在广大 相似文献
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为获取12k V固体绝缘开关柜内部绝缘材料中气隙放电特征,搭建12k V固体绝缘开关柜内部绝缘材料气隙缺陷放电试验平台,测量气隙放电在不同电压幅值、不同气隙直径以及不同谐波频率下的局部放电信号。提取并分析气隙缺陷在不同电压幅值下局部放电三维特征图谱,比较不同频率下气隙缺陷放电在正、负半周期内的局部放电差异。研究结果表明,固体绝缘开关柜内部绝缘材料在有气隙缺陷情况下,不同的电压幅值会影响放电量大小与放电次数;谐波频率越高,每周期的放电次数越多,但正、负半周的单次最大放电总量维持在一定的水平,不会出现较大的波动;绝缘介质的气隙直径越大,放电次数越少,每次放电的放电量越大,危害越严重。据此获得的不同试验条件下的n-φ-q三维图,可用于固体绝缘开关柜气隙缺陷放电的模式识别,也有助于对固体绝缘开关柜内部绝缘材料缺陷放电提供理论指导。 相似文献
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